• Back-n白光中子源上共振区中子照相方法的研究

    Back-n白光中子源上共振区中子照相方法的研究

    论文摘要随着国内科技产业进步,在工业、科技考古及国防方面提出了越来越多的无损检测需求。这些需求不仅体现在对材料本身成分的识别,还体现在对这些组成成分在器件中分布的了解,这是以往...