• 基于BP神经网络的IGBT模块开关损耗求解

    基于BP神经网络的IGBT模块开关损耗求解

    论文摘要如何准确求解绝缘栅双极晶体管(IGBT)模块的开关损耗值,是电力变换器性能和寿命研究中的关键问题之一。针对现有IGBT开关损耗模型难以准确求解开关损耗值的缺陷,引入了基...