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  • 相控阵双全法改善缺陷表征

    相控阵双全法改善缺陷表征

    论文摘要与常规技术相比,相控阵超声检测(PAUT)优势凸现:速度快,可靠性好,灵敏度高,分辨力优。应对复杂检测,PAUT总是首选技术。随着计算功效强化,新一代超声设备管控大数据...