界面组织演化论文

Be/CuCrZr高温热等静压扩散连接接头组织演化及断裂机理
论文摘要利用电子探针微区分析术（EPMA）研究了以50μmTi箔为中间层的Be/CuCrZr高温（780～850℃）,不同时间（0.5～2h）热等静压扩散连接接头组织演化过程及...