ICP-OES测定镍钴锰氢氧化物中硅含量

论文摘要

采用电感耦合等离子体原子发射光谱仪（ICP-OES）测定镍钴锰三元氢氧化物中硅元素的含量。研究了锰对镍钴锰氢氧化物中硅测试的干扰,发现在最灵敏波长251. 611 nm下,硅的检测值随着溶液中锰含量的增加而增加,而在次灵敏波长212. 412 nm下检测,硅的检测值不随溶液中锰含量的变化而变化。该方法检出限为0. 014 mg/L,相对标准偏差为0. 749%,加标回收率为95%～105%之间。因此,镍钴锰氢氧化物中硅测试应使用次灵敏波长212. 412 nm。

论文目录

• 1 实验
•   1.1 仪器及工作参数
•   1.2 试剂
•   1.3 样品测定
•     1.3.1 Mn溶液的配制
•     1.3.2 样品溶液的配制
•   1.4 标准工作曲线
• 2 结果与讨论
•   2.1 溶液酸度的控制
•   2.2 分析波长的选择
•   2.3 检出限与精密度
•   2.4 加标回收
•   2.5 不含Mn元素的样品验证
• 3 结论

文章来源

类型: 期刊论文

作者: 周兆海,李沃颖

关键词: 镍钴锰氢氧化物,硅含量

来源: 广州化工 2019年14期

年度: 2019

分类: 工程科技Ⅰ辑,工程科技Ⅱ辑

专业: 化学,材料科学,电力工业

单位: 江门市芳源新能源材料有限公司

分类号: O657.31;TM912;TB33

页码: 128-130

总页数: 3

文件大小: 1542K

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