B+→D±π+衰变过程中的直接CP破缺

论文摘要

利用朴素因子化方法,对衰变过程B+→D±π+的CP（Charge-Parity）破缺现象进行了研究。研究表明,这两个过程的CP破缺有很强的关联。首先利用B+→D+π+过程CP破缺的实验值抽取出强相位角δ1=195.95°±5.15°,δ2=344.35°±5.15°,然后利用抽取的强相位角预言B+→D-π+过程的CP破缺为0.0082±0.0026和0.007 9±0.0026。

论文目录

• 0 引 言
• 1 B+→D+π+衰变过程中的振幅计算
•   1.1 有效哈密顿量
•   1.2 衰变振幅及CP破缺
• 2 数值结果
• 3 结 论

文章来源

类型: 期刊论文

作者: 王俊杰,张振华

关键词: 因子化,破缺,强相角,预言值

来源: 南华大学学报(自然科学版) 2019年06期

年度: 2019

分类: 工程科技Ⅱ辑,基础科学

专业: 物理学

单位: 南华大学核科学技术学院

基金: 国家自然科学基金项目(11705081),南华大学2019年研究生科研创新项目(193YXC020)

分类号: O572.33

DOI: 10.19431/j.cnki.1673-0062.2019.06.011

页码: 60-63

总页数: 4

文件大小: 386K

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