银纳米线透明导电薄膜的失效机理研究

论文摘要

银纳米线透明导电薄膜材料作为新兴的无铟电极材料,以其优越的光电性能和力学柔韧性,在显示器件、触控面板、太阳能电池、智能加热和电磁屏蔽等领域崭露头角,吸引越来越多的来自科研界及产业界的关注。然而,银纳米线透明导电薄膜在应用中面临着较为严重的稳定性问题,主要表现为容易被痕量含硫气体腐蚀,在300℃以上的温度下纳米线出现断裂和球形化等结构失稳现象,在紫外光照条件下腐蚀及球形化加剧,在加载电场条件下出现离子迁移并产生孔洞及断裂现象。本文详细介绍了以上各种失效现象,分析了失效的微观机制,介绍了解决各种失效现象的具体措施。银纳米线透明导电薄膜失效行为的研究,有助于进一步推动该材料的实际应用进程。

论文目录

• 1 银纳米线的失效形式及其原理
•   1.1 银纳米线的表面腐蚀
•   1.2 银纳米线的热失效
•   1.3 银纳米线的焦耳热失效
•   1.4 银纳米线的光降解
•   1.5 银纳米线的电迁移
• 2 解决措施
•   2.1 抗腐蚀稳定性
•   2.2 热稳定性
•   2.3 电迁移稳定性
• 3 总结与展望

文章来源

类型: 期刊论文

作者: 叶长辉,顾瑜佳,王贵欣,毕丽丽

关键词: 银纳米线,透明导电薄膜,失效机理,电迁移,硫化,综述

来源: 无机材料学报 2019年12期

年度: 2019

分类: 工程科技Ⅰ辑,工程科技Ⅱ辑

专业: 材料科学,工业通用技术及设备

单位: 浙江工业大学材料科学与工程学院

基金: 国家自然科学基金(51771187)~~

分类号: TB383.2

页码: 1257-1264

总页数: 8

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