X射线荧光光谱法测定合金中钨的含量

论文摘要

采用X射线荧光光谱法测定了多种含钨合金钢以及含钨较高的镍基和钴基合金中钨的含量。方法中选择钨的Lβ1线为分析线,并选择2θ角在39.50°处作为背景位置。在合金中钽的Lβ2线对钨分析线有重叠干扰,选两套标准样品用基本参数法(FP)测出了干扰系数k,将k值列入仪器的FP工作软件中来消除钽对钨测定的重叠干扰。用所提出的方法分析了钨质量分数在0.054%～11.71%内的5个标准样品,测定值与认定值相符,测定值的相对标准偏差(n=7)在0.55%～9.5%之间。

论文目录

• 1 试验部分
•   1.1 仪器与试剂
•   1.2 仪器工作条件
•   1.3 试验方法
• 2 结果与讨论
•   2.1 钨分析谱线的选择
•   2.2 背景位置的选择
•   2.3 重叠干扰系数的测定
•   2.4 方法的准确度和精密度
•   2.5 钨元素的测定上下限

文章来源

类型: 期刊论文

作者: 杨静,曹阳,蕫娇,王跃明

关键词: 射线荧光光谱法,合金,基本参数法

来源: 理化检验(化学分册) 2019年06期

年度: 2019

分类: 工程科技Ⅰ辑

专业: 金属学及金属工艺

单位: 沈阳黎明发动机公司理化室,辽宁忠旺集团有限公司,沈阳产品质量监督检验院

分类号: TG115.33

页码: 683-686

总页数: 4

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