JY Ultima2 ICP-OES光谱仪测定Ta-2.5W和Ta-10W中钨元素的分析方法研究

论文摘要

采用发射光谱仪建立发射光谱法测定Ta-2.5W和Ta-10W中钨含量的方法。使用高纯氢氧化钽基体的纯钨标准溶液制作工作曲线,钨的分析线为209.475 nm,方法的线性范围为1.25%～15.00%,加标回收率在93.0%～99.0%之间,测定结果的RSD值（n=11）小于0.8%。

论文目录

• 1 试验
•   1.1 主要仪器及工作参数
•   1.2 试剂与材料
•   1.3 试验方法
• 2 结果与讨论
•   2.1 分析线的选择
•   2.2 精密度实验
•   2.3 加标回收实验
•   2.4 检出限及测定下限
• 3 结语

文章来源

类型: 期刊论文

作者: 郝文婷

关键词: 发射光谱法,钽钨合金

来源: 材料开发与应用 2019年03期

年度: 2019

分类: 工程科技Ⅰ辑

专业: 化学,金属学及金属工艺

单位: 宁夏东方钽业股份有限公司,西北稀有金属材料研究院宁夏有限公司,国家钽铌特种材料工程技术研究中心

分类号: O657.3;TG115

DOI: 10.19515/j.cnki.1003-1545.2019.03.006

页码: 38-40

总页数: 3

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