单晶硅光伏组件性能衰减分析

论文摘要

光伏组件长期可靠性运行是大规模商业应用的前提。为确保光伏组件寿命超过25年,分析光伏组件性能衰减的机制显得至关重要。以长沙市户外使用9年的40 kW单晶硅光伏组件为对象,对其全过程的性能数据进行分析,进行外观检查、红外热成像测试和电性能评估。统计外观缺陷并分类,分析组件电性能参数衰减、变化情况;尝试把外观缺陷与电性能衰减对应关联起来。发现玻璃侵蚀、背板黄变、电池栅线和抗反射层氧化等频繁出现的外观缺陷可导致性能衰减,九年间总功率衰减7.8%。

论文目录

• 1 实验
•   1.1 光伏阵列
•   1.2 实验平台的运行环境
•   1.3 红外热成像
•   1.4 电学性能测试
• 2 结果与讨论
•   2.1 外观缺陷
•     2.1.1 玻璃面板的侵蚀
•     2.1.2 背板黄变
•     2.1.3 正面栅线和抗反射层的氧化
•     2.1.4 热斑
•     2.1.5 电池片开裂
•   2.2 红外热成像分析
•   2.3 电性能分析
•   2.4 外观缺陷和性能衰减之间的联系
• 3 结论

文章来源

类型: 期刊论文

作者: 黄岳文,曹华翔,刘帅,范蛟,杨摇

关键词: 单晶硅,光伏组件,功率衰减,户外运行,可靠性

来源: 电源技术 2019年04期

年度: 2019

分类: 工程科技Ⅱ辑

专业: 电力工业

单位: 湖南红太阳新能源科技有限公司,中国电子科技集团公司第四十八研究所

分类号: TM914.4

页码: 641-645

总页数: 5

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