使用三维震动高能球磨机对选矿后的锰方硼石粉末进行球磨,球磨时间设定为30、40及50 min,采用透射电子显微镜(transmission electron microscope,TEM)、扫描电子显微镜(scanning electron microscope,SEM)以及X射线衍射仪(X-ray diffraction,XRD)对球磨后锰方硼石粉末的形貌和结构进行表征,利用Scherrer公式计算样品半高宽和晶粒尺寸,并讨论球磨时间对锰方硼石发光特性的影响。结果表明,锰方硼石经30、40、50 min高能球磨后,样品粒径分别达到0.37、0.29、0.28μm;随球磨时间增加,锰方硼石衍射峰明显宽化,(202)、(114)、(404)晶面的衍射峰强度明显降低,晶面为不完全解理面;锰方硼石样品发光强度随球磨时间增加明显降低。
类型: 期刊论文
作者: 叶原丰,梁栋
关键词: 锰方硼石,高能球磨,显微结构,发光特性
来源: 粉末冶金技术 2019年06期
年度: 2019
分类: 工程科技Ⅰ辑
专业: 矿业工程
单位: 金陵科技学院材料工程学院,南京市视光材料与技术重点实验室
基金: 金陵科技学院高层次人才启动基金资助项目(jit-b-201824)
分类号: TD97;TD921.4
DOI: 10.19591/j.cnki.cn11-1974/tf.2019.06.008
页码: 451-455
总页数: 5
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本文来源: https://www.lunwen90.cn/article/774f466334a5dd980b1103a8.html