基于高灵敏测量的GIS绝缘子表面微金属颗粒局部放电特性

论文摘要

近年来GIS绝缘子沿面闪络故障频发,闪络诱因通常认为是绝缘子表面微金属颗粒,但实际运行电压下GIS绝缘子表面不同长度亚毫米/毫米级微金属颗粒的局部放电量水平一直不被掌握。文中基于脉冲电流互参考法,建立了局放识别能力达0.02pC的高灵敏GIS脉冲电流局部放电测量系统,在接近实际运行电压水平下,获得了126k VGIS绝缘子表面0.5、2、5、8、10mm微金属颗粒的局部放电量和放电特征,发现绝缘子表面单个5mm以下金属颗粒的局部放电量低于1p C,特高频法很难检测到,揭示了GIS绝缘子表面亚毫米/毫米级微金属颗粒长度、位置对局部放电特性的影响规律,颗粒长度越短,所处位置绝缘子表面场强越低,放电量越低,证明了现行局放出厂试验标准和特高频方法对GIS绝缘子表面微金属颗粒检测存在的不足。

论文目录

• 0引言
• 1 实验平台及方法
•   1.1 实验平台
•   1.2 实验方法
• 2 实验结果
•   2.1 不同长度微金属颗粒的局部放电量
•   2.2 不同位置微金属颗粒的局部放电量
•   2.3 微金属颗粒的特高频局放偶发特征
• 3 实验分析
• 4 结论

文章来源

类型: 期刊论文

作者: 许渊,刘卫东,陈维江,杨景刚,赵科,刘媛

关键词: 脉冲电流法,特高频法,绝缘子表面,微金属颗粒,局部放电

来源: 高电压技术 2019年09期

年度: 2019

分类: 工程科技Ⅱ辑

专业: 电力工业

单位: 华北电力大学电气与电子工程学院,中国电力科学研究院有限公司,清华大学电机工程与应用电子技术系,国家电网有限公司,国网江苏省电力有限公司电力科学研究院

基金: 国家重点研发计划(2017YFB0903800),国家电网公司科技项目(5442GY180033)~~

分类号: TM216;TM855

DOI: 10.13336/j.1003-6520.hve.20190831003

页码: 2707-2714

总页数: 8

文件大小: 2804K

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