X荧光熔片法在混和铜精矿多元素快速分析中的应用

论文摘要

提出采用X荧光熔片法处理混和矿样品,并以一批混和矿样品为标样建立混和矿多元素分析曲线,通过对该工作曲线进行分析测定,取得了较满意的效果,该方法不仅操作简便,而且降低了分析成本,值得广泛推广。

论文目录

• 1 X荧光熔片法的优点
• 2 实验部分
•   2.1 仪器及设备
•   2.2 药品
•   2.3 测量条件
•   2.4 样品制备
• 3 结果与讨论
•   3.1 标样的选择
•   3.2 干扰的排除
•   3.3 工作曲线
•   3.4 精密度试验
•   3.5 准确度试验
• 4 结语

文章来源

类型: 期刊论文

作者: 魏秋实,孙清,高科理

关键词: 射线荧光分析,熔片法,混和矿

来源: 中国高新科技 2019年08期

年度: 2019

分类: 工程科技Ⅱ辑,基础科学,工程科技Ⅰ辑

专业: 地质学,化学

单位: 凉山矿业股份有限公司

分类号: O657.34;P575

DOI: 10.13535/j.cnki.10-1507/n.2019.08.17

页码: 54-56

总页数: 3

文件大小: 1457K

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