用于光谱仪消像差的施密特校正板设计

论文摘要

基于施密特系统的基本原理,设计了一种用于光谱仪消像差的施密特校正板,得到了该校正板的面形方程和面形图。利用ZEMAX软件模拟和分析了加入施密特校正板前后光谱仪系统的成像特性。结果表明:波长为350,550,700nm时,原始光谱仪像面点斑的均方根(RMS)半径分别为515.843,563.074,885.820μm,而带有施密特校正板光谱仪像面点斑的RMS半径分别为287.441,252.774,511.816μm。施密特校正板使点斑尺寸在波长为350,550,700nm时,分别缩小了44.28%、55.11%、42.23%。所提出的施密特校正板设计方法为改善光谱仪的分辨率提供了技术参考。

论文目录

• 1 引言
• 2 施密特校正板的设计
• 3 施密特校正板消像差的ZEMAX模拟
• 4 结论

文章来源

类型: 期刊论文

作者: 王岩,付璐,陈平,刘希芸,刘伟伟,林列

关键词: 仪器,施密特校正板,像差,光谱仪

来源: 光学学报 2019年05期

年度: 2019

分类: 基础科学,工程科技Ⅱ辑

专业: 仪器仪表工业

单位: 南开大学电子信息与光学工程学院现代光学研究所

基金: 天津市科技支撑重点项目(15ZCZDGX00250,08ZCKFGX09400),发光学及应用国家重点实验室开放基金

分类号: TH744.1

页码: 206-211

总页数: 6

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