基于断路器弧触头全寿命周期的动态电阻测量试验

论文摘要

高压SF6断路器触头状态是影响灭弧室电寿命最重要的因素。为研究动态电阻测量在SF6断路器电寿命诊断中的应用,对两台额定电压分别为40.5 kV与126 kV的试品SF6断路器进行了电烧蚀试验,并得到不同直流测试电流和触头烧蚀状态下的动态电阻曲线。试验结果表明:主触头电阻与弧触头电阻正常值范围分别为50～150μΩ与200～400μΩ,弧触头接触行程随烧蚀试验次数线性减小。基于以上结果,研究了直流测试电流对动态电阻的影响,表明1 000 A及以上的测试电流可以得到较为精确的动态电阻曲线;分析弧触头接触行程对灭弧室性能的影响,提出弧触头接触行程是影响灭弧室电寿命最重要的因素,并基于触头接触电阻与接触行程参数得出断路器电寿命诊断方法。

论文目录

• 1 研究背景
• 2 试验布置
•   2.1 试验回路
•   2.2 被试断路器
•   2.3 试验方法
• 3 试验结果及分析
•   3.1 动态电阻-行程曲线
•   3.2 接触电阻与接触行程变化
•   3.3 DRM测试电流对动态电阻影响
•   3.4 触头状态诊断方法
• 4 结论

文章来源

类型: 期刊论文

作者: 陈功,程壮,段涛

关键词: 弧触头,动态电阻,电烧蚀,接触电阻,接触行程,测试电流

来源: 水利水电快报 2019年12期

年度: 2019

分类: 工程科技Ⅱ辑

专业: 电力工业

单位: 长江勘测规划设计研究有限责任公司

分类号: TM561

DOI: 10.15974/j.cnki.slsdkb.2019.12.013

页码: 62-68

总页数: 7

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