导读:本文包含了二次曝光全息干涉论文开题报告文献综述、选题提纲参考文献及外文文献翻译，主要关键词:全息,傅立叶,光学,相移,条纹,干涉仪,力场。
二次曝光全息干涉论文文献综述
吴学科,吴次南,宋洪庆,王新锋[1]（2007）在《对物体沿散斑片纵向移动二次曝光全息干涉条纹的诠释》一文中研究指出从光学几何关系出发,推导了在平行光照明、物体沿散斑片纵向方向微小移动情况下的一种全息干涉条纹的解释方法.该方法可以根据任一瞬间的条纹间距测量物体的位移,并适用于实时全息监测的定量分析,对全息干涉计量术提供有效的条纹解释方法和物体位移的计算方法.(本文来源于《物理实验》期刊2007年07期）
王健,高文斌[2]（2006）在《二次曝光全息干涉计量技术研究应力场》一文中研究指出该文回顾了全息技术的发展历史,阐述全息技术的现行状况和相关的发展。从两个方面论述二次曝光全息技术研究应力场实验所需要的理论基础,第一个方面是论述全息照相技术的理论基础,第二个方面是论述了全息干涉计量学的相关理论,重点阐述二次曝光全息计量和漫射体全息干涉计量的基本理论。该论文用二次曝光全息干涉技术研究漫射体受力所产生的应力场,即将物体受力前后的两次全息信息记录在全息干板上,干板上形成漫射体的干涉条纹图,通过分析干涉条纹可以知道漫射体应力场的分布情况。(本文来源于《杭州电子科技大学学报》期刊2006年04期）
王玉荣,王青圃,徐鹏,刘泽金[3]（2005）在《用两次曝光相移全息干涉实现光学幅相转换》一文中研究指出提出一种实现光学图像由纯振幅型转换为相应的钝相位型的新方法。该方法基于2次曝光光折变相移全息干涉,在光学4f系统中,用振幅型空间光调制器(SLM)输入振幅(或强度)图像,用光折变晶体作为全息记录介质,经过2次曝光相移全息干涉记录,再由原参考光再现读出,可在输出面上得到与输入图像相应的空间相位分布。该方法可在光学信息处理相关领域应用。阐述了该方法的基本思想,进行了理论分析、计算机模拟和光学实验,实验结果与理论分析一致,表明该方法是可行的。(本文来源于《光电子·激光》期刊2005年07期）
张院生,陈玉和[4]（2004）在《浅析全息干涉中对透明物体的二次曝光法》一文中研究指出本文首先介绍了全息干涉的二次曝光法,然后分析了对透明物体进行二次曝光的几种典型实验光路。有助于进一步理解用二次曝光法进行全息干涉。(本文来源于《集宁师专学报》期刊2004年03期）
王玉荣,徐鹏,王建伟,王青圃,蔡履中[5]（2004）在《采用两次曝光相移全息干涉实现光学图象幅相转换》一文中研究指出本文提出一种实现光学图象幅相转换(由纯振幅型图象转换为相应的纯相位型图象)的新方法。在光学4-f系统中,用振幅型空间光调制器输入振幅(或强度)图象,经过两次曝光相移全息干涉记录,再由原参考光再现读出,可在输出面上得到与输入图象相应的空间相位分布。该方法可在光学信息处理相关领域(如光学图象加密、编码及相位复用存储等)得到应用。文中给出了该方法的基本思想、理论分析和计算机模拟结果。(本文来源于《大珩先生九十华诞文集暨中国光学学会2004年学术大会论文集》期刊2004-06-30）
安波[6]（2001）在《二次曝光数字全息干涉术的理论与应用研究》一文中研究指出随着现代计算机技术的迅速发展和图象获取设备的分辨率的不断提高，光学测量干涉条纹图象的数字处理技术特别是相位分析技术已成为光学干涉计量、计算机辅助光学测量中的重要技术。本文将相位分析技术中的傅立叶变换法(FTM)引入二次曝光全息干涉计量中，提出了二次曝光数字全息干涉术。 针对二次曝光数字全息干涉术中FTM存在的理论缺陷和具体应用到二次曝光全息干涉计量中存在的问题，本文从离散傅立叶变换的角度对传统的傅立叶变换法(TFTM)进行了理论分析和计算机模拟计算，并重点致力于解决FTM中的移频问题、载频大小的选择以及滤波窗口大小的选择等关键问题，结合二次曝光全息干涉的特点提出了改进的傅立叶变换法(MFTM)。 另外，本文还从实用的角度出发对二次曝光数字全息干涉术进行了实验及应用的研究，具体就是平面平晶Gradn和Gradh的测量以及液晶空间光调制器(LC-SLM)中液晶电视(LCTV)的相位特性的测量。在具体的实验测量中，本文提出了适合二次曝光数字全息干涉术的光学系统，而其它方法的测量结果对本文测量结果的佐证，则证明了二次曝光数字全息干涉术的可行性和有效性。(本文来源于《四川大学》期刊2001-05-01）
[7]（1999）在《利用二次曝光全息干涉仪技术控制铜薄层的沉积》一文中研究指出利用二次曝光全息干涉仪（ＤＥＨＩ）技术研究电沉积法沉积Ｃｕ时不锈钢板上的表面变形，使用不同浓度的Ｃｕ（ＮＯ３）２电镀液，并且不锈钢板露出的时间间隔不同。随着溶液浓度和沉积时间的变化，条纹间距随之变化，这是由于Ｃｕ层厚度增加所致，可以利用二次曝光全息干涉仪(本文来源于《材料保护》期刊1999年10期）
李田泽[8]（1997）在《二次曝光全息干涉技术及其应用》一文中研究指出本文对全息曝光技术进行了分析，给出了二次曝光的典型再现光路，并且对制造微电子集成电路上的应用作了展望。(本文来源于《微细加工技术》期刊1997年03期）
丁健生[9]（1987）在《用两次曝光全息干涉法演示光压作用》一文中研究指出测量激光束产生的光压作用,早有报导,所寻求的是绝对的测量,实验装置比较精致,一般学校没有条件做,文献(2)报导了应用两次曝光的全息技术,测出辐射所引起的样品运动,来说明光压的作用.由文献(2)提供的数据得到,实际测量出的样品位移值,约为因光压作用而引起的位移值的33～100倍(不计阻力的情况下).测量值如此大于理论值,我们估计,在该实验中,可能存在着比较大的样品的惯性运动.本文改进了样品(“光杠杆”)的结构和实验方法,得到了比较好的结果.(本文来源于《教学仪器与实验》期刊1987年04期）
马明骥,满德发,范皋淮[10]（1983）在《用二次曝光全息干涉法研究焊接件的受力破裂过程》一文中研究指出本文介绍了应用二次曝光全息干涉法研究焊接件受力破裂过程的具体方法。对试件的实际检测结果进行了分析,得出了试件在受力条件下纵向弯曲破裂过程的初步结论。(本文来源于《光电子.激光》期刊1983年05期）
二次曝光全息干涉论文开题报告
（1）论文研究背景及目的
此处内容要求：
首先简单简介论文所研究问题的基本概念和背景，再而简单明了地指出论文所要研究解决的具体问题，并提出你的论文准备的观点或解决方法。
写法范例：
该文回顾了全息技术的发展历史,阐述全息技术的现行状况和相关的发展。从两个方面论述二次曝光全息技术研究应力场实验所需要的理论基础,第一个方面是论述全息照相技术的理论基础,第二个方面是论述了全息干涉计量学的相关理论,重点阐述二次曝光全息计量和漫射体全息干涉计量的基本理论。该论文用二次曝光全息干涉技术研究漫射体受力所产生的应力场,即将物体受力前后的两次全息信息记录在全息干板上,干板上形成漫射体的干涉条纹图,通过分析干涉条纹可以知道漫射体应力场的分布情况。
（2）本文研究方法
调查法：该方法是有目的、有系统的搜集有关研究对象的具体信息。
观察法：用自己的感官和辅助工具直接观察研究对象从而得到有关信息。
实验法：通过主支变革、控制研究对象来发现与确认事物间的因果关系。
文献研究法：通过调查文献来获得资料，从而全面的、正确的了解掌握研究方法。
实证研究法：依据现有的科学理论和实践的需要提出设计。
定性分析法：对研究对象进行“质”的方面的研究，这个方法需要计算的数据较少。
定量分析法：通过具体的数字，使人们对研究对象的认识进一步精确化。
跨学科研究法：运用多学科的理论、方法和成果从整体上对某一课题进行研究。
功能分析法：这是社会科学用来分析社会现象的一种方法，从某一功能出发研究多个方面的影响。
模拟法：通过创设一个与原型相似的模型来间接研究原型某种特性的一种形容方法。
二次曝光全息干涉论文参考文献
[1].吴学科,吴次南,宋洪庆,王新锋.对物体沿散斑片纵向移动二次曝光全息干涉条纹的诠释[J].物理实验.2007
[2].王健,高文斌.二次曝光全息干涉计量技术研究应力场[J].杭州电子科技大学学报.2006
[3].王玉荣,王青圃,徐鹏,刘泽金.用两次曝光相移全息干涉实现光学幅相转换[J].光电子·激光.2005
[4].张院生,陈玉和.浅析全息干涉中对透明物体的二次曝光法[J].集宁师专学报.2004
[5].王玉荣,徐鹏,王建伟,王青圃,蔡履中.采用两次曝光相移全息干涉实现光学图象幅相转换[C].大珩先生九十华诞文集暨中国光学学会2004年学术大会论文集.2004
[6].安波.二次曝光数字全息干涉术的理论与应用研究[D].四川大学.2001
[7]..利用二次曝光全息干涉仪技术控制铜薄层的沉积[J].材料保护.1999
[8].李田泽.二次曝光全息干涉技术及其应用[J].微细加工技术.1997
[9].丁健生.用两次曝光全息干涉法演示光压作用[J].教学仪器与实验.1987
[10].马明骥,满德发,范皋淮.用二次曝光全息干涉法研究焊接件的受力破裂过程[J].光电子.激光.1983
论文知识图
