论文摘要
红外光谱仪内部背景辐射在长波红外波段（8～12μm）影响比较显著,会严重降低光学系统的分辨率和信噪比。利用TracePro光学分析软件,对基于交叉非对称Czerny-Turner（C-T）型平板波导红外光谱仪进行了背景辐射分析,包括机械构件表面发射率以及光学元件表面温度对背景辐射的影响。引入了杂光系数作为评价指标,根据仿真分析结果,在高低温箱中,对该红外光谱仪的背景辐射影响采取抑制措施并进行了实验测量,实验结果证明:采取背景辐射抑制措施后,C-T型平板波导光谱仪系统的杂光系数在常温下（298 K）能达到5%以下。
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文章来源
类型: 期刊论文
作者: 吴越,刘家祥,方勇华,张蕾蕾,杨文康
关键词: 红外光谱仪,平板波导,背景辐射,杂光系数
来源: 红外与激光工程 2019年08期
年度: 2019
分类: 信息科技,工程科技Ⅱ辑
专业: 仪器仪表工业
单位: 中国科学院安徽光学精密机械研究所,中国科学技术大学
分类号: TH744.1
页码: 98-104
总页数: 7
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