全文摘要
本实用新型涉及检测装置的技术领域，特别是涉及半导体测试用探针座，其能根据需求对放置板的高度进行调整，提高适应能力；同时可对芯片能否在高温下正常工作进行测试，降低使用局限性；包括底座、支架、测试座和放置板，测试座设置在固定槽内底壁上；还包括支撑件，支架包括两组螺纹管、两组螺纹杆和两组滚珠轴承，两组螺纹杆顶端分别与放置板底端左右两侧连接；还包括排风扇、工作箱、输入管、输出管和多组电加热棒，放置板内设置有放置腔，且输入管和输出管均与放置腔相通，工作箱设置在放置板底端，排风扇和多组电加热棒均设置在工作箱内，且排风扇位于多组电加热棒左侧，输入管和输出管分别连通设置在工作箱右端和左端上。
设计方案
1.一种半导体测试用探针座，包括底座（1）、支架（2）、测试座（3）和放置板（4），支架（2）设置在底座（1）顶端，放置板（4）设置在支架（2）顶端，放置板（4）顶端中部设置有固定槽，测试座（3）设置在固定槽内底壁上；其特征在于，还包括支撑件（5），所述支架（2）包括两组螺纹管（6）、两组螺纹杆（7）和两组滚珠轴承（8），底座（1）顶端左右两侧上均设置有固定槽，两组滚珠轴承（8）分别设置在两组固定槽内，所述两组螺纹管（6）底端分别插入至两组滚珠轴承（8）内部，两组螺纹杆（7）底端分别插入并螺装在两组螺纹管（6）顶端内部，且两组螺纹杆（7）顶端分别与放置板（4）底端左右两侧连接，所述支撑件（5）设置在底座（1）顶端，且支撑件（5）顶端与放置板（4）底端连接；还包括排风扇（9）、工作箱（10）、输入管（11）、输出管（12）和多组电加热棒（13），所述放置板（4）内设置有放置腔，且放置腔位于固定槽下方，所述输入管（11）和输出管（12）分别设置在放置板（4）底端右半区域和左半区域上，且输入管（11）和输出管（12）均与放置腔相通，所述工作箱（10）设置在放置板（4）底端，工作箱（10）内设置有工作腔，排风扇（9）和多组电加热棒（13）均设置在工作箱（10）内，且排风扇（9）位于多组电加热棒（13）左侧，所述输入管（11）和输出管（12）分别连通设置在工作箱（10）右端和左端上。
2.如权利要求1所述的半导体测试用探针座，其特征在于，所述支撑件（5）包括四组支管（18）和四组支杆（19），四组支管（18）分别设置在底座（1）顶端左前侧、左后侧、右前侧和右后侧上，所述四组支杆（19）分别设置在放置板（4）底端左前侧、左后侧、右前侧和右后侧上，且四组支杆（19）底端分别插入至四组支管（18）顶端内部。
3.如权利要求2所述的半导体测试用探针座，其特征在于，所述排风扇（9）包括安装架（25）、电动机（26）和扇叶（27），所述安装架（25）设置在工作箱（10）左半区域内侧壁上，电动机（26）设置在安装架（25）上，所述电动机（26）的右部输出端上设置有传动轴，扇叶（27）设置在传动轴上。
4.如权利要求3所述的半导体测试用探针座，其特征在于，还包括箱门（28），所述工作箱（10）前端设置有安装口，箱门（28）设置在安装口上。
5.如权利要求4所述的半导体测试用探针座，其特征在于，还包括两组固定环（29），所述两组螺纹管（6）下半区域外侧壁上均设置有环形凹槽，两组固定环（29）分别套装在两组环形凹槽上，且两组固定环（29）底端外侧均与底座（1）上侧面连接。
设计说明书
技术领域
本实用新型涉及检测装置的技术领域，特别是涉及半导体测试用探针座。
背景技术
众所周知，半导体测试用探针座是一种用于对芯片进行定位夹持，以便对线路板之间电子讯号及电流传输情况进行检测，从而得知测试芯片是否工作正常，以便判断芯片好坏的辅助装置，其在半导体质检领域中得到广泛的使用；现有的半导体测试用探针座包括底座、支架、测试座和放置板，支架设置在底座顶端，放置板设置在支架顶端，放置板顶端中部设置有固定槽，测试座设置在固定槽内底壁上；这种半导体测试用探针座使用时只需将半导体芯片安装于测试座上，然后通过额外的感光灯箱或其他部件下压，使半导体芯片针脚与测试座上的触点接触，测试芯片是否工作正常，从而判断芯片的好坏即可；这种半导体测试用探针座使用中发现，放置板的高度固定，不能根据需求进行调整，适应能力较差；并且各种类型的芯片由于用途不一或者由于自身工作时的发热，有可能会在较高温度下进行工作，而其只能检测常温下进行工作的半导体芯片情况，使用局限性较高。
发明内容
为解决上述技术问题，本实用新型提供一种能根据需求对放置板的高度进行调整，提高适应能力；同时可对芯片能否在高温下正常工作进行测试，降低使用局限性的半导体测试用探针座。
本实用新型的半导体测试用探针座，包括底座、支架、测试座和放置板，支架设置在底座顶端，放置板设置在支架顶端，放置板顶端中部设置有固定槽，测试座设置在固定槽内底壁上；还包括支撑件，所述支架包括两组螺纹管、两组螺纹杆和两组滚珠轴承，底座顶端左右两侧上均设置有固定槽，两组滚珠轴承分别设置在两组固定槽内，所述两组螺纹管底端分别插入至两组滚珠轴承内部，两组螺纹杆底端分别插入并螺装在两组螺纹管顶端内部，且两组螺纹杆顶端分别与放置板底端左右两侧连接，所述支撑件设置在底座顶端，且支撑件顶端与放置板底端连接；还包括排风扇、工作箱、输入管、输出管和多组电加热棒，所述放置板内设置有放置腔，且放置腔位于固定槽下方，所述输入管和输出管分别设置在放置板底端右半区域和左半区域上，且输入管和输出管均与放置腔相通，所述工作箱设置在放置板底端，工作箱内设置有工作腔，排风扇和多组电加热棒均设置在工作箱内，且排风扇位于多组电加热棒左侧，所述输入管和输出管分别连通设置在工作箱右端和左端上。
本实用新型的半导体测试用探针座，所述支撑件包括四组支管和四组支杆，四组支管分别设置在底座顶端左前侧、左后侧、右前侧和右后侧上，所述四组支杆分别设置在放置板底端左前侧、左后侧、右前侧和右后侧上，且四组支杆底端分别插入至四组支管顶端内部。
本实用新型的半导体测试用探针座，所述排风扇包括安装架、电动机和扇叶，所述安装架设置在工作箱左半区域内侧壁上，电动机设置在安装架上，所述电动机的右部输出端上设置有传动轴，扇叶设置在传动轴上。
本实用新型的半导体测试用探针座，还包括箱门，所述工作箱前端设置有安装口，箱门设置在安装口上。
本实用新型的半导体测试用探针座，还包括两组固定环，所述两组螺纹管下半区域外侧壁上均设置有环形凹槽，两组固定环分别套装在两组环形凹槽上，且两组固定环底端外侧均与底座上侧面连接。
与现有技术相比本实用新型的有益效果为：其可通过螺纹结构，通过同时旋转两组螺纹管带动两组螺纹杆强制进行上下移动，以便根据需求对放置板的高度进行调整，提高适应能力；同时可通过电加热棒对工作箱内部空气进行加热，并通过排风扇输出到放置腔内，并通过输出管输出到工作箱内进行循环使用，输入到放置腔内的热气对放置板及测试座进行加热，从而可对芯片能否在高温下正常工作进行测试，降低使用局限性。
附图说明
图1是本实用新型的结构示意图；
图2是图1的外部示意图；
图3是工作箱与排风扇间的局部结构示意图；
附图中标记：1、底座；2、支架；3、测试座；4、放置板；5、支撑件；6、螺纹管；7、螺纹杆；8、滚珠轴承；9、排风扇；10、工作箱；11、输入管；12、输出管；13、电加热棒；18、支管；19、支杆；25、安装架；26、电动机；27、扇叶；28、箱门；29、固定环。
具体实施方式
下面结合附图和实施例，对本实用新型的具体实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本实用新型，但不用来限制本实用新型的范围。
如图1至图3所示，本实用新型的半导体测试用探针座，包括底座1、支架2、测试座3和放置板4，支架2设置在底座1顶端，放置板4设置在支架2顶端，放置板4顶端中部设置有固定槽，测试座3设置在固定槽内底壁上；还包括支撑件5，支架2包括两组螺纹管6、两组螺纹杆7和两组滚珠轴承8，底座1顶端左右两侧上均设置有固定槽，两组滚珠轴承8分别设置在两组固定槽内，两组螺纹管6底端分别插入至两组滚珠轴承8内部，两组螺纹杆7底端分别插入并螺装在两组螺纹管6顶端内部，且两组螺纹杆7顶端分别与放置板4底端左右两侧连接，支撑件5设置在底座1顶端，且支撑件5顶端与放置板4底端连接；还包括排风扇9、工作箱10、输入管11、输出管12和多组电加热棒13，放置板4内设置有放置腔，且放置腔位于固定槽下方，输入管11和输出管12分别设置在放置板4底端右半区域和左半区域上，且输入管11和输出管12均与放置腔相通，工作箱10设置在放置板4底端，工作箱10内设置有工作腔，排风扇9和多组电加热棒13均设置在工作箱10内，且排风扇9位于多组电加热棒13左侧，输入管11和输出管12分别连通设置在工作箱10右端和左端上；其可通过螺纹结构，通过同时旋转两组螺纹管带动两组螺纹杆强制进行上下移动，以便根据需求对放置板的高度进行调整，提高适应能力；同时可通过电加热棒对工作箱内部空气进行加热，并通过排风扇输出到放置腔内，并通过输出管输出到工作箱内进行循环使用，输入到放置腔内的热气对放置板及测试座进行加热，从而可对芯片能否在高温下正常工作进行测试，降低使用局限性。
本实用新型的半导体测试用探针座，支撑件5包括四组支管18和四组支杆19，四组支管18分别设置在底座1顶端左前侧、左后侧、右前侧和右后侧上，四组支杆19分别设置在放置板4底端左前侧、左后侧、右前侧和右后侧上，且四组支杆19底端分别插入至四组支管18顶端内部；其可增强底座与放置板间的支持效果。
本实用新型的半导体测试用探针座，排风扇9包括安装架25、电动机26和扇叶27，安装架25设置在工作箱10左半区域内侧壁上，电动机26设置在安装架25上，电动机26的右部输出端上设置有传动轴，扇叶27设置在传动轴上；其可通过控制电动机带动传动轴上的扇叶进行转动，以便将工作箱内的热气输出到放置腔内。
本实用新型的半导体测试用探针座，还包括箱门28，工作箱10前端设置有安装口，箱门28设置在安装口上；其可方便对排风扇或电加热棒进行维修。
本实用新型的半导体测试用探针座，还包括两组固定环29，两组螺纹管6下半区域外侧壁上均设置有环形凹槽，两组固定环29分别套装在两组环形凹槽上，且两组固定环29底端外侧均与底座1上侧面连接；其可增强螺纹管与底座间的稳固性。
本实用新型的半导体测试用探针座，其在使用时只需将半导体芯片安装于测试座上，然后通过额外的感光灯箱或其他部件下压，使半导体芯片针脚与测试座上的触点接触，测试芯片是否工作正常，从而判断芯片的好坏即可；同时在上述过程中，可同时旋转两组螺纹管带动两组螺纹杆强制进行上下移动，以便根据需求对放置板的高度进行调整；同时可通过电加热棒对工作箱内部空气进行加热，并通过排风扇输出到放置腔内，同时通过输出管输出到工作箱内进行循环使用，输入到放置腔内的热气对放置板及测试座进行加热，从而可对芯片能否在高温下正常工作进行测试，降低使用局限性。
本实用新型的半导体测试用探针座，除非另有明确的规定和限制，术语“设置”、“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体的连接，可以是机械连接，也可以是电连接，可以是直接连接，也可以是通过中间媒介相连，可以是两个元件内部的连通，对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本实用中的具体含义；术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制；并且上述各部件的型号不限，只要能够达成其有益效果的均可进行实施，且底座、测试座和放置板均是现有设计和技术，本案对其没有任何的技术改进，本行业技术人员在得知本案的具体结构后均可得知其使用；并且电加热棒和电动机均为市面常见设备，自带控制模块和电线，安装后通电即可使用，未改变其内部结构。
以上所述仅是本实用新型的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型技术原理的前提下，还可以做出若干改进和变型，这些改进和变型也应视为本实用新型的保护范围。
设计图
相关信息详情
申请码:申请号:CN201920314361.1
申请日:2019-03-12
公开号:公开日:国家:CN
国家/省市:12(天津)
授权编号:CN209894852U
授权时间:20200103
主分类号:G01R1/067
专利分类号:G01R1/067
范畴分类:31F;
申请人:芯源长通（天津）精密机械有限公司
第一申请人:芯源长通（天津）精密机械有限公司
申请人地址:300000 天津市西青区中北镇西青道与天河路交口东100米南方客栈院内5号厂房
发明人:孙圣钦
第一发明人:孙圣钦
当前权利人:芯源长通（天津）精密机械有限公司
代理人:代理机构:代理机构编号:优先权:关键词:当前状态:审核中
类型名称:外观设计