导读:本文包含了缺陷探测论文开题报告文献综述、选题提纲参考文献及外文文献翻译，主要关键词:缺陷,涡流,激光,超声波,损伤,隧道,离子束。
缺陷探测论文文献综述
李映婵,陈东风,刘晓龙,李眉娟,李玉庆[1]（2019）在《材料与构件深部应力场及缺陷无损探测中子谱仪径向准直器的设计》一文中研究指出为设计材料与构件深部应力场及缺陷无损探测中子谱仪的径向准直器,实现大型工程构件的远距离准确取样,本文分析了径向准直器的实空间和相空间取样原理,介绍了目前径向准直器取样体积的解析与模拟计算方法,并利用0.2 mm尼龙线测试了德国E3残余应力谱仪径向准直器的取样尺寸,基于实验结果确定了采用JRR3解析方法作为径向准直器取样尺寸的计算依据。根据解析计算结果,研究了设计参数对径向准直器取样尺寸和传输效率的影响规律,并按照谱仪的空间几何结构,最终设计了谱仪1、2、3、4、5 mm径向准直器取样系统。(本文来源于《原子能科学技术》期刊2019年11期）
李洪路[2]（2019）在《熔石英亚表面缺陷的荧光诱导增强探测技术研究》一文中研究指出熔石英光学元件是高功率激光装置中重要的组成部分,在加工成型过程中由于受力不均匀或杂质的引入会造成亚表面缺陷(如裂纹、划痕等)。因为其亚表面缺陷吸收激光的能力特别强,当激光辐照熔石英光学元件时亚表面缺陷会迅速吸收激光能量,导致局部温度急剧升高进而会发生热熔、炸裂现象造成熔石英的损伤,这种损伤称为激光诱导损伤。探测熔石英光学元件亚表面缺陷,提高熔石英光学元件的抗激光诱导损伤能力,延长光学元件的使用寿命是目前迫切需要解决的问题。荧光无损探测是一种无损探测熔石英亚表面缺陷比较好的方法,但是由于熔石英亚表面缺陷自身荧光信号相对较弱,微小的亚表面缺陷不容易被探测到,从而不利于准确的分析亚表面缺陷。本文主要通过HF酸和离子束刻蚀逐层剥离熔石英光学元件,研究熔石英亚表面缺陷的变化规律以及所在的深度范围。根据熔石英亚表面缺陷的变化规律以及所在深度范围,选择抛光的方法将荧光剂加入到熔石英亚表面缺陷中以增强其荧光强度,从而有利于熔石英亚表面缺陷的探测。本文主要结果如下:1)采用质量分数相同的HF酸溶液逐层刻蚀熔石英光学元件,熔石英光学元件的刻蚀深度分别为300nm、1μm、3μm、5μm、10μm和15μm;分析实验结果可以得出熔石英的损伤阈值随着HF酸刻蚀深度的增加而增加,最终趋于稳定值。利用荧光无损探测法测试熔石英亚表面缺陷发现:当熔石英元件刻蚀深度达到300nm时其荧光图片右上角有条划痕,当刻蚀深度达到1μm时划痕消失,表明此划痕的深度在300nm到1μm之间并且荧光信号强度也是减弱的;当刻蚀深度从3μm到5μm时荧光信号强度反而增强了,刻蚀深度从5μm到15μm时荧光信号强度又减弱了且信号强度几乎为零,说明亚表面缺陷基本上都已去除。2)通过离子束刻蚀对熔石英光学元件表面逐层剥离,研究了散射、荧光缺陷、表面形貌、表面粗糙度及激光损伤阈值与剥离深度之间的变化规律。3)对比荧光无损探测设备测试的荧光图像和光学显微镜原位形貌图片,可以发现荧光点缺陷密度随HF酸刻蚀深度的增加逐渐减小;熔石英亚表面缺陷中的划痕随着刻蚀深度的增加,宽度、长度和深度都是增加的,当刻蚀到一定程度时,划痕被钝化,这也证实了荧光检测亚表面缺陷方法的可靠性和科学性。通过荧光剂的添加实现了熔石英亚表面缺陷荧光增强,形成了熔石英亚表面缺陷荧光诱导增强探测技术,为熔石英在高功率激光装置中的安全使用提供了保障。(本文来源于《西南科技大学》期刊2019-05-01）
徐慧,王诗鹏,刘致秀,谢蓉蓉,燕敏[3]（2019）在《基于涡流技术的管道表面缺陷探测系统》一文中研究指出管道内壁在生产过程中会有气泡、裂纹和腐蚀等问题,为提高管道内壁质量检测精度,设计一种基于涡流技术的管道表面缺陷探测系统。根据探测原理和工艺参数要求,采用0.1 kHz～20 MHz数字可调脉冲发生器驱动涡轮传感器来适应更多场合,设计1 000倍仪表放大、交流电压检测及200 mV有效值检波等检测电路,通过检测缺陷表面与标准表面信号的方法对比识别故障,最后对比不同故障的电压值进行实验数据分析。实验表明传感器提离值为4 mm时仍然能对宽2 mm、深1 mm的缺陷检测信号进行分辨。结果表明系统能对板材内壁表面质量实现无接触的稳定探测。(本文来源于《仪表技术与传感器》期刊2019年04期）
谢志坚[4]（2019）在《基于透射-反射-散射的陶瓷胚缺陷激光探测》一文中研究指出介绍一种利用激光的透射、反射、漫散射原理,以及光电转换原理、集成运算放大电路的信号放大原理对柱状陶瓷胚(烧制前的半成品;中空)小孔、凹坑、气孔、裂纹等缺陷进行探测的方案。论述了将该探测结果作为设计可将胚料自动分选为合格料(可进入下一加工环节的胚料)、废料的自动分选机以提高陶瓷胚烧制后成品合格率的依据。(本文来源于《机电工程技术》期刊2019年03期）
岑威钧,罗佳瑞,都旭煌,和浩楠,耿利彦[5]（2019）在《基于双电极法的土工膜缺陷探测数值模拟》一文中研究指出利用电场与渗流场控制方程及边界条件相似的原理,对含缺陷的防渗土工膜上的电位分布进行有限元模拟,获得缺陷附近的电位分布特征,进而判断缺陷位置。此外,对电极埋设位置、施加电压值和探测间距等因素进行敏感性分析。计算结果表明:双电极法可有效确定土工膜缺陷位置,土工膜缺陷越靠近励磁电源电极,越有利于缺陷的准确探测;沿着缺陷中心线方向进行探测,可高效探测缺陷位置;移动探测仪的电极间距应以探测长度的5%～10%为宜。研究成果对双电极法用于土工膜缺陷探测有理论指导意义。(本文来源于《长江科学院院报》期刊2019年02期）
于浩,于文禹[6]（2018）在《利用无损检测方法探测轧辊缺陷的可靠性》一文中研究指出本文重点分析轧辊缺陷特征、缺陷性质、轧辊无损检测特点,以及无损检测方法探测轧辊缺陷的可靠性,利用无损检测检测方法探测轧辊缺陷,可避免轧辊事故,降低产品成本。(本文来源于《无损探伤》期刊2018年06期）
戴雨馨,王月明[7]（2018）在《多探测点超声检测在60 kg/m钢轨缺陷的波形分析》一文中研究指出铁路铺设量日益增加,导致行车安全对钢轨的质量要求十分严格。以铺设最广的60 kg/m钢轨为例,分析了多探测点超声波钢轨在线检测系统中各个通道的钢轨缺陷A扫波形;总结了超声波在不同钢轨缺陷中传播的波形特征。结果表明,回波第1周期的波形为缺陷回波主要参考依据,并且缺陷程度越大,回波振幅越高。60 kg/m钢轨的波形分析为钢轨超声波探伤和钢轨的实际生产提供了经验指导。(本文来源于《自动化与仪表》期刊2018年12期）
郑龙金,唐小泉,吴忠如,邹磊,李锋平[8]（2018）在《线极化探地雷达对隧道二衬缺陷探测研究》一文中研究指出在探地雷达探测隧道二衬异常体过程中,由于施工的复杂性,发射和接收天线的连线与探测方向间不可避免会呈现不同夹角,从而形成不同极化方式。分析线极化中不同天线极化方式对隧道二衬异常体雷达信号的响应特征可以为实际施工和信号解释提供指导。通过模拟分析和工程实例可以发现,天线垂直极化对隧道二衬中富水区的探测效果相对好于天线水平极化的探测效果。隧道二衬中不密实区的探测效果基本不受天线极化方式和天线连线与探测方向夹角变化的影响。同时,对于隧道二衬中混凝土厚度不足区的探测,探测效果主要由天线极化方向和混凝土厚度不足区的走向共同决定。(本文来源于《工程勘察》期刊2018年12期）
尹涛,王瑞燕,高鹏,丁丽华,曹光山[9]（2018）在《基于探地雷达技术的隧道二衬缺陷探测研究》一文中研究指出隧道二衬的缺陷关系到隧道安全与运营期限,隧道施工过程中二衬的质量检测至关重要,目前的检测方法存在低效、破坏性和不准确等问题,研究无损高效准确的缺陷探测方法具有重要意义。针对900 MHz中心频率的探地雷达天线,采用数值模拟、F-K偏移处理和解译标志相结合的方法,对隧道二衬中几种典型缺陷的无损探测方法进行了研究。研究结果表明:不同类型的二衬缺陷的识别难度不同,钢筋的缺失、单双层和数量不足问题较容易识别,与单层钢筋网相比,双层钢筋网的屏蔽作用更强,会对钢筋网之下的区域缺陷识别造成干扰,识别难度增加。不同形状的空洞和脱空通过图像特征即可加以区分,但是当脱空区较小时,二者很难区分。二衬厚度不足的检测结果表明,二衬与初衬的交界面的识别追踪较为容易,厚度的估算精度较高,为2%。探地雷达对不密实区的分辨能力相对较差,只能做到定性推断,无法准确判断其边界;F-K偏移处理能从一定程度上还原出缺陷的实际形态,降低了二衬缺陷解译的难度和检测的误判率。(本文来源于《地下空间与工程学报》期刊2018年S1期）
李洪路,刘红婕,蒋晓东,黄进,曹林洪[10]（2019）在《荧光成像技术探测熔石英元件亚表面缺陷》一文中研究指出提出荧光成像技术用于无损探测熔石英光学元件亚表面缺陷,利用该方法获得不同加工工艺下熔石英光学元件的亚表面缺陷。结合熔石英光学元件损伤性能研究,分析了熔石英光学元件亚表面缺陷与其损伤性能的关联关系。结果表明,熔石英光学元件损伤阈值与荧光缺陷密度呈反比关系,即亚表面荧光缺陷较少的样品损伤性能较好。这说明利用该技术方法可以有效评价熔石英光学元件的损伤性能。该研究结果对光学元件加工技术具有指导意义。(本文来源于《激光与光电子学进展》期刊2019年01期）
缺陷探测论文开题报告
（1）论文研究背景及目的
此处内容要求：
首先简单简介论文所研究问题的基本概念和背景，再而简单明了地指出论文所要研究解决的具体问题，并提出你的论文准备的观点或解决方法。
写法范例：
熔石英光学元件是高功率激光装置中重要的组成部分,在加工成型过程中由于受力不均匀或杂质的引入会造成亚表面缺陷(如裂纹、划痕等)。因为其亚表面缺陷吸收激光的能力特别强,当激光辐照熔石英光学元件时亚表面缺陷会迅速吸收激光能量,导致局部温度急剧升高进而会发生热熔、炸裂现象造成熔石英的损伤,这种损伤称为激光诱导损伤。探测熔石英光学元件亚表面缺陷,提高熔石英光学元件的抗激光诱导损伤能力,延长光学元件的使用寿命是目前迫切需要解决的问题。荧光无损探测是一种无损探测熔石英亚表面缺陷比较好的方法,但是由于熔石英亚表面缺陷自身荧光信号相对较弱,微小的亚表面缺陷不容易被探测到,从而不利于准确的分析亚表面缺陷。本文主要通过HF酸和离子束刻蚀逐层剥离熔石英光学元件,研究熔石英亚表面缺陷的变化规律以及所在的深度范围。根据熔石英亚表面缺陷的变化规律以及所在深度范围,选择抛光的方法将荧光剂加入到熔石英亚表面缺陷中以增强其荧光强度,从而有利于熔石英亚表面缺陷的探测。本文主要结果如下:1)采用质量分数相同的HF酸溶液逐层刻蚀熔石英光学元件,熔石英光学元件的刻蚀深度分别为300nm、1μm、3μm、5μm、10μm和15μm;分析实验结果可以得出熔石英的损伤阈值随着HF酸刻蚀深度的增加而增加,最终趋于稳定值。利用荧光无损探测法测试熔石英亚表面缺陷发现:当熔石英元件刻蚀深度达到300nm时其荧光图片右上角有条划痕,当刻蚀深度达到1μm时划痕消失,表明此划痕的深度在300nm到1μm之间并且荧光信号强度也是减弱的;当刻蚀深度从3μm到5μm时荧光信号强度反而增强了,刻蚀深度从5μm到15μm时荧光信号强度又减弱了且信号强度几乎为零,说明亚表面缺陷基本上都已去除。2)通过离子束刻蚀对熔石英光学元件表面逐层剥离,研究了散射、荧光缺陷、表面形貌、表面粗糙度及激光损伤阈值与剥离深度之间的变化规律。3)对比荧光无损探测设备测试的荧光图像和光学显微镜原位形貌图片,可以发现荧光点缺陷密度随HF酸刻蚀深度的增加逐渐减小;熔石英亚表面缺陷中的划痕随着刻蚀深度的增加,宽度、长度和深度都是增加的,当刻蚀到一定程度时,划痕被钝化,这也证实了荧光检测亚表面缺陷方法的可靠性和科学性。通过荧光剂的添加实现了熔石英亚表面缺陷荧光增强,形成了熔石英亚表面缺陷荧光诱导增强探测技术,为熔石英在高功率激光装置中的安全使用提供了保障。
（2）本文研究方法
调查法：该方法是有目的、有系统的搜集有关研究对象的具体信息。
观察法：用自己的感官和辅助工具直接观察研究对象从而得到有关信息。
实验法：通过主支变革、控制研究对象来发现与确认事物间的因果关系。
文献研究法：通过调查文献来获得资料，从而全面的、正确的了解掌握研究方法。
实证研究法：依据现有的科学理论和实践的需要提出设计。
定性分析法：对研究对象进行“质”的方面的研究，这个方法需要计算的数据较少。
定量分析法：通过具体的数字，使人们对研究对象的认识进一步精确化。
跨学科研究法：运用多学科的理论、方法和成果从整体上对某一课题进行研究。
功能分析法：这是社会科学用来分析社会现象的一种方法，从某一功能出发研究多个方面的影响。
模拟法：通过创设一个与原型相似的模型来间接研究原型某种特性的一种形容方法。
缺陷探测论文参考文献
[1].李映婵,陈东风,刘晓龙,李眉娟,李玉庆.材料与构件深部应力场及缺陷无损探测中子谱仪径向准直器的设计[J].原子能科学技术.2019
[2].李洪路.熔石英亚表面缺陷的荧光诱导增强探测技术研究[D].西南科技大学.2019
[3].徐慧,王诗鹏,刘致秀,谢蓉蓉,燕敏.基于涡流技术的管道表面缺陷探测系统[J].仪表技术与传感器.2019
[4].谢志坚.基于透射-反射-散射的陶瓷胚缺陷激光探测[J].机电工程技术.2019
[5].岑威钧,罗佳瑞,都旭煌,和浩楠,耿利彦.基于双电极法的土工膜缺陷探测数值模拟[J].长江科学院院报.2019
[6].于浩,于文禹.利用无损检测方法探测轧辊缺陷的可靠性[J].无损探伤.2018
[7].戴雨馨,王月明.多探测点超声检测在60kg/m钢轨缺陷的波形分析[J].自动化与仪表.2018
[8].郑龙金,唐小泉,吴忠如,邹磊,李锋平.线极化探地雷达对隧道二衬缺陷探测研究[J].工程勘察.2018
[9].尹涛,王瑞燕,高鹏,丁丽华,曹光山.基于探地雷达技术的隧道二衬缺陷探测研究[J].地下空间与工程学报.2018
[10].李洪路,刘红婕,蒋晓东,黄进,曹林洪.荧光成像技术探测熔石英元件亚表面缺陷[J].激光与光电子学进展.2019
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