论文摘要
国外已有研究表明,X射线激励能影响固体绝缘中微小气隙缺陷局部放电的特性。为了研究X射线激励对SF6气体中针尖缺陷局部放电的影响,搭建了基于实体252kV GIS的局部放电试验平台,设计了GIS中常见的针尖放电模型,基于特高频方法测量了X射线激励下直流电压针尖缺陷的放电特性。对该文设计的长15mm、曲率半径为50mm的针尖缺陷,X射线能够分别降低正、负极性下的针尖放电起始电压约28.6%和15.6%;提高正、负极性放电脉冲重复率（正极性5.3～17.0倍,负极性80.4～166.7倍）;降低正极性放电的特高频信号幅值约35.3%。X射线能够电离SF6气体,在针尖缺陷附近产生光电离,为放电区域提供有效电子,从而降低放电统计时延,降低局部放电的起始电压,实现局部放电特征的外部调控。研究结果可以为直流GIS/GIL绝缘缺陷局部放电检测提供一种手段。
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文章来源
类型: 期刊论文
作者: 张强,张瀚驰,李成榕,马国明
关键词: 射线,针尖缺陷,直流电压,局部放电,特高频
来源: 电工技术学报 2019年24期
年度: 2019
分类: 工程科技Ⅱ辑
专业: 电力工业
单位: 新能源电力系统国家重点实验室(华北电力大学)
基金: 国家重点研发计划资助项目（2017YFB0903800）
分类号: TM855
DOI: 10.19595/j.cnki.1000-6753.tces.181802
页码: 5282-5288
总页数: 7
文件大小: 502K
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