论文摘要
采用电感耦合等离子体原子发射光谱仪(ICP-OES)测定镍钴锰三元氢氧化物中硅元素的含量。研究了锰对镍钴锰氢氧化物中硅测试的干扰,发现在最灵敏波长251. 611 nm下,硅的检测值随着溶液中锰含量的增加而增加,而在次灵敏波长212. 412 nm下检测,硅的检测值不随溶液中锰含量的变化而变化。该方法检出限为0. 014 mg/L,相对标准偏差为0. 749%,加标回收率为95%~105%之间。因此,镍钴锰氢氧化物中硅测试应使用次灵敏波长212. 412 nm。
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文章来源
类型: 期刊论文
作者: 周兆海,李沃颖
关键词: 镍钴锰氢氧化物,硅含量
来源: 广州化工 2019年14期
年度: 2019
分类: 工程科技Ⅰ辑,工程科技Ⅱ辑
专业: 化学,材料科学,电力工业
单位: 江门市芳源新能源材料有限公司
分类号: O657.31;TM912;TB33
页码: 128-130
总页数: 3
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