导读:本文包含了去包裹论文开题报告文献综述、选题提纲参考文献及外文文献翻译，主要关键词:相位,包裹,测量,时域,轮廓,形貌,尼克。
去包裹论文文献综述
杜光亮[1]（2017）在《投影栅叁维形貌相位去包裹算法研究》一文中研究指出随着时代和信息技术的发展,物体的叁维信息在目标检测、数字模型生成、对象复制、逆向工程、快速成型、产品检验、质量控制等许多领域体现了重要的价值。投影栅叁维形貌测量技术因为具有能全场测量、耗时少、精度高、结构简单等优点,目前已成为一种非常重要的物体叁维形貌测量方法。近几十年,叁维形貌测量技术发展非常迅速。国内外学者对此进行了广泛的理论和应用研究。其中如何快速、精确地得到物体的叁维形貌信息是目前叁维测量研究的关注重点。在投影栅叁维形貌测量时,通过各种相位解调方法求得的相位信息被包裹在(-π,π)范围内,因此需要对其进行相位去包裹,才能得到连续相位。尽管目前已有许多相位去包裹方法,但通过分析和比较发现,各种算法大多只针对某些特定情形有效,特别是在处理速度和精度方面存在各种局限性。因此开发设计适应叁维形貌测量的快速、可靠的相位去包裹算法仍然是投影栅叁维形貌测量研究的重点和难点问题。本课题从提高相位去包裹算法速度和精度两个方面入手,针对叁维形貌相位去包裹问题展开研究。主要工作如下:(1)在分析研究Gdeisat空域去包裹算法基础上,针对其算法运算量过大的问题,分别提出了增加包裹相位残差点的空域算法和改进的相位包裹次数减少方法。利用傅里叶变换的频移特性,将Gdeisat算法中的傅里叶正变换、选频、移频和逆变换等繁琐的处理过程,通过简单的空域处理直接实现,提高了相位去包裹的处理速度和精度。(2)针对Servin两步时域相位去包裹方法中G取值范围有限的问题,提出了迭代两步时域去包裹算法,通过增加中间灵敏度投影光栅条纹,不同灵敏度级联,扩大了灵敏度G的取值范围。(3)针对时域相位去包裹算法需要拍摄许多光栅条纹图像,处理时间长的问题,将复合条纹投影方法与迭代两步时域去包裹算法相结合,提出了一种更高效、精度更高的基于复合条纹投影的迭代两步时域去包裹算法。(4)双频时域相位去包裹算法在高低频率比值较大时,容易受噪声影响,对此,Zhang等提出几何约束双频时域去包裹算法,通过提高低频条纹频率,来降低高低频率比值,利用几何约束关系得到低频条纹对应的相位数据,但该方法需要对DFP.系统进行标定,计算复杂。针对Zhang方法存在的复杂标定问题,提出了一种改进的基于几何约束的相位去包裹算法。通过直接采集和处理投射到参考平面的低频条纹图,替换Zhang方法中复杂的标定环节。改进的算法,既简化了实际操作过程,又保留了 Zhang算法的处理精度,因此能很好地兼顾双频时域相位去包裹算法速度和精度。(5)在MATLABR2014a编程环境下,编程实现了以上各种算法,并对其进行了大量的实验验证和分析。实验结果证明了本课题提出的各种相位去包裹算法的有效性和可靠性。(本文来源于《山东大学》期刊2017-04-15）
杜光亮,张朝瑞,周灿林,司书春,李辉[2]（2015）在《一种改进的两步时域相位去包裹算法》一文中研究指出针对时域相位去包裹方法在叁维形貌测量时存在采集图像幅数多、数据量大和处理时间长等问题,提出了一种改进的两步时域相位去包裹算法。首先,增加中间灵敏度投影条纹,将不同灵敏度光栅条纹投射到待测物体表面,由CCD相机采集;再通过不同灵敏度级联,得到最终灵敏度系数G值较大的去包裹相位数据。推导了两步时域相位去包裹算法的初始相位条件。并进行了实际测量。结果表明,本文方法可实现高灵敏度叁维形貌测量,测量结果精度更高。(本文来源于《光电子·激光》期刊2015年11期）
周灿林,司书春,李辉,雷振坤[3]（2015）在《无相位去包裹的微分法叁维形貌测量》一文中研究指出提出了一种无需相位去包裹的微分算法,应用于投影栅叁维形貌测量。首先由计算机设计并生成4幅四步相移正弦条纹图,利用DLP投影仪将其投影到待测物体上;然后由CCD相机采集受待测物体面型调制的变形光栅条纹图。再利用4幅四步相移变形条纹图,经数值运算求得沿水平和垂直方向上待测物体相位的偏导数,而相位偏导数的积分过程相当于求解泊松方程,于是利用离散余弦变换(DCT)求解泊松方程就可得到待测物体叁维形貌对应的相位数据,从而重构待测物体的叁维形貌。测量结果表明,相位解调的标准差小于0.0317rad,验证了本文方法的有效性。(本文来源于《光电子·激光》期刊2015年08期）
周灿林,刘同川,司书春,徐建强,黄祥岭[4]（2013）在《改进的阶梯相位去包裹算法研究》一文中研究指出为减少投影条纹数量,提高测量速度,提出了一种改进的阶梯相位去包裹算法。算法采用彩色条纹投影测量物体叁维形貌,将正弦和阶梯相位条纹分别输入彩色图像的红色和蓝色通道构成彩色条纹,由DLP投影仪将四步相移彩色条纹投影到待测物体上,由彩色CCD相机采集。利用颜色分离技术得到2组四步相移条纹图,其中一组为4幅正弦条纹,由四步相移法求得正弦条纹包裹相位,另一组4幅阶梯相位编码条纹图,由与正弦条纹周期一致的阶梯相位构成,经阶梯相位解码确定条纹级次,利用自校正算法去除条纹级次噪点后,实现相位去包裹。进行了实际测量,结果表明,本方法测量精度与采用四步相移法相当,但只需4幅条纹图,有效减少了投影和采集的条纹数量,提高了测量速度。(本文来源于《光电子.激光》期刊2013年12期）
盛希晨[5]（2012）在《晶圆精密视觉检测仪中的相位去包裹算法》一文中研究指出精密视觉检测仪在尖端晶圆生产工艺中具有极其重要的位置，其中利用共光路移相干涉原理组成的显微系统因其简单的结构和很强的抗干扰能力，被广泛应用在各大领域微细加工表面形貌的测量然而，使用移相干涉术的系统在相位提取中会因为反正切函数引入的相位截断，使得图形不连续，无法恢复正确的表面形貌相位去包裹算法（Phase Unwrapping Algorithm）就是用来修正这个误差，将相位值正确展开获得连续表面变化的一种算法目前主流的去包裹算法主要分为路径跟踪算法和路径无关算法，但是这些算法只能用在表面连续或者起伏度较小的样品上，而对于噪声较大表面形貌不连续的样品就会产生较大的误差对此，针对本实验室自主研发的共光路微分移相干涉视觉检测仪需设计一种能够克服以上缺点的相位去包裹算法首先，为了减少激光光源带来的散斑噪声，本文将搭建基于弱相干光源(Light Emitting Diode, LED)照明的测量系统LED发射的光束经准直和滤波，相干性会得到一定改善，由此获得的部分相干光不仅可以满足干涉测量的条件，而且被散射的杂散光不会产生干涉，很好地抑制相干噪声及散斑噪声，提高系统的测量精度其次，提出一种新的相位去包裹算法为了提高系统的抗噪性而又保持相位截断情况，采用改进的正余弦滤波改善相位图质量然后使用图像分割的办法划出无效数据点，用邻域差值积分法找出残差点，再生成相位导数质量图，根据像素点的优先级用洪水填充法进行去包裹运算这种新的相位去包裹算法将分割线算法和质量图导向算法有效结合，可以有效抑制噪声，而且对于表面不连续的样品也同样适用然后将图像处理过程设计成用户操作界面，满足所提出的可视性和实时性要求最后，分别对计算机模拟数据和实验室测量数据进行计算，首先验证LED相较激光对于噪声的抑制作用，然后验证新算法的适用性和优越性，根据恢复的表面形貌结果进一步给出系统参数(本文来源于《哈尔滨工业大学》期刊2012-12-01）
王岩峰,贾书海[6]（2011）在《基于调制度分析与二阶导数导向的综合相位去包裹算法》一文中研究指出在相位去包裹算法中,以调制度为参数的质量导向算法能够较好地抑制阴影、陡峭变化区域错误的传播;而以包裹相位二阶导数模值为参数的导向算法能引导去包裹沿连续性最高的方向进行。综合这两种参数导向算法的特点,提出了基于调制度分析与包裹相位二阶导数导向的综合去包裹算法。该算法首先找到一个最优门限,并根据该门限将调制度质量图分为"好"与"差"两种区域,然后在好质量区域采用洪水算法以提高去包裹算法效率,在差质量区域利用包裹图二阶导数模值引导去包裹路径沿连续性最好的方向进行。对投影条纹法和数字散斑法所得的包裹图处理结果表明,所提出的算法具有较高稳健性和效率。(本文来源于《激光与光电子学进展》期刊2011年04期）
翟伟光[7]（2010）在《晶圆表面形貌的微分干涉系统图像相位提取及去包裹》一文中研究指出表面形貌测量在工业产品自动检测、机械制造、电子工业、机器人视觉等领域有着极大的作用。对晶圆表面形貌测量的在线检测,成为半导体生产工艺中极其重要的一环。本文在对表面微观形貌测试技术发展动态进行深入调研的基础上,将激光偏振干涉、显微技术和相移技术相结合,构建了晶圆微观表面形貌测量系统。利用此测量系统,采集图像得到多幅相移干涉图,由相位提取算法进行相位提取并进行表面形貌重构,并对图像表面进行相位去包裹处理,最终实现晶圆表面形貌的测量。本文首先研究了微分相移干涉测量系统的基本原理,包括相移干涉原理和移相方法,完成了测量系统总体方案设计。然后重点介绍了采集图像处理方法,如何进行相位提取算法,以及可能出现的图像包裹现象和针对这种现象的响应处理算法。最后对实验采集到五幅干涉图采用线性相移误差不敏感的五步相位提取算法进行处理,得到了样品表面形貌。然后用相位质量图去包裹算法对得到样品表面形貌图像进行质量分析和相位去包裹处理。相位去包裹算法在光学非接触测量中起到非常重要的作用,因为相位图得到的是限制在-π到π的范围之内,因此我们称此图像为相位包裹图像。通过正确的相位去包裹算法我们能够得到去包裹之后真是相位。本论文的工作主要是针对这部分内容进行研究。研究和实验结果表明,所设计的晶圆表面形貌微分干涉系统方案正确,实验装置可行,可以工作在普通实验条件下,抗干扰能力强。(本文来源于《哈尔滨工业大学》期刊2010-12-01）
张明财[8]（2008）在《投影栅线法形貌测量中系统标定及相位去包裹的研究》一文中研究指出物体表面叁维形貌测量具有十分重要的应用价值,在自动化加工、产品质量检测、实物仿形、计算机辅助设计、生物医学、机器视觉、艺术雕塑等领域都有着广泛的应用前景,因此成为当今国内外的热门研究课题。投影栅线法叁维形貌测量做为物体表面叁维形貌测量的一种,由于其具有面场数据测量、实时性强、测量范围广的优点,更是成为叁维形貌测量研究中的热点。由于投影栅线法叁维形貌测量中数据点是串行处理的,后续数据点的处理要参照前面数据点的处理结果,所以很容易造成误差和错误的传播,导致整个测量数据的错误,这是影响投影栅线法叁维形貌测量实用化的一个主要原因。此外如何在不需要苛刻光路条件的前提下还原出叁维坐标数据也是投影栅线法叁维形貌测量实用化所需要考虑的问题。本课题构建了一套完整的投影栅线法形貌测量系统,包括栅线的投影,变形栅线图的拍摄、相位去包裹、叁维数据的还原及叁维物体重建等,并针对影响投影栅线法形貌测量实用性的几个关键难点问题进行重点研究。本课题取得的主要研究成果如下:1根据实际实验所测结果和去包裹过程的单步显示观察,分析了去包裹中“拉线”错误的主要产生原因:对复杂表面采样(数据量、采样密度)不足。“拉线”的产生使本该连续的相位分布出现跳变,并最终使得所还原的叁维数据出现错误。为解决此问题同时不降低总体测量的分辨率,本文提出了一种新的基于双频光栅投影去包裹的去包裹算法,在实际测量中取得了很好的效果。2设计了一种新的系统标定方法,通过标定拍摄摄像机和对一个标准物体的测量经过软件求解系统各个参数,并依此参数来还原叁维坐标。该标定方法不需要传统方法中对系统摄像机和投影设备的位置耦合性条件要求(平行性条件和光轴相交条件),对摄像机和投影装置没有位置上的苛刻要求,因此使系统调节简单方便,提高了测量精度,简化了测量系统结构和测量步骤。实验结果表明该标定方法,结果准确度达到了测量的要求,是一种可行性很强的标定方法。3本课题采用双摄像机拍摄的方法,减少测量盲区,扩大了测量范围。本文讨论了双摄像机拍摄中测量物体位置以及测量物体表面朝向对测量数据横纵向分辨率的影响,并给出了测量数据横纵向分辨率调整的具体算法。提出了改进的数据相加拼接算法,通过采用线性拼接方法,提高了拼接数据的质量。4编写了完整的叁维形貌测量系统软件,测量软件具有实时光栅投影、图像采集、系统参数求解、叁维数据还原显示等功能。软件用C++语言编写,对计算机硬件要求低,使用简单、操作方便,具有很强的实用性和可移植性。(本文来源于《山东大学》期刊2008-05-12）
许忠保,易军,张楠[9]（2007）在《基于泽尼克多项式的相位去包裹算法》一文中研究指出研究了泽尼克(Zernike)多项式用于波面数据拟合和相位去包裹方法,针对光滑表面以及由于少数低调制度点、散斑点、噪声等引起的相位去包裹不连续情形,采用Zernike多项式对误差点区域进行拟合,通过阈值的设置,将误差点清除并予以拟合.该方法具有计算快速的特点.(本文来源于《湖北工业大学学报》期刊2007年06期）
甄志强,李新忠,郭先红,汤正新,李立本[10]（2007）在《相位图去包裹方法及其进展》一文中研究指出近年来付立叶变换法和相移法在辅助光学测量中得到了广泛的应用,但处理后的相位图一般包裹在[-π,π)间,要获得正确的物理变化信息,需要对原始相位图进行去包裹运算。相位去包裹算法主要有传统算法、分割线算法、最小二乘算法、细胞自动机算法、付立叶变换算法、质量导向图算法等。本文较详细地阐述了几种相位去包裹算法的数学模型和基本原理及其最新进展,分析了各自的优缺点及其适用范围。(本文来源于《广西物理》期刊2007年04期）
去包裹论文开题报告
（1）论文研究背景及目的
此处内容要求：
首先简单简介论文所研究问题的基本概念和背景，再而简单明了地指出论文所要研究解决的具体问题，并提出你的论文准备的观点或解决方法。
写法范例：
针对时域相位去包裹方法在叁维形貌测量时存在采集图像幅数多、数据量大和处理时间长等问题,提出了一种改进的两步时域相位去包裹算法。首先,增加中间灵敏度投影条纹,将不同灵敏度光栅条纹投射到待测物体表面,由CCD相机采集;再通过不同灵敏度级联,得到最终灵敏度系数G值较大的去包裹相位数据。推导了两步时域相位去包裹算法的初始相位条件。并进行了实际测量。结果表明,本文方法可实现高灵敏度叁维形貌测量,测量结果精度更高。
（2）本文研究方法
调查法：该方法是有目的、有系统的搜集有关研究对象的具体信息。
观察法：用自己的感官和辅助工具直接观察研究对象从而得到有关信息。
实验法：通过主支变革、控制研究对象来发现与确认事物间的因果关系。
文献研究法：通过调查文献来获得资料，从而全面的、正确的了解掌握研究方法。
实证研究法：依据现有的科学理论和实践的需要提出设计。
定性分析法：对研究对象进行“质”的方面的研究，这个方法需要计算的数据较少。
定量分析法：通过具体的数字，使人们对研究对象的认识进一步精确化。
跨学科研究法：运用多学科的理论、方法和成果从整体上对某一课题进行研究。
功能分析法：这是社会科学用来分析社会现象的一种方法，从某一功能出发研究多个方面的影响。
模拟法：通过创设一个与原型相似的模型来间接研究原型某种特性的一种形容方法。
去包裹论文参考文献
[1].杜光亮.投影栅叁维形貌相位去包裹算法研究[D].山东大学.2017
[2].杜光亮,张朝瑞,周灿林,司书春,李辉.一种改进的两步时域相位去包裹算法[J].光电子·激光.2015
[3].周灿林,司书春,李辉,雷振坤.无相位去包裹的微分法叁维形貌测量[J].光电子·激光.2015
[4].周灿林,刘同川,司书春,徐建强,黄祥岭.改进的阶梯相位去包裹算法研究[J].光电子.激光.2013
[5].盛希晨.晶圆精密视觉检测仪中的相位去包裹算法[D].哈尔滨工业大学.2012
[6].王岩峰,贾书海.基于调制度分析与二阶导数导向的综合相位去包裹算法[J].激光与光电子学进展.2011
[7].翟伟光.晶圆表面形貌的微分干涉系统图像相位提取及去包裹[D].哈尔滨工业大学.2010
[8].张明财.投影栅线法形貌测量中系统标定及相位去包裹的研究[D].山东大学.2008
[9].许忠保,易军,张楠.基于泽尼克多项式的相位去包裹算法[J].湖北工业大学学报.2007
[10].甄志强,李新忠,郭先红,汤正新,李立本.相位图去包裹方法及其进展[J].广西物理.2007
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