基于光功率损耗的外绝缘表面污秽度检测系统影响因素研究

基于光功率损耗的外绝缘表面污秽度检测系统影响因素研究

论文摘要

为了提高基于光功率损耗的绝缘表面污秽度测量方法的精度,搭建了基于裸光纤的表面污秽度检测系统。基于该系统,对盐溶液浓度、灰悬浊液浓度、光纤形状、光源类型和光纤类型对表面附盐导致的光功率损耗的影响进行了实验研究,并对实验结果进行了较为深入的理论分析。实验结果表明:随着盐溶液浓度的增加,光功率损耗逐渐增大;灰悬浊溶液浓度对光功率损耗影响不大;采用U型光纤时的光功率衰减比直线型光纤更显著;采用宽谱(多纵模)光源时的光功率衰减比窄谱(单纵横)光源更显著;采用多模光纤的光功率衰减比单模更显著。理论分析结果很好地解释了以上实验结果,验证了实验结果的可靠性。进行基于光纤的外绝缘表面污秽度测量时应采用U型状态、半导体光源和多模光纤以提高测量精度。

论文目录

  • 0 引言
  • 1 光纤污秽度检测实验介绍
  •   1.1 实验设备及系统
  •   1.2 光功率损耗原理
  •   1.3 实验过程
  • 2 实验分析
  •   2.1 污秽度的影响
  •   2.2 光纤形状的影响
  •   2.3 光源类型的影响
  •   2.4 光纤类型的影响
  • 3 结论
  • 文章来源

    类型: 期刊论文

    作者: 徐志钮,陈飞飞,赵丽娟,张智娟,杨志,黄耀德

    关键词: 污秽度,光功率损耗,光纤,光纤形状,光源类型,光纤类型

    来源: 电力自动化设备 2019年03期

    年度: 2019

    分类: 工程科技Ⅱ辑

    专业: 电力工业

    单位: 华北电力大学电气与电子工程学院,国网新疆电力公司经济技术研究院

    基金: 国家自然科学基金资助项目(51607066,61377-088),中央高校基本科研业务费专项资金资助项目(2017-MS110),河北省自然科学基金资助项目(E2012502045)~~

    分类号: TM216

    DOI: 10.16081/j.issn.1006-6047.2019.03.018

    页码: 114-119

    总页数: 6

    文件大小: 1371K

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