应用经验正交函数估算顶部电离层电子密度剖面

应用经验正交函数估算顶部电离层电子密度剖面

论文摘要

本文基于IRI模型、地面数字测高仪和GNSS TEC数据,提出了一种利用经验正交函数(Empirical Orthogonal Function,简称EOF)估算顶部电离层电子密度剖面的方法,并将其应用于美国Millstone Hill测高仪和GNSS数据以估算顶部电离层电子密度剖面.通过将估算的临界频率、峰值高度、400km以上电子密度分别与测高仪实测临界频率、测高仪实测峰值高度以及非相干散射雷达实测400km以上电子密度作对比以对方法的有效性进行验证.统计结果显示估算临界频率、峰值高度与测高仪实测数据基本一致,400km以上估算电子密度相较于非相干散射雷达实测的绝对误差平均值仅是测高仪推算400km以上电子密度绝对误差平均值的一半左右.所以本文提出的方法可以更加精确地估算顶部电离层电子密度.

论文目录

  • 0 引言
  • 1 数据介绍
  • 2 经验正交函数 (EOF)
  • 3 建模过程
  •   3.1 通过测高仪底部电子密度估算顶部电离层
  •   3.2 联合底部电子密度、垂直TEC两种数据估算顶部电离层
  • 4 结论
  • 文章来源

    类型: 期刊论文

    作者: 王林,万卫星,乐新安,任志鹏,佘承莉

    关键词: 数字测高仪,经验正交函数,顶部电离层,电子密度

    来源: 地球物理学报 2019年05期

    年度: 2019

    分类: 基础科学

    专业: 地球物理学

    单位: 地球与行星物理重点实验室中国科学院地质与地球物理研究所,中国科学院地球科学研究院,中国科学院大学地球与行星科学学院

    基金: 国家自然科学基金重大仪器专项(41427901),基金委创新群体(41621063)资助

    分类号: P352

    页码: 1582-1590

    总页数: 9

    文件大小: 426K

    下载量: 84

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