半导体淀积工艺及其设备技术研究

半导体淀积工艺及其设备技术研究

论文摘要

薄膜工艺是半导体工艺重要组成部分,较广泛的采用物理气相沉积和化学气相沉积方法。通常把PECVD才直接称为淀积工艺,其工艺受多方面因素影响,通过工艺和设备技术的研究,提高工艺可靠性,减少设备故障。

论文目录

  • 0 引言
  • 1 薄膜制作方法
  • 2 PECVD淀积工艺
  • 3 设备技术
  • 4 结束语
  • 文章来源

    类型: 期刊论文

    作者: 蔡颖岚,刘峰,杜学寨,殷玮,杜妍

    关键词: 薄膜工艺,物理气相沉积,化学气相沉积,淀积系统

    来源: 设备管理与维修 2019年10期

    年度: 2019

    分类: 工程科技Ⅱ辑,工程科技Ⅰ辑,信息科技

    专业: 材料科学,工业通用技术及设备,无线电电子学

    单位: 重庆声光电有限公司

    分类号: TB383.2;TN305

    DOI: 10.16621/j.cnki.issn1001-0599.2019.05D.60

    页码: 117-118

    总页数: 2

    文件大小: 1854K

    下载量: 234

    相关论文文献

    • [1].高密度等离子体淀积工艺对颗粒度的影响[J]. 上海工程技术大学学报 2016(02)
    • [2].磁控溅射淀积速率影响因素及最佳工艺参数研究[J]. 无线互联科技 2010(04)
    • [3].HDP介质淀积引起的等离子充电损伤机制研究[J]. 电子器件 2009(03)
    • [4].原子层淀积技术应用于太阳电池的研究进展[J]. 半导体光电 2012(03)
    • [5].双层金属布线中隔离介质淀积工艺研究[J]. 微电子学 2009(02)
    • [6].通过淀积-腐蚀-淀积实现平坦化的研究[J]. 微处理机 2014(04)
    • [7].PECVD淀积SiO_2的应用[J]. 功能材料与器件学报 2008(01)
    • [8].氮化铝薄膜的原子层淀积制备及应用[J]. 华中科技大学学报(自然科学版) 2009(07)
    • [9].阳极氧化铝的原子层淀积封孔研究[J]. 材料保护 2013(S1)
    • [10].PECVD淀积SiO_2薄膜工艺研究[J]. 微处理机 2010(01)
    • [11].砂柱中铁锰的淋溶淀积及其对Pb(Ⅱ)和Cd(Ⅱ)的吸附特征[J]. 农业环境科学学报 2014(02)
    • [12].Si_(1-x-y)Ge_xC_y的淀积工艺和材料特性[J]. 半导体技术 2012(07)
    • [13].编者的话[J]. 中国科学院院刊 2012(S1)
    • [14].基于TEOS-O_2-N_2淀积SiO_2工艺研究[J]. 电子工艺技术 2012(05)
    • [15].黄棕壤土柱中铁锰的淋溶淀积及其对Pb~(2+)的吸附解吸[J]. 华中农业大学学报 2016(02)
    • [16].多晶电阻工艺监控与影响因素研究[J]. 电子与封装 2015(05)
    • [17].开栏释义[J]. 商品混凝土 2011(02)
    • [18].降低高k介质层微粒污染的工艺研究[J]. 微电子学 2019(06)
    • [19].LPCVD设备维护保养的重要性分析[J]. 天津科技 2018(06)
    • [20].N_2和NH_3退火对铪铝氧栅介质C-V特性的影响[J]. 固体电子学研究与进展 2009(02)
    • [21].LPCVD氮化硅淀积工艺铁离子沾污研究[J]. 半导体光电 2015(01)
    • [22].利用原子淀积Al_2O_3对InP光学稳定性的研究[J]. 红外与激光工程 2013(12)
    • [23].纳米金淀积的多孔硅靶增强样品的激光解吸/电离质谱信号(英文)[J]. 无机化学学报 2009(04)
    • [24].ALD淀积温度对HfO_2高k栅介质材料特性的影响[J]. 西安电子科技大学学报 2012(02)
    • [25].热壁LPCVD设备TEOS工艺炉管的使用与维护[J]. 半导体技术 2012(10)
    • [26].Altatech推出新型CVD、ALD设备[J]. 电子工业专用设备 2008(10)
    • [27].LPCVD制备二氧化硅薄膜工艺研究[J]. 电子工业专用设备 2011(06)
    • [28].提高多晶电阻工艺稳定性[J]. 电子与封装 2009(08)
    • [29].水做的湘家荡[J]. 散文诗世界 2014(07)
    • [30].不同淋溶方式下石英砂柱中铁锰的运移淀积特征[J]. 中国科技论文 2013(12)

    标签:;  ;  ;  ;  

    半导体淀积工艺及其设备技术研究
    下载Doc文档

    猜你喜欢