可测试设计论文_温立国,王岩

导读:本文包含了可测试设计论文开题报告文献综述、选题提纲参考文献及外文文献翻译,主要关键词:测试,覆盖率,水印,故障,随机性,载荷,信道。

可测试设计论文文献综述

温立国,王岩[1](2018)在《上电复位电路在RFID标签中的可测试性设计》一文中研究指出在RFID标签的设计中,系统的功耗及性能一致性至关重要。上电复位电路作为整个系统的初始复位信号,其检测电源电压的大小、一致性和可测试性直接影响到标签的性能好坏和量产后的一致性。本文针对RFID标签对低功耗、高一致性的需求,通过创新设计了一款低功耗的POR模块,针对POR的特点设计了测试电路,成功实现POR电路检测电压的可测试、可筛选和可调整。圆片测试结果符合设计预期,为实现高性能,低成本的标签设计奠定基础。(本文来源于《中国集成电路》期刊2018年10期)

吴哲琼,范锦彪,王燕[2](2018)在《光纤传输的发动机支撑可测试部件设计》一文中研究指出对发动机支承结构测试可以获取行驶过程中发动机动载荷变化数据,为履带式特种车辆发动机设计改进提供依据。舱内空间狭小、高温、强磁场环境对测试数据的影响。针对此恶劣环境,提出了一种将测试电路与原有机械结构相融合的新测试方法,在不改变原结构性能的基础上对其重新设计,新的机械结构本身就是一部测试仪器。选择光纤作为数据、命令传输的载体,设计基于LABVIEW的上位机读取测试数据。实验证明该可测试部件能够在舱内复杂环境下稳定工作,采集到有效数据的质量较好,为动力舱内参数获取提供了较好的解决方法。(本文来源于《电子器件》期刊2018年04期)

万贺[3](2018)在《某型信息处理设备的可测试分析与测试策略设计》一文中研究指出随着现代科技的快速发展,电子产品的研制周期越来越短,功能和结构越来越复杂,如何快速准确的检测并定位到故障源成为测试性研究的关键。尤其对于大型电子设备,测试性设计已经贯穿于产品的设计和生产整个过程中,可靠性和可维护性已经成为产品的重要技术指标。信息处理设备作为导弹导引系统的核心部件,在测试性设计方面有更高的要求。本文在研究测试性理论的基础上,运用多信号流图模型完成对信息处理设备的测试性分析,并对分析结果进行优化设计,最后通过搭建系统测试平台验证对信息处理系统测试性分析与设计的正确性。首先,通过对信息处理系统的分析,完成功能和模块的划分,根据各模块故障类型和故障特征信号以及功能参数设计合理的测试点和对应的测试。基于对系统的分析绘制出系统的结构框图,并根据结构框图建立系统的多信号流图模型,然后计算系统的故障-测试相关矩阵。基于故障-测试相关矩阵完成对信息处理设备的单故障特征分析、多故障特征分析和测试性指标参数分析,并得出测试性分析结果,计算测试性指标如故障检测率和隔离率等,并根据分析结果对故障-测试相关矩阵进行初步简化。其次,基于简化后的相关矩阵通过改进的遗传算法优选出了最优测试项,并通过计算测试性指标评估算法的有效性。然后在最优测试项的基础上研究了测试项的最优测试序列问题,并详细介绍了利用DPSO-AO*算法求解最优测试序列问题的过程,最终得到了信息处理系统的最优测试策略决策树。针对信息处理系统测试性优化算法开发了人性化的人机交互软件,提高了算法的运行效率。最后,基于对信息处理设备的测试性分析与设计,设计开发了系统测试平台,包括硬件电路的搭建和软件系统的开发。完成了对信息处理系统各功能模块的测试,验证了测试点选取与优化的正确性和最优测试序列的有效性,并将测试结果打印到Excel表格中。论文的研究工作实现了对电子设备的图形化建模分析方法,并基于多信号流图模型完成了对被测系统的测试性分析与设计。另外,本文研究的最优测试策略问题对复杂电子设备的测试性设计提供了一定的研究思路。(本文来源于《北京交通大学》期刊2018-06-01)

张守鹏,王栋,纪传滨[4](2017)在《某型军用测试设备可测试性设计验证》一文中研究指出在某型军用测试设备设计的初期就考虑可测试性要求,通过优化系统结构并以方便测试为目的进行系统设计,通过故障树的方法从系统层面对测试设备的可测试性进行分析并验证,可为其它测试设备的研制提供参考。(本文来源于《电子测试》期刊2017年19期)

白宇峰,吕寅鹏[5](2017)在《基于抗随机性故障分析的高效率可测试设计方法》一文中研究指出为了在提高芯片测试覆盖率的同时减少生产测试时的测试向量,提出了一种基于对电路进行抗随机向量故障分析,进而在电路中插入测试点,从而提供芯片的测试效率的方法。实际电路的实验结果表明,使用了该方法的可测性设计,在不损失测试覆盖率的情况下,能够有效地减少平均45.85%的测试向量,从而帮助设计者提高芯片的测试效率。(本文来源于《电子技术应用》期刊2017年08期)

舒钰[6](2017)在《卫星导航抗干扰A/D芯片的可测试性设计》一文中研究指出ASIC集成电路设计开发中的瑕疵与电路故障是芯片实现的最大困难,本文详细介绍了基于130nm工艺的卫星导航抗干扰A/D芯片的可测性设计,并从测试的覆盖率、成本等方面提出了优化改进方案,该方案的测试覆盖率最高可达99.93%,并缩减了测试时间和成本,该芯片顺利通过量产,证明了可测试性设计的有效性。(本文来源于《现代导航》期刊2017年03期)

黄晓男[7](2016)在《基于可测试性设计结构的IP水印技术研究》一文中研究指出集成电路设计如今已经进入到了片上系统时代。IP核(IP:intellectual property)复用技术是片上系统的主流设计技术。IP核复用技术提高了设计效率,加快了上市时间,推动了集成电路产业的进一步发展。在IP核交易十分频繁的今天,IP核非常容易被非法使用。数字水印是一种有效的IP核保护技术。该技术可以将IP核拥有者的信息嵌入到IP核中,以保护IP核拥有者的合法权益。在数字水印技术中,基于约束的水印技术是研究的主流。根据水印技术检测机制的不同,水印技术可以分为静态水印技术和动态水印技术。基于有限状态机的水印技术和基于可测试性设计结构的水印技术是两种常见的动态水印技术。因为水印在较低的设计层次中嵌入,所以基于可测试性设计结构的水印技术所引起的开销比基于有限状态机的水印技术更好控制。本文主要研究基于可测试性设计结构的水印技术。本文提出了一种新的基于可测试性设计结构的水印方案。该方案基于一种利用了扫描单元互补输出端的扫描单元排序方法。在该方案中,IP核拥有者的信息首先被转化成水印序列。在扫描单元排序过程中,水印通过约束两个扫描单元之间的连接方式嵌入。水印嵌入过程与测试功耗优化过程一起进行,这样可以减少测试功耗方面的开销。水印嵌入完成后,在含有水印信息的扫描链的扫描输入端施加特定的水印检测激励,可以在响应的特定位置上提取出水印序列。在集成电路被封装后,水印可以实现现场检测。当嵌入的水印序列长度分别为64位和128位时,方案的巧合率分别为5.42E-20和2.94E-39。因为巧合率很低,所以该方案可以提供很强的产权证明。本文还讨论了对该水印方案的典型攻击。实验结果表明,当嵌入的水印序列长度分别为64位和128位时,该水印方案在测试功耗方面的开销很低。在完成以上方案实验的过程中,为水印方案提供基础的扫描单元排序方法的缺点暴露了出来。当该方法应用在测试数据量很大的基准电路时,比较耗时。本文对该方法进行了改进。通过减少扫描单元排序过程中候选扫描单元的个数,该方法的时间复杂度得到降低。基于这个改进的方法,提出了相应改进的水印方案。通过引入参数K,水印方案的复杂度从原来的O(N2)降到了O(KN)。在能使改进的水印方案减少一半以上计算时间的前提下,通过搜索,找出使水印开销最小的K值。实验结果表明,在使计算时间减少一半以上的同时,改进的水印方案在测试功耗方面仍然可以实现低开销。(本文来源于《哈尔滨工业大学》期刊2016-12-01)

李孟扬[8](2016)在《基于密码散列函数的安全可测试性设计技术研究》一文中研究指出随着人们对信息安全的重视,以及移动支付、智能家居、可穿戴设备等应用场景的兴起,用于身份验证和信息加密的加密芯片在电子设备中的应用越来越广泛。而如何保证芯片自身数据的安全,也成为设计这类加密芯片时必须考虑的因素。在交付之前,加密芯片必须经过充分测试以保证质量。为充分测试芯片,达到足够的故障覆盖率,需要向原有设计中插入额外的可测试性设计结构。扫描链是工业界最广泛使用的可测试性设计结构。在扫描链未被添加安全防护措施时,攻击者可以轻易地将扫描链用作侧信道提取加密中间结果,然后进行分析以破解密钥,这对芯片内数据的安全造成了极大威胁。目前已提出的抵抗基于扫描的侧信道攻击的方案并未能够同时保证芯片的可测试性和安全性。本课题为解决安全可测试性设计中可测试性与安全性的共存问题,提出了利用利用密码散列函数对测试响应进行后处理来阻止基于扫描的侧信道攻击的方案。在原有的扫描设计中,测试响应在捕获之后直接由扫描结构移出,攻击者可以直接获得测试响应,并通过对测试响应的分析破解原本应当保密的信息。而在本课题提出的方案中,通过增加后处理电路,测试响应首先经过一个扩展函数来修改其中的部分位,并且被添加冗余位。然后,扩展后的测试响应会经过密码散列函数进行处理生成散列值。原有的测试响应不再输出,测试结果以散列值的形式呈现。经过分析可知,在对电路进行测试时,散列值依旧可以用于诊断电路的故障,因此测试依然能够正常进行,而攻击者无法根据散列值恢复原有的测试响应,因此无法进行对测试响应的各种分析。根据对现有文献的调研结果,目前对于一些密码散列函数尚未存在有效的攻击方式,因此该方案可以有效阻止基于扫描的侧信道攻击。同时,本课题也对该方案进行了具体的硬件实现。在硬件实现中,为了保证密码散列函数模块的原有功能,测试响应将通过总线传送至密码散列函数。我们选用的总线协议是目前唯一开源且免费的片上互联协议WISHBONE,采用的密码散列函数为SHA家族中最新的SHA3算法。通过设计相应的接口电路,使测试数据按照总线协议的要求发送。为了简化接口电路的控制逻辑,提高测试数据的采集效率,我们通过详细的分析和推导,提出了确定扫描链上测试数据采集位置的方法。由于优化后的接口电路的结构比较简单,可以采用完全的时序测试,此情况下攻击者无法控制接口电路与密码散列函数之间的握手信号的情况,破解密码散列函数的输入最多需要尝试2512次,被暴力破解的概率极低。硬件实现的结果证明,与目前已有的方案相比,本课题提出的方案在具有良好的安全性与可测试性的同时,开销较低。因此,该方案为加密芯片的可测试性设计提供了参考,在理论及工程应用上都具有较好的价值。(本文来源于《哈尔滨工业大学》期刊2016-12-01)

杨福先,冯飞[9](2016)在《通信设备可测试性设计技术分析》一文中研究指出随着通信技术的高速发展、芯片集成度的不断提高以及电路板复杂性的不断增加,传统的测试模型和测试方法已经不能满足当前的测试要求,测试费用急剧增加。通信设备可测性设计对于提高通信设备的测试水平、缩短故障检测和隔离时间,进而降低生产测试成本及生命周期费用具有重要的意义。本文综述了通信设备可测性技术的基本原理和设计思路,并对其关键技术进行了具体分析。(本文来源于《通讯世界》期刊2016年13期)

吴立斌[10](2016)在《集成电路可测试性设计与验证》一文中研究指出文章介绍了集成电路系统芯片(So C)以及IP核相关理论知识,对DFT集成电路可测试性设计进行了概述,给出了几种常用IC产品的测试方法,并对以后DFT可测试性设计的发展进行了论述;提出了一种基于图像处理的多级滤波芯片DFT测试进行分析,给出了DFT Compiler软件实验验证报告,有效地提高了测试覆盖率。(本文来源于《无线互联科技》期刊2016年11期)

可测试设计论文开题报告

(1)论文研究背景及目的

此处内容要求:

首先简单简介论文所研究问题的基本概念和背景,再而简单明了地指出论文所要研究解决的具体问题,并提出你的论文准备的观点或解决方法。

写法范例:

对发动机支承结构测试可以获取行驶过程中发动机动载荷变化数据,为履带式特种车辆发动机设计改进提供依据。舱内空间狭小、高温、强磁场环境对测试数据的影响。针对此恶劣环境,提出了一种将测试电路与原有机械结构相融合的新测试方法,在不改变原结构性能的基础上对其重新设计,新的机械结构本身就是一部测试仪器。选择光纤作为数据、命令传输的载体,设计基于LABVIEW的上位机读取测试数据。实验证明该可测试部件能够在舱内复杂环境下稳定工作,采集到有效数据的质量较好,为动力舱内参数获取提供了较好的解决方法。

(2)本文研究方法

调查法:该方法是有目的、有系统的搜集有关研究对象的具体信息。

观察法:用自己的感官和辅助工具直接观察研究对象从而得到有关信息。

实验法:通过主支变革、控制研究对象来发现与确认事物间的因果关系。

文献研究法:通过调查文献来获得资料,从而全面的、正确的了解掌握研究方法。

实证研究法:依据现有的科学理论和实践的需要提出设计。

定性分析法:对研究对象进行“质”的方面的研究,这个方法需要计算的数据较少。

定量分析法:通过具体的数字,使人们对研究对象的认识进一步精确化。

跨学科研究法:运用多学科的理论、方法和成果从整体上对某一课题进行研究。

功能分析法:这是社会科学用来分析社会现象的一种方法,从某一功能出发研究多个方面的影响。

模拟法:通过创设一个与原型相似的模型来间接研究原型某种特性的一种形容方法。

可测试设计论文参考文献

[1].温立国,王岩.上电复位电路在RFID标签中的可测试性设计[J].中国集成电路.2018

[2].吴哲琼,范锦彪,王燕.光纤传输的发动机支撑可测试部件设计[J].电子器件.2018

[3].万贺.某型信息处理设备的可测试分析与测试策略设计[D].北京交通大学.2018

[4].张守鹏,王栋,纪传滨.某型军用测试设备可测试性设计验证[J].电子测试.2017

[5].白宇峰,吕寅鹏.基于抗随机性故障分析的高效率可测试设计方法[J].电子技术应用.2017

[6].舒钰.卫星导航抗干扰A/D芯片的可测试性设计[J].现代导航.2017

[7].黄晓男.基于可测试性设计结构的IP水印技术研究[D].哈尔滨工业大学.2016

[8].李孟扬.基于密码散列函数的安全可测试性设计技术研究[D].哈尔滨工业大学.2016

[9].杨福先,冯飞.通信设备可测试性设计技术分析[J].通讯世界.2016

[10].吴立斌.集成电路可测试性设计与验证[J].无线互联科技.2016

论文知识图

所制作的低通滤波器照片残留的高频噪声信号低通滤波器的测试与仿真结果滤波器的仿真和测试曲线结果模拟信号调理通道组成放电电流波Fig.7-16Dsichargecurren...

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