手征介质与陈绝缘体界面附近原子的自发辐射研究

手征介质与陈绝缘体界面附近原子的自发辐射研究

论文摘要

对手征特异材料介质与陈绝缘体材料界面附近二能级原子的自发辐射特性进行了研究.推导计算了手征介质界面及其与陈绝缘体材料界面的反射系数矩阵,并根据并矢格林函数求得此环境下二能级原子自发衰减率的表达式.对手征介质和陈绝缘体材料特性参数影响下的原子自发辐射进行了数值计算,分别对平行和垂直于界面的偶极子自发衰减率进行讨论,并对辐射模式和消逝模式下的自发辐射进行了分析.结果表明,由于手征参量的存在,手征介质界面附近的原子自发衰减率与普通介质相比被增强.陈绝缘体则使得界面附近原子的自发辐射被明显抑制,且当手征参量较大时,陈绝缘体的抑制效应更加显著.

论文目录

  • 0 引言
  • 1 模型与理论计算
  • 2 数值计算与分析
  • 3 结论
  • 文章来源

    类型: 期刊论文

    作者: 王驰,曾然,侯金鑫,李浩珍,李齐良,毕美华,羊亚平

    关键词: 量子光学,自发辐射,手征介质,陈绝缘体,二能级原子

    来源: 光子学报 2019年02期

    年度: 2019

    分类: 基础科学

    专业: 物理学

    单位: 杭州电子科技大学通信工程学院,同济大学物理科学与工程学院先进微结构材料教育部重点实验室

    基金: 国家自然科学基金(Nos.11574068,61501157),浙江省自然科学基金(No.LQ16F050004)~~

    分类号: O431.2

    页码: 181-188

    总页数: 8

    文件大小: 1899K

    下载量: 39

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