论文摘要
<正>二次离子质谱仪（SIMS）测定铀微粒同位素时,邻近微粒间会产生相互干扰。通过微操作用CRM U0002和CRM U350制备了不同间距的相邻微粒对样品,在IMS-6f型SIMS上开展了铀微粒在不同间距、不同测量顺序下的铀同位素测量研究。结果表明:相邻微粒间的安全距离较一次束的束斑尺寸大得多;丰度低的微粒较丰度高的微粒受到的干扰更严重、安全距离也更大;后测量的微粒受先测微粒的离子
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文章来源
类型: 期刊论文
作者: 张燕,赵永刚,王同兴,沈彦,王凡,鹿捷
来源: 中国原子能科学研究院年报 2019年00期
年度: 2019
分类: 工程科技Ⅱ辑
专业: 核科学技术
单位: 中国原子能科学研究院放射化学研究所
分类号: TL25
页码: 133-134
总页数: 2
文件大小: 80K
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