基于MOS结构中电子积累效应的表面等离激元光场局域和调控

基于MOS结构中电子积累效应的表面等离激元光场局域和调控

论文摘要

表面等离子激元(Surface plasmon polariton,SPP)作为一种沿着正/负介电常数材料界面传输的特殊电磁模式,往往被用于实现亚波长量级的电磁场限制和操控。然而传统金属SPP面临着两个问题:SPP波动态调控的不易实现,传输损耗与光场局域之间的矛盾。这两者仍然制约着SPP器件的实际应用,在中红外和太赫兹波段,由于金属有着很大的介电常数虚部,传统金属SPP器件无法在相对合理的传输损耗下实现亚波长量级的模场限制。基于金属-氧化物-半导体(Metal-Oxide-Semiconductor,MOS)在半导体中通过形成载流子积累层,可以实现半导体内介电常数从负到正梯度分布,并产生一个介电常数为零的界面。这一结构在约2-20微米的中红外波段不仅可以实现亚波长量级的模场限制,而且可以利用MOS结构对载流子的控制实现对光场的控制。本文分别从电子学和电磁场分析的角度对Ag/HfO2/N-GaAs结构进行了理论研究,其主要研究工作包括:(1)基于泊松方程对Ag/HfO2/N-GaAs结构的一维MOS平板进行了数值仿真,计算了积累工作模式下的电子浓度的分布,并根据Drude-Lorentz模型得到了复介电常数的分布,分析了外加电压、氧化物厚度、掺杂浓度对载流子分布和介电常数分布的影响。(2)对积累工作模式下的一维MOS平板结构进行了模式分析,结果表明该结构可以支持两个模式,分析了这两个模式的形成机理和模场分布特点,研究了这两个模式的色散曲线、传播长度、模式尺寸,以及外加电压、氧化物层厚度和半导体掺杂浓度对模式特性的调控作用。(3)分别设计了半导体脊形和金属条形二维MOS结构并进行了模式分析,解释了二维MOS结构中出现的多侧模现象及其电压依赖性,研究了模式的色散曲线、传播长度和模式尺寸,并与无外加电压的情况进行了比较。

论文目录

  • 摘要
  • Abstract
  • 1 绪论
  •   1.1 引言
  •   1.2 国内外研究现状
  •   1.3 本论文的主要研究内容
  • 2 MOS结构的理论基础
  •   2.1 引言
  •   2.2 MOS结构的工作原理
  •   2.3 积累工作模式下MOS结构中的载流子浓度分布
  •   2.4 Drude模型和半导体的复介电常数
  •   2.5 不同结构参数对载流子浓度及介电常数分布的影响
  •   2.6 小结
  • 3 MOS一维平板结构的模式分析
  •   3.1 引言
  •   3.2 一维MOS平板结构中的电磁模式
  •   3.3 MOS结构中SPP模式的有效折射率
  •   3.4 MOS结构中SPP模式的色散曲线
  •   3.5 MOS结构中SPP模式的传播长度
  •   3.6 MOS结构中SPP模式的模场限制
  •   3.7 小结
  • 4 MOS结构中SPP模式的调控
  •   4.1 引言
  •   4.2 氧化物厚度对SPP模式的调控作用
  •   4.3 掺杂浓度对SPP模式的调控作用
  •   4.4 外加电压对SPP模式的调控作用
  •   4.5 小结
  • 5 二维MOS结构SPP波导的研究
  •   5.1 引言
  •   5.2 半导体脊形结构SPP模式分析
  •   5.3 金属条形MOS结构
  •   5.4 小结
  • 6 总结与展望
  •   6.1 总结
  •   6.2 展望
  • 致谢
  • 参考文献
  • 附录 攻读学位期间发表的论文
  • 文章来源

    类型: 硕士论文

    作者: 黄义峰

    导师: 洪伟

    关键词: 金属氧化物半导体,表面等离激元,近零介电常数,局域电磁场

    来源: 华中科技大学

    年度: 2019

    分类: 基础科学

    专业: 物理学

    单位: 华中科技大学

    分类号: O482.5

    DOI: 10.27157/d.cnki.ghzku.2019.004374

    总页数: 84

    文件大小: 3463K

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