X荧光分析检测误差研究

论文摘要

XRF分析方法是一种无损检测方法,可用于不可损坏、贵重的样品检测。XRF分析法具有无损伤检测、即时分析、检测精度高、无消耗、经济、方便等优点。在检测过程中,如何对数据进行分析及误差处理是本次研究的主要内容。文章对X荧光分析检测误差进行了研究,以供参考。

论文目录

• 1 X荧光分析原理
•   1.1 X荧光定性分析的原理
•   1.2 X荧光定量分析的原理及公式
• 2 X荧光测量与分析
•   2.1 实验仪器
•   2.2 标准样品
•   2.3 测量数据
•   2.4 原因分析
• 3 结束语

文章来源

类型: 期刊论文

作者: 杨友江

关键词: 分析方法,误差,检测

来源: 工程技术研究 2019年14期

年度: 2019

分类: 工程科技Ⅱ辑,工程科技Ⅰ辑

专业: 化学

单位: 贵州省有色金属和核工业地质勘查局七总队

分类号: O657.34

DOI: 10.19537/j.cnki.2096-2789.2019.14.010

页码: 27-28+87

总页数: 3

文件大小: 1284K

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