双剪连接件及双耳连接耳片疲劳寿命估算的逐次累计求和算法

论文摘要

为了研究复杂连接件疲劳失效机理和估算其裂纹形成和扩展寿命,在双剪连接件和双耳连接耳片疲劳试验的基础上,首先,通过扫描电子显微镜（SEM）分析,研究了其破坏模式和机理,并利用断口定量反推技术判读了疲劳裂纹形成与扩展寿命。然后,根据应力严重系数法,建立了复杂连接件疲劳性能S-N-L（疲劳应力-寿命-应力严重系数）曲面;利用该曲面,发展了复杂连接件疲劳裂纹形成寿命估算算法;基于断裂力学理论,推导出裂纹扩展长度与扩展角度公式,建立了疲劳裂纹扩展寿命估算的累计求和算法。最后,运用寿命估算方法,估算了双剪连接件的疲劳裂纹形成寿命、双剪连接件和双耳连接耳片的裂纹扩展寿命,预测结果与断口判读结果吻合良好。本文寿命估算方法为复杂连接件疲劳定寿提供了理论依据。

论文目录

• 1 连接件疲劳寿命估算算法
•   1.1 连接件疲劳裂纹形成寿命的算法
•   1.2 连接件疲劳裂纹扩展寿命的算法
• 2 疲劳试验
• 3 断口裂纹长度的SEM判读
• 4 连接件寿命估算
•   4.1 连接件裂纹形成寿命
•   4.2 连接件裂纹扩展寿命
• 5 结论

文章来源

类型: 期刊论文

作者: 陈迪,李钰,张亦波,宋颖刚,熊峻江

关键词: 疲劳,裂纹,寿命,连接件,扫描电子显微镜

来源: 北京航空航天大学学报 2019年06期

年度: 2019

分类: 工程科技Ⅱ辑

专业: 航空航天科学与工程

单位: 北京航空航天大学交通科学与工程学院,中国商飞上海飞机设计研究院,中国航发北京航空材料研究院

分类号: V215.5

DOI: 10.13700/j.bh.1001-5965.2018.0603

页码: 1175-1184

总页数: 10

文件大小: 688K

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