基于软件自检措施在HALT试验中快速定位MCU及相关电子电路故障的方法研究

基于软件自检措施在HALT试验中快速定位MCU及相关电子电路故障的方法研究

论文摘要

近几年智能家电迅猛发展,家电产品智能化水平急速提高,智能家电的功能相对于传统家电来说更加丰富,决定智能家电可靠性的因素就会增加。决定家电能否正常工作和智能化的一个重要因素是家电的"大脑"及核心处理单元(MCU及相关电子电路)的可靠性,因此快速定位MCU及相关电子电路故障是每一个家电企业都必须面对的重要问题。

论文目录

  • 1 家用电器软件功能安全评估及其涉及措施
  • 2 高加速寿命试验(HALT)
  • 3 实施过程
  •   3.1 试验前的准备
  •   3.2 试验过程
  • 4 实际案例
  • 5 结束语
  • 文章来源

    类型: 期刊论文

    作者: 冯长卿,赵鸿斌,于鸿瑞

    关键词: 智能家电,软件自检措施,试验

    来源: 轻工标准与质量 2019年06期

    年度: 2019

    分类: 工程科技Ⅰ辑,工程科技Ⅱ辑,信息科技

    专业: 电力工业,计算机软件及计算机应用

    单位: 中国家用电器研究院,中国轻工业联合会

    基金: 2019年产业技术基础公共服务平台项目:面向半导体,芯片,关键零部件等领域的产业技术基础公共服务平台建设--面向智能家电芯片,传感器与物联网模块等关键部件及家电互联的产业技术基础服务平台建设”项目(项目编号:2019-00896-2-2)

    分类号: TP311.56;TM925

    DOI: 10.19541/j.cnki.issn1004-4108.2019.06.014

    页码: 79-81

    总页数: 3

    文件大小: 1644K

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    基于软件自检措施在HALT试验中快速定位MCU及相关电子电路故障的方法研究
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