光学模组测试装置论文和设计-胡波

全文摘要

本实用新型公开一种光学模组测试装置，包括机架、载体、水平调节机构、光源、高度调节机构、载台和升降调节机构，机架用于放置光学模组，载体可沿第一方向移动地设于机架，水平调节机构连接于载体，以驱动载体沿第一方向移动，高度调节机构连接于光源，以驱动光源沿垂直于第一方向的第二方向移动，载台包括可沿第二方向移动地连接于载体的第一载台和第二载台，升降调节机构用于驱动第一载台和第二载台沿第二方向移动。通过本实用新型提供的光学模组测试装置，可实现在同一个设备上实现两个测试步骤，只需要一组夹具，因此成本较低，而且不需要移动光学模组，测试过程简单，缩短了测试时间，效率较高，软件版本也可采用同一个，利于产线管控。

主设计要求

1.一种光学模组测试装置，其特征在于，包括机架(10)、载体(12)、水平调节机构(13)、光源(14)、高度调节机构(15)、载台(16)和升降调节机构(18)，所述机架(10)用于放置光学模组，所述载体(12)可沿第一方向移动地设于所述机架(10)，所述水平调节机构(13)连接于所述载体(12)，以驱动所述载体(12)沿第一方向移动，所述高度调节机构(15)连接于所述光源(14)，以驱动所述光源(14)沿垂直于所述第一方向的第二方向移动，所述载台(16)包括可沿所述第二方向移动地连接于所述载体(12)的第一载台(162)和第二载台(164)，所述升降调节机构(18)用于驱动所述第一载台(162)和所述第二载台(164)沿所述第二方向移动。

设计方案

2.如权利要求1所述的光学模组测试装置，其特征在于，所述机架(10)为框架结构，其用于支撑所述载体(12)、所述水平调节机构(13)、所述高度调节机构(15)、所述载台(16)和所述升降调节机构(18)，所述机架(10)包括底板(102)、顶板(104)和连接架(106)，所述底板(102)和所述顶板(104)相对设于所述机架(10)的底部和顶部，所述连接架(106)的两端分别与所述底板(102)和所述顶板(104)固定连接。

3.如权利要求1所述的光学模组测试装置，其特征在于，所述机架(10)包括导轨(108)，所述载体(12)上设有与所述导轨(108)配合的滑道(120)，所述滑道(120)可沿所述导轨(108)沿所述第一方向动。

4.如权利要求1所述的光学模组测试装置，其特征在于，所述载体(12)包括本体(122)和连接于所述本体(122)的连接部(124)，所述本体(122)包括主板(126)和两个分别设于所述主板(126)两端的侧板(127)，所述连接部(124)固定连接于所述主板(126)的底部；所述水平调节机构(13)连接于所述连接部(124)。

5.如权利要求4所述的光学模组测试装置，其特征在于，所述水平调节机构(13)为活塞缸，其包括缸体(132)和活塞杆(134)，所述缸体(132) 固定于所述机架(10)上，所述活塞杆(134)可沿所述第一方向活动地套设于所述缸体(132)，所述活塞杆(134)连接于所述载体(12)的所述连接部(124)。

6.如权利要求1所述的光学模组测试装置，其特征在于，所述高度调节机构(15)为垂直升降平台，所述垂直升降平台包括调节部(152)和与所述调节部(152)传动连接的运动部(154)，所述调节部(152)可转动地设置，所述运动部(154)连接于所述光源(14)。

7.如权利要求6所述的光学模组测试装置，其特征在于，所述光源(14)和所述高度调节机构(15)设于所述载体(12)上。

8.如权利要求6所述的光学模组测试装置，其特征在于，所述高度调节机构(15)设于所述机架(10)上。

9.如权利要求1所述的光学模组测试装置，其特征在于，所述包括第一调节机构(182)和第二调节机构(184)，所述第一调节机构(182)和所述第二调节机构(184)用于分别驱动所述第一载台(162)和所述第二载台(164)沿所述第二方向移动。

10.如权利要求9所述的光学模组测试装置，其特征在于，所述载体(12)上设有第一滑块(128)和第二滑块(129)，所述第一滑块(128)和所述第二滑块(129)上分别设有内螺纹；所述第一调节机构(182)包括第一操作部(1822)和连接于所述第一操作部(1822)的第一调节部(1824)，所述第一调节部(1824)上设有外螺纹，所述第一调节部(1824)的外螺纹与所述第一滑块(128)的内螺纹配合，所述第二调节机构(184)包括第二操作部(1842)和连接于所述第二操作部(1842)的第二调节部(1844)，所述第二调节部(1844)上设有外螺纹，所述第二调节部(1844)的外螺纹与所述第二滑块(129)的内螺纹配合。

设计说明书

技术领域

本实用新型涉及电子产品光学模组技术领域，特别是涉及一种光学模组测试装置。

背景技术

随着生活水平的不断提高，各种终端设备已成为生活中的必需品，而用户对终端设备的要求也越来越高。对于安全性而言，因指纹具有个体唯一性特征，而使得指纹识别具有优良的隐私保护功能，因此指纹识别被广泛应用在各种终端设备中，以增加用户体验以及安全性。

在指纹识别模组等光学模组的生产过程中，通常需要在两个不同的测试站进行磁粉测试(MT1测试和MT2测试)，两个测试站的测试治具载体是相同的，区别仅在于测试环境，即光学模组到匀光板或图表板的距离(即焦距) 不同。在MT1中，采用匀光板，焦距一般在2.75±0.05mm，在MT2中，采用匀光板+图表板，焦距一般在3.89±0.05mm。因此，在两个测试站中需要两版软件测试，且每次测试时间分别为15～18秒。上述测试中，存在以下问题：1、需要两个独立的测试站，两组夹具，成本较高。2、软件版本较多，不利于产线管控。3、测试时间较长，生产效率较低。4、光学模组需要进出两个测试站，测试流程繁琐，效率较低。

前面的叙述在于提供一般的背景信息，并不一定构成现有技术。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种成本较低、效率较高的光学模组测试装置。

本实用新型提供一种光学模组测试装置，包括机架、载体、水平调节机构、光源、高度调节机构、载台和升降调节机构，所述机架用于放置光学模组，所述载体可沿第一方向移动地设于所述机架，所述水平调节机构连接于所述载体，以驱动所述载体沿第一方向移动，所述高度调节机构连接于所述光源，以驱动所述光源沿垂直于所述第一方向的第二方向移动，所述载台包括可沿所述第二方向移动地连接于所述载体的第一载台和第二载台，所述升降调节机构用于驱动所述第一载台和所述第二载台沿所述第二方向移动。

进一步地，所述机架为框架结构，其用于支撑所述载体、所述水平调节机构、所述高度调节机构、所述载台和所述升降调节机构，所述机架包括底板、顶板和连接架，所述底板和所述顶板相对设于所述机架的底部和顶部，所述连接架的两端分别与所述底板和所述顶板固定连接。

进一步地，所述机架包括导轨，所述载体上设有与所述导轨配合的滑道，所述滑道可沿所述导轨沿所述第一方向动。

进一步地，所述载体包括本体和连接于所述本体的连接部，所述本体包括主板和两个分别设于所述主板两端的侧板，所述连接部固定连接于所述主板的底部；所述水平调节机构连接于所述连接部。

进一步地，所述水平调节机构为活塞缸，其包括缸体和活塞杆，所述缸体固定于所述机架上，所述活塞杆可沿所述第一方向活动地套设于所述缸体，所述活塞杆连接于所述载体的所述连接部。

进一步地，所述高度调节机构为垂直升降平台，所述垂直升降平台包括调节部和与所述调节部传动连接的运动部，所述调节部可转动地设置，所述运动部连接于所述光源。

进一步地，所述光源和所述高度调节机构设于所述载体上。

进一步地，所述高度调节机构设于所述机架上。

进一步地，所述包括第一调节机构和第二调节机构，所述第一调节机构和所述第二调节机构用于分别驱动所述第一载台和所述第二载台沿所述第二方向移动。

进一步地，所述载体上设有第一滑块和第二滑块，所述第一滑块和所述第二滑块上分别设有内螺纹；所述第一调节机构包括第一操作部和连接于所述第一操作部的第一调节部，所述第一调节部上设有外螺纹，所述第一调节部的外螺纹与所述第一滑块的内螺纹配合，所述第二调节机构包括第二操作部和连接于所述第二操作部的第二调节部，所述第二调节部上设有外螺纹，所述第二调节部的外螺纹与所述第二滑块的内螺纹配合。

通过本实用新型提供的光学模组测试装置，可实现在同一个设备上实现两个测试步骤，只需要一组夹具，因此成本较低，而且不需要移动光学模组，测试过程简单，缩短了测试时间，效率较高，软件版本也可采用同一个，利于产线管控。

附图说明

图1为本实用新型一实施例的光学模组测试装置的立体结构示意图。

图2为图1所示光学模组测试装置的一角度平面视图。

图3为图1所示光学模组测试装置的另一角度平面视图。

图4为图1所示光学模组测试装置移除部分零部件的立体结构示意图。

图5为图4的一角度平面视图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例，对本实用新型的具体实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本实用新型，但不用来限制本实用新型的范围。

请参图1至图5，本实用新型一实施例中提供的光学模组测试装置，包括机架10、载体12、水平调节机构13、光源14、高度调节机构15、载台16 和升降调节机构18。

本实施例中，机架10为框架结构，其用于支撑载体12、水平调节机构 13、高度调节机构15、载台16和升降调节机构18。具体地，机架10包括底板102、顶板104和连接架106，底板102和顶板104相对设于机架10的底部和顶部，连接架106的两端分别与底板102和顶板104固定连接。机架10 还包括固定连接于连接架106的导轨108。

本实施例中，载体12包括本体122和连接于本体122的连接部124。具体地，本体122包括主板126和两个分别设于主板126两端的侧板127，连接部124固定连接于主板126的底部。载体12可沿第一方向移动地设于机架 10内。本体122上设有与导轨108配合的滑道120，滑道120可沿导轨108 沿第一方向(本实施例中为水平方向)移动。具体地，两个侧板127上分别设有第一滑块128和第二滑块129，第一滑块128和第二滑块129上分别设有内螺纹。

本实施例中，水平调节机构13连接于载体12的连接部124，以驱动连接部124沿第一方向移动，进而带动载体12沿第一方向移动。具体地，水平调节机构13为活塞缸，包括缸体132和活塞杆134，缸体132固定于机架10 上，活塞杆134可沿第一方向活动地套设于缸体132，活塞杆134连接于载体12的连接部124。更具体地，水平调节机构13为气缸，可以理解，水平调节机构13还可为其他伸缩式结构，例如直线电机等，并且水平调节机构 13还可为其他结构，例如通过电机驱动电机转动，电机的转动通过齿轮齿条的配合实现直线移动，从而带动载体12沿第一方向移动，对于水平调节机构 13的具体结构在此不做限制。

本实施例中，光源14和高度调节机构15设于载体12上，随载体12沿第一方向移动。

本实施例中，高度调节机构15连接于光源14，以驱动光源14沿垂直于第一方向的第二方向(本实施例中为竖直方向)移动，以调节光源14相对机架10的高度。具体地，高度调节机构15为垂直升降平台，垂直升降平台包括调节部152和与调节部152传动连接的运动部154，运动部154连接于光源14，通过旋转调节部152可带动光源14沿第二方向移动。运动部154与调节部152之间的传动可通过蜗轮蜗杆、齿轮齿条等机构实现。更具体地，高度调节机构15可为LV60-C2型号的交叉滚子导轨型垂直升降平台。可以理解，高度调节机构15不限于垂直升降平台，也可为其他可实现转动转换为直线移动的传动机构，例如齿轮齿条传动。

本实施例中，载台16包括第一载台162和第二载台164，第一载台162 和第二载台164可沿第二方向移动地连接于载体12。

本实施例中，升降调节机构18包括第一调节机构182和第二调节机构 184，第一调节机构182可转动但不可移动地连接于第一载台162，以带动第一载台162沿第二方向移动，第二调节机构184可转动但不可移动地连接于第二载台164，以带动第二载台164沿第二方向移动。具体地，第一调节机构182包括第一操作部1822和连接于第一操作部1822的第一调节部1824，第一调节部1824上设有外螺纹，第一调节部1824的外螺纹与第一滑块128 的内螺纹配合，当旋转第一操作部1822时，可带动第一调节部1824在第一滑块128内转动，从而带动第一载台162上下移动；第二调节机构184包括第二操作部1842和连接于第二操作部1842的第二调节部1844，第二调节部 1844上设有外螺纹，第二调节部1844的外螺纹与第二滑块129的内螺纹配合。这样，第一载台162和第二载台164既可随载体12沿第一方向移动，又可沿第二方向移动，实现左右和上下的调节，并且第一载台162和第二载台 164的上下调节是分别进行的，彼此不受影响。可以理解，第一调节机构182 和第二调节机构184也可为其他传动机构，例如丝杠螺母机构，具体地，可在第一载台162和第二载台164上分别设置导块，并在导块内设置内螺纹，在第一调节部1824和第二调节部1844上设有外螺纹，并将第一调节机构182 与第二调节机构184可转动但不可移动地设于载体12上，这样，转动第一调节机构182与第二调节机构184即可带动导块上下移动，进而带动第一载台 162和第二载台164上下移动。

可以理解，在另一实施例中，高度调节机构15也可不设于载体12上，而直接设于机架10上，同样通过高度调节机构15调节其高度即可。

通过本实用新型的光学模组测试装置，进行测试时，可以将匀光板放置于第一载台162上，将匀光板和图表板放置于第二载台164，并将光学模组 (例如指纹识别模组)放置于顶板104上，通过水平调节机构13调节载体 12的位置，使光学模组对准第一载台162上的匀光板，再通过调节高度调节机构15将光源14调节到合适的高度，接着调节第一调节机构182，调节第一载台162的高度，也就是调节光学模组与匀光板之间的距离(即调节焦距)，实现MT1的测试；接着，再通过水平调节机构13调节载体12的位置，使光学模组对准第二载台164上的匀光板，接着调节第二调节机构184，调节第二载台164的高度，也就是调节光学模组与匀光板、图表板之间的距离(即调节焦距)，实现MT2的测试。这样，可通过本光学模组测试装置实现在同一个设备上实现两个测试步骤，只需要一组夹具，因此成本较低，而且不需要移动光学模组，测试过程简单，缩短了测试时间，效率较高，软件版本也可采用同一个，利于产线管控。

在本文中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语的具体含义。

在本文中，术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“竖直”、“水平”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了表达技术方案的清楚及描述方便，因此不能理解为对本实用新型的限制。

在本文中，用于描述元件的序列形容词“第一”、“第二”等仅仅是为了区别属性类似的元件，并不意味着这样描述的元件必须依照给定的顺序，或者时间、空间、等级或其它的限制。

在本文中，除非另有说明，“多个”、“若干”的含义是两个或两个以上。

以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

在本文中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，除了包含所列的那些要素，而且还可包含没有明确列出的其他要素。

以上所述，仅为本实用新型的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。因此，本实用新型的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。

设计图

光学模组测试装置论文和设计

光学模组测试装置论文和设计-胡波

全文摘要

主设计要求

设计方案

设计说明书

设计图

相关信息详情

猜你喜欢