基于改进的Sobel-Zernike矩法亚像素厚度测量

论文摘要

针对Zernike矩亚像素定位算法精度较高,但算法运算时间较长的问题,提出基于Sobel的改进Zernike矩亚像素定位法,该算法通过Sobel检测初步定位护套和绝缘材料的边缘,缩小Zernike矩的计算范围,使得在精度基本不变的情况下,缩短了计算时间,提高了速度;并通过估计边缘点正态分布的均值将轮廓像素宽度缩小在单像素上,提高了算法的精度。通过将该算法与Zernike矩法以及插值法在精度和速度上的对比实验,验证了该算法的优越性,具有应用价值。

论文目录

• 0 引言
• 1 基于改进的Sobel-Zernike矩法亚像素厚度测量算法
•   1.1 图像预处理
•   1.2 Sobel像素级粗定位[7]
•   1.3 改进的Zernike矩法亚像素级定位
•   1.4 轮廓提取
•   1.5 单像素轮廓边缘优化
•   1.6 厚度测量
•     1.6.1 护套材料厚度测量
•     1.6.2 绝缘材料厚度测量
• 2 实验结果及分析[12-13]
•   2.1 与普通Zernike矩法的比较
•   2.2 与改进插值法的比较
•     2.2.1 精度比较
•     2.2.2 速度比较
• 3 结束语

文章来源

类型: 期刊论文

作者: 杨前华,姚励,赵力

关键词: 矩法,亚像素,定位,厚度测量

来源: 电测与仪表 2019年10期

年度: 2019

分类: 工程科技Ⅱ辑,信息科技

专业: 电力工业,计算机软件及计算机应用

单位: 南京信息职业技术学院通信学院,东南大学信息科学与工程学院

基金: 国家自然科学基金资助项目(61571106),江苏高校品牌专业建设工程资助项目(PPZY2015A092)

分类号: TM75;TP391.41

DOI: 10.19753/j.issn1001-1390.2019.010.016

页码: 99-104+133

总页数: 7

文件大小: 1671K

下载量: 205