导读:本文包含了微缺陷论文开题报告文献综述、选题提纲参考文献，主要关键词:缺陷,递归,超声,热障,光学,元件,表面。
微缺陷论文文献综述写法
魏光虎[1]（2019）在《光学元件表面微缺陷可视化检测技术研究》一文中研究指出国内外近些年来,对于检测光学元件表面缺陷的技术越来越重视。由于光学系统的性能会直接受到光学元件表面质量优劣的影响,这对于光学元件的质检工作方面增加了一定的难度。如果光学元件的质量能够得到有效的改善,光学仪器的整体质量都会得到系统性的提高。基于此,本文阐述了光学元件表面缺陷对元件自身以及其所处系统的危害,然后对光学元件表面微缺陷检测方法进行分析,介绍了机器视觉检测技术的优势,希望能为相关工作者提供有用的参考。(本文来源于《科学技术创新》期刊2019年34期）
郭华玲,郑宾,刘艳莉,刘利平,刘辉[2]（2019）在《基于EEMD能量熵的激光超声微缺陷信号特征提取》一文中研究指出激光超声技术具有非接触、频带宽和高时间空间分辨率等优势,被广泛应用于材料的微缺陷检测.基于总体经验模态分解(EEMD)解决模态混迭问题算法的特点,将其应用于激光超声信号的消噪处理;针对EEMD降噪时IMF分量选取的问题,设计提出了自适应选取IMF分量重构信号的算法,获取基于EEMD的激光超声微缺陷信号的自适应降噪方法,取得了较好的去噪效果;提出了基于EEMD能量熵的激光超声微缺陷信号特征提取分析方法,并计算各阶能量,成功地探测缺陷的大小.(本文来源于《测试技术学报》期刊2019年05期）
戴磊,张臻,黄恒敬,敖翔[3]（2019）在《微缺陷光伏组件智能分类和定位的方法研究》一文中研究指出太阳能光伏发电中,组件的发电效率成为影响发电量的关键因素。光伏组件中存在的隐裂等各种缺陷对其效率带来了很多不利影响。从微缺陷光伏组件出发,在已有研究成果上,提出了一种使用MATLAB的图像处理工具箱来智能分类缺陷组件并确定缺陷位置的方法。主要分为四个模块,分别从图像处理总路线、智能定位缺陷方法、智能分类缺陷组件方法和实例验证的角度阐述了MATLAB模型的建立与验证过程。这一研究成果可以大大提高光伏组件检测的效率和准确性,有很重要的实际应用意义。(本文来源于《电源技术》期刊2019年08期）
杨辰龙,冯玮,边成亮,周晓军,柴景云[4]（2019）在《基于超声背散射信号递归分析的金属材料微缺陷识别》一文中研究指出为了能有效识别金属材料超声检测信号中的微小缺陷回波,使用递归分析方法对检测信号进行分析。通过对超声波背散射信号进行建模,说明其组成要素。在超声检测信号中,缺陷回波信号会对系统的递归特性产生影响。使用递归分析对含0.8mm平底孔人工模拟缺陷的直径为120mm低碳钢棒材试块实验采集的背散射信号和无缺陷背散射信号进行了研究。截取试块检测信号中的背散射信号部分,通过合理的参数选择对其进行递归分析并绘制递归图。通过与实验采集的无缺陷信号的递归图进行对比,发现缺陷信号会在递归图中产生明显的白色交叉条纹带。使用递归定量分析进一步研究了含缺陷背散射信号的递归特征量,结果表明捕获时间(TT)、确定率(DET)与递归熵(ENTR)这叁项特征量对缺陷信号比较敏感,在缺陷位置处均会出现明显的峰值。(本文来源于《光学精密工程》期刊2019年04期）
贾栓[5]（2019）在《硼掺杂单晶硅微缺陷及其快速热退火行为研究》一文中研究指出本文利用快速热处理(Rapid thermal processing,RTP)技术及低—高常规热处理工艺,对硼掺杂单晶硅中的微缺陷进行了系统研究。重点探讨了轻掺硼和重掺硼直拉(CZ)单晶硅在Ar、O_2气氛中进行单步或两步RTP及后续低—高热处理工艺后,单晶硅体内微缺陷(BMD)和近表面有源区洁净区(DZ)的形成情况。同时对表面有原生微缺陷的硼掺杂单晶硅进行快速热处理(RTP)研究,进一步分析了RTP技术对单晶硅中微缺陷的调控作用和近表面洁净区(DZ)形成的促进作用。通过在Ar气氛和O_2气氛中进行单步RTP及低—高热处理,研究了RTP退火气氛、退火时间及降温速率对硼掺杂单晶硅中BMD和DZ形成的影响。在Ar气氛中,研究发现随着RTP时间的增加轻掺硼单晶硅BMD密度和DZ宽度均增加,随着RTP降温速率的增大,BMD密度增加,DZ宽度减小;而重掺硼单晶硅随着RTP时间的增加BMD密度增加,无DZ出现,随着RTP降温速率的增大,BMD密度在下降,同样无DZ出现。在O_2气氛中,发现随着RTP时间的延长,轻掺和重掺硼单晶硅中BMD密度均下降,DZ宽度均增加;随着RTP降温速率的增大,轻掺和重掺硼单晶硅中BMD密度均增加,DZ宽度均减小。但是,在O_2气氛中热处理时单晶硅BMD密度过低不利于后期器件制造过程中的内吸杂。进一步研究了硼掺杂单晶硅在(Ar/O_2)或(O_2/Ar)气氛中进行两步RTP及后续低—高热处理,结果发现随着RTP时间和降温速率的变化,单晶硅BMD密度和近表面DZ宽度会发生相应的变化。通过改变RTP时间和降温速率就可以使单晶硅BMD得到合理分布,同时在近表面形成较宽的DZ,以满足后续器件制造过程中的内吸杂要求。(本文来源于《郑州大学》期刊2019-04-01）
张璇,宋德林,张涛,刘乾,耿鹏武[6]（2019）在《光学表面微缺陷的高对比度暗场成像检测方法》一文中研究指出提出了一种新型的暗场显微成像方法(环状孔径显微术,Circular-Aperture Microscopy,CAM)用于光学加工表面的缺陷检测。该方法的关键在于,在CAM物镜中心放置一个遮挡片用于消除照明直射光的影响,而缺陷的散射光能够通过物镜的环状透射区域形成高对比度的图像。对划痕和麻点标准比对板、分辨率测试板、微粒悬浊液等样品的成像结果表明,CAM具有原理简单、对比度高、分辨率高、精度高的优势,能够为光学表面加工中的缺陷检测提供一种有效的方法。(本文来源于《机电技术》期刊2019年01期）
胡浩,李俊峰,沈军民[7]（2019）在《基于机器视觉的小磁瓦表面微缺陷检测方法研究》一文中研究指出针对小磁瓦成像不清晰、检测难度大、对比度低、纹理背景复杂、亮度不均匀、缺陷区域小及缺陷种类多等问题,提出了一种小磁瓦表面微缺陷的视觉检测方法。首先,根据小磁瓦弧形表面、倒角及缺陷区域对成像的影响,通过分析了小磁瓦表面图像中缺陷区域与正常区域的灰度、灰度梯度及缺陷形态的差异,将其表面缺陷类型划分为3类;其次,根据3类表面缺陷的成像特点、缺陷形态特征及与背景区域的关系,分别设计了相应的缺陷提取方法;最后,在不同的光照、规格、缺陷类型等条件下,利用开发的实验装置进行了实验分析。研究结果表明:提出的小磁瓦表面微缺陷提取算法稳定性好、鲁棒性强,能够准确、快速地提取小磁瓦表面中的缺陷区域,检测准确率可达93. 5%。(本文来源于《机电工程》期刊2019年02期）
马宏伟,张一澍,王星,关志阳[8]（2019）在《基于声全息的超声波与微缺陷耦合声场特性研究》一文中研究指出声全息技术空间分辨率高、计算速度快,能够对在结构内部传播的结构波进行可视化。该技术的出现为超衍射极限分辨率的检测提供了重要方向。主要研究近场超声在薄工件中的传播以及声场与微小缺陷相互作用的规律,基于近场声全息建立纵波信号与工件结构、缺陷类型的定量关系,找到可以通过工件表面声场特性来判别近场区域内是否存在缺陷的方法,将计算结果与有限元仿真进行对比,以验证该方法的正确性。该模型对于提高近场检测分辨率以及微小缺陷的特征提取具有一定的指导意义。(本文来源于《振动与冲击》期刊2019年03期）
黄霞,王路生,郑浩然,田宇,丁军[9]（2019）在《微缺陷对B_2-NiAl高温涂层材料力学性能及失效机理的影响》一文中研究指出目的研究微缺陷对B_2-NiAl高温涂层材料在拉伸载荷作用下的变形行为和失效机理的影响。方法在考虑裂纹和孔洞等微缺陷的影响下,采用嵌入原子势函数(EAM)和分子动力学方法,模拟了完美B_2-NiAl涂层(Sample 1)、含中心对称微裂纹涂层(Sample 2)、含有中心微裂纹与单微孔洞涂层(Sample 3)和含有中心微裂纹与双微孔洞涂层(Sample 4)模型的失效过程,利用键对分析技术(CAN)、中心对称参数法(CSP)和径向分布函数(RDF),对涂层的变形过程和失效机理进行了分析表征。结果随着微缺陷的增加,高温材料的屈服应力会明显下降,弹性模量也会有所降低,屈服应变逐渐减小,但微孔洞会使涂层出现二次屈服现象。完美B_2-NiAl高温涂层在屈服后的位错和相变区域面积较小,分布比较均匀,在边界处萌发裂纹并沿(100)方向扩展,再沿着(111)方向扩展,直至失效。相比完美B_2-NiAl高温涂层,含有微裂纹和孔洞的涂层在屈服后的位错和相变区域较小,主要在裂纹尖端沿着<111>滑移系方向均匀分布,但其主裂纹沿着[100]方向扩展并导致断裂。结论微裂纹会降低B_2-NiAl高温涂层的强度,但微孔洞会提高其塑性。应力集中会导致微裂纹萌生并在裂纹尖端附近产生微孔洞,使其与主裂纹贯通直至失效,而位错塞积则是造成应力集中的主要原因。(本文来源于《表面技术》期刊2019年01期）
滕国阳,周晓军,杨辰龙,曾祥[10]（2018）在《厚截面碳纤维复合材料远表面微缺陷超声检测》一文中研究指出为了识别厚截面碳纤维复合材料(CFRP)远表面的微缺陷,使用递归分析方法对超声检测信号进行分析。首先在厚截面CFRP材料上打孔以模拟微缺陷,采用水浸超声脉冲反射法对不同大小的模拟缺陷进行检测。然后选取缺陷位置附近信号段,确定嵌入维数m、延迟时间τ、阈值ε等参数,对各信号段进行递归分析,得到递归图及递归定量分析结果。比较无缺陷信号和有缺陷信号的递归图,从宏观上定性确定微缺陷对超声信号的影响;比较无缺陷信号和有缺陷信号的递归定量分析结果,根据每个递归定量参数的物理意义,对缺陷产生的影响作出合理的解释。最后,使用不同中心频率探头进行实验,确定合适的探头参数。分析结果表明,使用7.5MHz高分辨率超声探头时检测效果最好;当嵌入维数为7、延迟时间为2、阈值为2时,递归图中出现异常白色区域、递归点增多且对角线结构变长,同时所选取的递归定量参数随缺陷增大而上升,表明厚截面CFRP远表面超声信号可能存在混沌结构,而微缺陷的存在会改变原有信号结构。所研究内容为实际微缺陷的定量识别及分类打下基础。(本文来源于《光学精密工程》期刊2018年12期）
微缺陷论文开题报告范文
（1）论文研究背景及目的
此处内容要求：
首先简单简介论文所研究问题的基本概念和背景，再而简单明了地指出论文所要研究解决的具体问题，并提出你的论文准备的观点或解决方法。
写法范例：
激光超声技术具有非接触、频带宽和高时间空间分辨率等优势,被广泛应用于材料的微缺陷检测.基于总体经验模态分解(EEMD)解决模态混迭问题算法的特点,将其应用于激光超声信号的消噪处理;针对EEMD降噪时IMF分量选取的问题,设计提出了自适应选取IMF分量重构信号的算法,获取基于EEMD的激光超声微缺陷信号的自适应降噪方法,取得了较好的去噪效果;提出了基于EEMD能量熵的激光超声微缺陷信号特征提取分析方法,并计算各阶能量,成功地探测缺陷的大小.
（2）本文研究方法
调查法：该方法是有目的、有系统的搜集有关研究对象的具体信息。
观察法：用自己的感官和辅助工具直接观察研究对象从而得到有关信息。
实验法：通过主支变革、控制研究对象来发现与确认事物间的因果关系。
文献研究法：通过调查文献来获得资料，从而全面的、正确的了解掌握研究方法。
实证研究法：依据现有的科学理论和实践的需要提出设计。
定性分析法：对研究对象进行“质”的方面的研究，这个方法需要计算的数据较少。
定量分析法：通过具体的数字，使人们对研究对象的认识进一步精确化。
跨学科研究法：运用多学科的理论、方法和成果从整体上对某一课题进行研究。
功能分析法：这是社会科学用来分析社会现象的一种方法，从某一功能出发研究多个方面的影响。
模拟法：通过创设一个与原型相似的模型来间接研究原型某种特性的一种形容方法。
微缺陷论文参考文献
[1].魏光虎.光学元件表面微缺陷可视化检测技术研究[J].科学技术创新.2019
[2].郭华玲,郑宾,刘艳莉,刘利平,刘辉.基于EEMD能量熵的激光超声微缺陷信号特征提取[J].测试技术学报.2019
[3].戴磊,张臻,黄恒敬,敖翔.微缺陷光伏组件智能分类和定位的方法研究[J].电源技术.2019
[4].杨辰龙,冯玮,边成亮,周晓军,柴景云.基于超声背散射信号递归分析的金属材料微缺陷识别[J].光学精密工程.2019
[5].贾栓.硼掺杂单晶硅微缺陷及其快速热退火行为研究[D].郑州大学.2019
[6].张璇,宋德林,张涛,刘乾,耿鹏武.光学表面微缺陷的高对比度暗场成像检测方法[J].机电技术.2019
[7].胡浩,李俊峰,沈军民.基于机器视觉的小磁瓦表面微缺陷检测方法研究[J].机电工程.2019
[8].马宏伟,张一澍,王星,关志阳.基于声全息的超声波与微缺陷耦合声场特性研究[J].振动与冲击.2019
[9].黄霞,王路生,郑浩然,田宇,丁军.微缺陷对B_2-NiAl高温涂层材料力学性能及失效机理的影响[J].表面技术.2019
[10].滕国阳,周晓军,杨辰龙,曾祥.厚截面碳纤维复合材料远表面微缺陷超声检测[J].光学精密工程.2018