全文摘要
本实用新型公开了一种矽晶片的硬度检测装置，包括底座，所述底座的上端固定有动力装置，所述动力装置的上端安装有控制箱，所述控制箱的下端安装有硬度测试压头，所述底座的上端等间距固定有多个缓冲装置，多个缓冲装置的上端共同设有连接板，所述连接板的上端设有移动台，所述移动台的上端两侧均设有滑槽，所述滑槽内安装有两个滑块，所述滑块上设有夹持装置，所述滑槽内的一端侧壁上贯穿设有螺杆。本实用新型能够将不同大小的矽晶片稳定固定，防止矽晶片测试时移位导致测量结果误差较大，方便根据测试需求将矽晶片移动，且能够防止固定时夹持过度将矽晶片损坏，同时能对矽晶片进行缓冲保护。
主设计要求
1.一种矽晶片的硬度检测装置，包括底座(7)，其特征在于：所述底座(7)的上端固定有动力装置(4)，所述动力装置(4)的上端安装有控制箱(1)，所述控制箱(1)的下端安装有硬度测试压头(3)，所述底座(7)的上端等间距固定有多个缓冲装置，多个缓冲装置的上端共同设有连接板(5)，所述连接板(5)的上端设有移动台(13)，所述移动台(13)的上端两侧均设有滑槽，所述滑槽内安装有两个滑块(12)，所述滑块(12)上设有夹持装置，所述滑槽内的一端侧壁上贯穿设有螺杆(10)，所述螺杆(10)的一端固定有转动轮(8)，两个转动轮(8)之间通过传动带(9)传动连接，其中一个螺杆(10)的一端转动连接在其中一个滑槽内的另一端侧壁上，另一个螺杆(10)的一端贯穿另一个滑槽内的另一端侧壁并延伸至移动台(13)的一端，且该螺杆(10)的一端固定有转盘，所述螺杆(10)上设有正向螺纹和反向螺纹，其中一个滑块(12)螺纹套接在螺杆(10)上设有正向螺纹的一端，另一个滑块(12)螺纹套接在螺杆(10)上设有反向螺纹的一端，所述移动台(13)的下端设有四个凹槽，所述凹槽内设有移动装置。
设计方案
1.一种矽晶片的硬度检测装置，包括底座(7)，其特征在于：所述底座(7)的上端固定有动力装置(4)，所述动力装置(4)的上端安装有控制箱(1)，所述控制箱(1)的下端安装有硬度测试压头(3)，所述底座(7)的上端等间距固定有多个缓冲装置，多个缓冲装置的上端共同设有连接板(5)，所述连接板(5)的上端设有移动台(13)，所述移动台(13)的上端两侧均设有滑槽，所述滑槽内安装有两个滑块(12)，所述滑块(12)上设有夹持装置，所述滑槽内的一端侧壁上贯穿设有螺杆(10)，所述螺杆(10)的一端固定有转动轮(8)，两个转动轮(8)之间通过传动带(9)传动连接，其中一个螺杆(10)的一端转动连接在其中一个滑槽内的另一端侧壁上，另一个螺杆(10)的一端贯穿另一个滑槽内的另一端侧壁并延伸至移动台(13)的一端，且该螺杆(10)的一端固定有转盘，所述螺杆(10)上设有正向螺纹和反向螺纹，其中一个滑块(12)螺纹套接在螺杆(10)上设有正向螺纹的一端，另一个滑块(12)螺纹套接在螺杆(10)上设有反向螺纹的一端，所述移动台(13)的下端设有四个凹槽，所述凹槽内设有移动装置。
2.根据权利要求1所述的一种矽晶片的硬度检测装置，其特征在于，所述移动装置包括设置在凹槽内底部的电动伸缩杆(14)，所述凹槽内的相对侧壁上均设有移动槽，所述移动槽内均安装有移动块(16)，两个移动块(16)之间共同固定有连接块(17)，所述连接块(17)的下端设有轨轮(15)，所述连接板(5)的上端设有两个放置槽，同一侧的两个轨轮(15)为一组，同一组的两个轨轮(15)均安装在放置槽内。
3.根据权利要求1所述的一种矽晶片的硬度检测装置，其特征在于，所述缓冲装置包括等间距固定在底座(7)上端的多个固定杆(6)，所述固定杆(6)内设有空腔，所述空腔内的底部固定有第二弹簧(23)，所述第二弹簧(23)的上端固定有固定块(22)，所述固定块(22)的上端固定有推杆(21)，所述推杆(21)的一端贯穿空腔内的一端侧壁并延伸至固定杆(6)的上端，所述推杆(21)的上端固定在连接板(5)的下端。
4.根据权利要求1所述的一种矽晶片的硬度检测装置，其特征在于，所述夹持装置包括设置在滑块(12)上端的固定板(11)，所述固定板(11)上贯穿设有两个连接杆(19)，同一端的两个固定板(11)为一组，同一组的四个连接杆(19)的一端共同固定有移动板(20)，所述连接杆(19)上套设有第一弹簧(18)，所述第一弹簧(18)的一端固定在移动板(20)的一侧，所述第一弹簧(18)的另一端固定在固定板(11)的一侧，所述连接杆(19)的另一端固定有限位块。
5.根据权利要求2所述的一种矽晶片的硬度检测装置，其特征在于，所述轨轮(15)上包覆有橡胶层。
6.根据权利要求1所述的一种矽晶片的硬度检测装置，其特征在于，所述控制箱(1)的一侧安装有显示屏(2)。
设计说明书
技术领域
本实用新型涉及硬度检测技术领域，尤其涉及一种矽晶片的硬度检测装置。
背景技术
所谓硬度，就是材料抵抗更硬物压入其表面的能力。根据试验方法和适应范围的不同，硬度单位可分为布氏硬度、维氏硬度、洛氏硬度、显微维氏硬度等许多种，不同的单位有不同的测试方法，适用于不同特性的材料或场合，硬度测试是检测材料性能的重要指标之一，也是最快速最经济的试验方法之一。之所以能成为力学性能试验的常用方法，是因为硬度测试能反映出材料在化学成分、组织结构和处理工艺上的差异。常被作为监督手段应用于各行各业。
现有的硬度测试装置不方便将矽晶片固定，容易在测试时移位，导致测试误差较大，且测试时没有缓冲，与矽晶片直接接触容易将矽晶片压坏，为此，我们提出了一种矽晶片的硬度检测装置来解决上述问题。
实用新型内容
本实用新型的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种矽晶片的硬度检测装置。
为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：
一种矽晶片的硬度检测装置，包括底座，所述底座的上端固定有动力装置，所述动力装置的上端安装有控制箱，所述控制箱的下端安装有硬度测试压头，所述底座的上端等间距固定有多个缓冲装置，多个缓冲装置的上端共同设有连接板，所述连接板的上端设有移动台，所述移动台的上端两侧均设有滑槽，所述滑槽内安装有两个滑块，所述滑块上设有夹持装置，所述滑槽内的一端侧壁上贯穿设有螺杆，所述螺杆的一端固定有转动轮，两个转动轮之间通过传动带传动连接，其中一个螺杆的一端转动连接在其中一个滑槽内的另一端侧壁上，另一个螺杆的一端贯穿另一个滑槽内的另一端侧壁并延伸至移动台的一端，且该螺杆的一端固定有转盘，所述螺杆上设有正向螺纹和反向螺纹，其中一个滑块螺纹套接在螺杆上设有正向螺纹的一端，另一个滑块螺纹套接在螺杆上设有反向螺纹的一端，所述移动台的下端设有四个凹槽，所述凹槽内设有移动装置。
优选地，所述移动装置包括设置在凹槽内底部的电动伸缩杆，所述凹槽内的相对侧壁上均设有移动槽，所述移动槽内均安装有移动块，两个移动块之间共同固定有连接块，所述连接块的下端设有轨轮，所述连接板的上端设有两个放置槽，同一侧的两个轨轮为一组，同一组的两个轨轮均安装在放置槽内。
优选地，所述缓冲装置包括等间距固定在底座上端的多个固定杆，所述固定杆内设有空腔，所述空腔内的底部固定有第二弹簧，所述第二弹簧的上端固定有固定块，所述固定块的上端固定有推杆，所述推杆的一端贯穿空腔内的一端侧壁并延伸至固定杆的上端，所述推杆的上端固定在连接板的下端。
优选地，所述夹持装置包括设置在滑块上端的固定板，所述固定板上贯穿设有两个连接杆，同一端的两个固定板为一组，同一组的四个连接杆的一端共同固定有移动板，所述连接杆上套设有第一弹簧，所述第一弹簧的一端固定在移动板的一侧，所述第一弹簧的另一端固定在固定板的一侧，所述连接杆的另一端固定有限位块。
优选地，所述轨轮上包覆有橡胶层。
优选地，所述控制箱的一侧安装有显示屏。
与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：
1、通过夹持装置、螺杆、滑块之间的配合，方便对矽晶片进行夹持，解决了矽晶片硬度测试时容易移位的问题，达到了将矽晶片稳定固定，防止夹持过度将矽晶片损坏；
2、通过移动装置和缓冲装置之间的配合，方便将矽晶片移动，解决了矽晶片测试时容易被压坏的问题，达到了在矽晶片测试时进行缓冲的效果，防止矽晶片被压坏；综上所述，本装置能够将不同大小的矽晶片稳定固定，防止矽晶片测试时移位导致测量结果误差较大，方便根据测试需求将矽晶片移动，且能够防止固定时夹持过度将矽晶片损坏，同时能对矽晶片进行缓冲保护。
附图说明
图1为本实用新型提出的一种矽晶片的硬度检测装置的控制箱结构示意图；
图2为本实用新型提出的一种矽晶片的硬度检测装置的移动台结构示意图；
图3为本实用新型提出的一种矽晶片的硬度检测装置的A处结构放大图；
图4为本实用新型提出的一种矽晶片的硬度检测装置的B处结构放大图；
图5为本实用新型提出的一种矽晶片的硬度检测装置的固定杆内部结构示意图。
图中：1控制箱、2显示屏、3硬度测试压头、4动力装置、5连接板、6固定杆、7底座、8转动轮、9传动带、10螺杆、11固定板、 12滑块、13移动台、14电动伸缩杆、15轨轮、16移动块、17连接块、18第一弹簧、19连接杆、20移动板、21推杆、22固定块、23 第二弹簧。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。
参照图1-5，一种矽晶片的硬度检测装置，包括底座7，底座7 的上端固定有动力装置4，动力装置4的上端安装有控制箱1，控制箱1的一侧安装有显示屏2，方便查看测试结果，控制箱1的下端安装有硬度测试压头3，底座7的上端等间距固定有多个缓冲装置，多个缓冲装置的上端共同设有连接板5，连接板5的上端设有移动台13，移动台13的上端两侧均设有滑槽，滑槽内安装有两个滑块12，滑块 12上设有夹持装置，通过夹持装置方便将矽晶片稳定固定，能够防止测试时矽晶片移位，降低了测量误差，通过缓冲装置方便对矽晶片提供按缓冲保护；
滑槽内的一端侧壁上贯穿设有螺杆10，螺杆10的一端固定有转动轮8，两个转动轮8之间通过传动带9传动连接，其中一个螺杆10 的一端转动连接在其中一个滑槽内的另一端侧壁上，另一个螺杆10 的一端贯穿另一个滑槽内的另一端侧壁并延伸至移动台13的一端，且该螺杆10的一端固定有转盘，螺杆10上设有正向螺纹和反向螺纹，其中一个滑块12螺纹套接在螺杆10上设有正向螺纹的一端，另一个滑块12螺纹套接在螺杆10上设有反向螺纹的一端，移动台13的下端设有四个凹槽，凹槽内设有移动装置，转动转盘，从而带动其中一个螺杆10转动，将矽晶片放置在移动台13的上端，转动转盘，从而带动其中一个螺杆10转动，同时通过转动轮8和传动带9带动另一个螺杆10同步转动，方便将矽晶片夹持，通过移动装置方便根据测试需求将矽晶片移动。
本实用新型中，移动装置包括设置在凹槽内底部的电动伸缩杆 14，凹槽内的相对侧壁上均设有移动槽，移动槽内均安装有移动块 16，两个移动块16之间共同固定有连接块17，连接块17的下端设有轨轮15，轨轮15上包覆有橡胶层，减少移动时的噪音，连接板5 的上端设有两个放置槽，同一侧的两个轨轮15为一组，同一组的两个轨轮15均安装在放置槽内，电动伸缩杆14带动连接块17下降，继而带动轨轮15与放置槽内底部相抵触，方便移动台13移动，从而根据测试需求带动矽晶片移动。
本实用新型中，缓冲装置包括等间距固定在底座7上端的多个固定杆6，固定杆6内设有空腔，空腔内的底部固定有第二弹簧23，第二弹簧23的上端固定有固定块22，固定块22的上端固定有推杆21，推杆21的一端贯穿空腔内的一端侧壁并延伸至固定杆6的上端，推杆21的上端固定在连接板5的下端，通过推杆21、固定块22和第二弹簧23之间的配合，方便在矽晶片测试时对矽晶片进行缓冲保护，防止矽晶片被压坏。
本实用新型中，夹持装置包括设置在滑块12上端的固定板11，固定板11上贯穿设有两个连接杆19，同一端的两个固定板11为一组，同一组的四个连接杆19的一端共同固定有移动板20，连接杆19 上套设有第一弹簧18，第一弹簧18的一端固定在移动板20的一侧，第一弹簧18的另一端固定在固定板11的一侧，连接杆19的另一端固定有限位块，滑块12带动固定板11移动，继而通过固定板11、连接杆19和第一弹簧18之间的配合，防止夹持过度导致矽晶片损坏。
本实用新型中，使用时，将矽晶片放置在移动台13的上端，转动转盘，从而带动其中一个螺杆10转动，同时通过转动轮8和传动带9带动另一个螺杆10同步转动，方便将矽晶片夹持，防止测试时矽晶片移位，两个螺杆10转动带动滑块12相对移动，通过固定板 11、连接杆19和第一弹簧18之间的配合，防止夹持过度导致矽晶片损坏，电动伸缩杆14带动连接块17下降，继而带动轨轮15与放置槽内底部相抵触，方便移动台13移动，从而根据测试需求带动矽晶片移动，通过推杆21、固定块22和第二弹簧23之间的配合，方便在矽晶片测试时对矽晶片进行缓冲保护，防止矽晶片被压坏。
以上所述，仅为本实用新型较佳的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，根据本实用新型的技术方案及其实用新型构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。
设计图
相关信息详情
申请码:申请号:CN201920112183.4
申请日:2019-01-23
公开号:公开日:国家:CN
国家/省市:44(广东)
授权编号:CN209820983U
授权时间:20191220
主分类号:G01N3/40
专利分类号:G01N3/40;G01N3/04
范畴分类:31E;
申请人:佛山市南海益晶科技有限公司
第一申请人:佛山市南海益晶科技有限公司
申请人地址:528000 广东省佛山市南海里水镇宏岗沥口东兴路13号之四
发明人:陈正青
第一发明人:陈正青
当前权利人:佛山市南海益晶科技有限公司
代理人:张伶俐
代理机构:42241
代理机构编号:武汉明正专利代理事务所(普通合伙) 42241
优先权:关键词:当前状态:审核中
类型名称:外观设计