M270硅钢片检测不合格的原因分析

论文摘要

分析硅钢片入厂取样检测过程中影响检测结果的因素,同时与第三方的检测进行比较,并与生产商的质量证明书上的原始数据进行比对。通过统计分析,明确了M270比总损耗测试不合格的形成原因,并提出了提高硅钢片原始磁性能、改变取样方式和减少人为因素影响的改进方法,以确保检测的有效性和质量控制的可靠性。

论文目录

• 0 引言
• 1 取样检测过程中影响检测结果的因素
•   1.1 环境温度
•   1.2 试样尺寸
•   1.3 试样质量
•   1.4 取样部位
•   1.5 测试设备
•   1.6 人为因素
• 2 与第三方检测的比对
• 3 试样的裁切毛刺对检测结果的影响
• 4 硅钢片原始磁性能对测试结果的影响
•   4.1 2011年—2019年硅钢片比总损耗数据分布
•   4.2 2011年—2019年比总损耗测试偏差数据
•   4.3 2011年—2019年同卷硅钢片检测结果分析
• 5 提高M270硅钢片比总损耗检测合格率的措施
•   5.1 提高硅钢片原始磁性能
•   5.2 改变取样方式
•   5.3 减少人为因素影响
• 6 结论

文章来源

类型: 期刊论文

作者: 顾海空

关键词: 硅钢片,检测,磁性能

来源: 上海大中型电机 2019年04期

年度: 2019

分类: 工程科技Ⅱ辑

专业: 电力工业

单位: 上海电气集团上海电机厂有限公司

分类号: TM275

DOI: 10.16712/j.cnki.cn31-1868/tm.2019.04.011

页码: 38-42

总页数: 5

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