一种漏装错装防呆检测治具论文和设计-曾礼江

全文摘要

本实用新型提出了一种漏装错装防呆检测治具，包括治具底座、测试架、定位塞、支撑探针、4个长金属片探针、8个短金属片探针、电源、第一电阻、第二电阻、第一LED灯、第二LED灯和导线，通过两个LED灯的亮\/灭，对产品进行漏装错装防呆检测，本实用新型将目视管理转换为夹治具准确测试，并且可以通过观察LED灯的亮\/灭，很直观的判定到底是长金属片漏装错装还是短金属片错装漏装还是长金属片、断金属片装错装反，轻松达到“防呆”的效果，保障了产品百分之百的良率。

主设计要求

1.一种漏装错装防呆检测治具，用于对产品内的1个长金属片、2个短金属片进行检测，其特征在于，包括治具底座、测试架、定位塞、支撑探针、4个长金属片探针、8个短金属片探针、电源、第一电阻、第二电阻、第一LED灯、第二LED灯和导线；其中，治具底座固定在测试架的底部，定位塞、支撑探针、4个长金属片探针、8个短金属片探针、第一LED灯、第二LED灯固定在测试架的顶部，电源、第一电阻、第二电阻和导线安装在测试架的内部；4个长金属片探针分别为长金属片探针A、长金属片探针B、长金属片探针C、长金属片探针D；4个短金属片探针分别为短金属片探针A、短金属片探针B、短金属片探针C、短金属片探针D、短金属片探针E、短金属片探针F、短金属片探针G、短金属片探针H；产品放置在测试架顶部并通过定位塞进行定位，通过支撑探针进行支撑；长金属片分别与长金属片探针A、长金属片探针B、长金属片探针C、长金属片探针D接触，第1个短金属片分别与短金属片探针A、短金属片探针B、短金属片探针C、短金属片探针D接触，第2个短金属片分别与短金属片探针E、短金属片探针F、短金属片探针G、短金属片探针H接触；电源的正极、长金属片探针A、长金属片探针B、第二电阻、短金属片探针A、短金属片探针B通过导线依次连接，短金属片探针C、短金属片探针D、第二LED灯、短金属片探针E、短金属片探针F通过导线依次连接，短金属片探针G、短金属片探针H、电源的负极依次通过导线连接，长金属片探针C、长金属片探针D、第一电阻、第一LED灯、电源的负极依次通过导线连接。

设计方案

1.一种漏装错装防呆检测治具，用于对产品内的1个长金属片、2个短金属片进行检测，其特征在于，

包括治具底座、测试架、定位塞、支撑探针、4个长金属片探针、8个短金属片探针、电源、第一电阻、第二电阻、第一LED灯、第二LED灯和导线；其中，

治具底座固定在测试架的底部，定位塞、支撑探针、4个长金属片探针、8个短金属片探针、第一LED灯、第二LED灯固定在测试架的顶部，电源、第一电阻、第二电阻和导线安装在测试架的内部；4个长金属片探针分别为长金属片探针A、长金属片探针B、长金属片探针C、长金属片探针D；4个短金属片探针分别为短金属片探针A、短金属片探针B、短金属片探针C、短金属片探针D、短金属片探针E、短金属片探针F、短金属片探针G、短金属片探针H；

产品放置在测试架顶部并通过定位塞进行定位，通过支撑探针进行支撑；长金属片分别与长金属片探针A、长金属片探针B、长金属片探针C、长金属片探针D接触，第1个短金属片分别与短金属片探针A、短金属片探针B、短金属片探针C、短金属片探针D接触，第2个短金属片分别与短金属片探针E、短金属片探针F、短金属片探针G、短金属片探针H接触；

电源的正极、长金属片探针A、长金属片探针B、第二电阻、短金属片探针A、短金属片探针B通过导线依次连接，短金属片探针C、短金属片探针D、第二LED灯、短金属片探针E、短金属片探针F通过导线依次连接，短金属片探针G、短金属片探针H、电源的负极依次通过导线连接，长金属片探针C、长金属片探针D、第一电阻、第一LED灯、电源的负极依次通过导线连接。

2.根据权利要求1所述的漏装错装防呆检测治具，其特征在于，治具底座为6个并且平均分布在测试架底部的前后两侧。

3.根据权利要求2所述的漏装错装防呆检测治具，其特征在于，定位塞为4个并且为L型结构，各定位塞通过 2个螺丝固定在测试架的顶部，产品的4个边角分别通过定位塞进行限位。

4.根据权利要求3所述的漏装错装防呆检测治具，其特征在于，支撑探针为6个并且处于4个定位塞的包围圈内。

5.根据权利要求4所述的漏装错装防呆检测治具，其特征在于，4个长金属片探针形成矩形方阵、8个短金属片探针探针形成矩形方阵，4个长金属片探针、8个短金属片探针均处于6个支撑探针的包围圈内。

6.根据权利要求5所述的漏装错装防呆检测治具，其特征在于，还包括控制电源的电源开关，电源开关按键设在测试架的侧面上。

设计说明书

技术领域

本实用新型涉及一种生产用治具，尤其是一种漏装错装防呆检测治具。

背景技术

在生产装有铁片的键盘皮套时，这些铁片在后续要进行充磁，经常有漏装铁片现象，原因是完全依靠人工目视判断金属片是否漏装以及位置装错。完全依靠人工目视判断金属片是否漏装以及位置装错，经常有漏装铁片现象，人工目视管控不够严谨时，会漏看，或者眼睛疲劳导致出错，漏装金属片及位置出错。

发明内容

针对现有技术中的存在的技术问题，本实用新型提出了一种漏装错装防呆检测治具，在原有基础的产品组装金属片的工艺上，添加了更有保障性的测试，确保安装金属片时，做到不漏装和防止组装位置出错，能够百分之百地确保正确的组装，从而提高了生产质量。

一种漏装错装防呆检测治具，用于对产品内的1个长金属片、2个短金属片进行检测，包括治具底座、测试架、定位塞、支撑探针、4个长金属片探针、8个短金属片探针、电源、第一电阻、第二电阻、第一LED灯、第二LED灯和导线；其中，治具底座固定在测试架的底部，定位塞、支撑探针、4个长金属片探针、8个短金属片探针、第一LED灯、第二LED灯固定在测试架的顶部，电源、第一电阻、第二电阻和导线安装在测试架的内部；4个长金属片探针分别为长金属片探针A、长金属片探针B、长金属片探针C、长金属片探针D；4个短金属片探针分别为短金属片探针A、短金属片探针B、短金属片探针C、短金属片探针D、短金属片探针E、短金属片探针F、短金属片探针G、短金属片探针H；产品放置在测试架顶部并通过定位塞进行定位，通过支撑探针进行支撑；长金属片分别与长金属片探针A、长金属片探针B、长金属片探针C、长金属片探针D接触，第1个短金属片分别与短金属片探针A、短金属片探针B、短金属片探针C、短金属片探针D接触，第2个短金属片分别与短金属片探针E、短金属片探针F、短金属片探针G、短金属片探针H接触；电源的正极、长金属片探针A、长金属片探针B、第二电阻、短金属片探针A、短金属片探针B通过导线依次连接，短金属片探针C、短金属片探针D、第二LED灯、短金属片探针E、短金属片探针F通过导线依次连接，短金属片探针G、短金属片探针H、电源的负极依次通过导线连接，长金属片探针C、长金属片探针D、第一电阻、第一LED灯、电源的负极依次通过导线连接。

作为实用新型的进一步改进，治具底座为6个并且平均分布在测试架底部的前后两侧。

作为实用新型的进一步改进，定位塞为4个并且为L型结构，各定位塞通过 2个螺丝固定在测试架的顶部，产品的4个边角分别通过定位塞进行限位。

作为实用新型的进一步改进，支撑探针为6个并且处于4个定位塞的包围圈内。

作为实用新型的进一步改进，4个长金属片探针形成矩形方阵、8个短金属片探针探针形成矩形方阵，4个长金属片探针、8个短金属片探针均处于6个支撑探针的包围圈内。

作为实用新型的进一步改进，还包括控制电源的电源开关，电源开关按键设在测试架的侧面上。

现有工艺检查产品金属片是人工肉眼判定，比较容易出错，出现漏装以及金属片位置不匹配等不良情况。相比现有技术来说，本实用新型的有益效果是：将目视管理转换为夹治具准确测试，并且可以通过观察LED灯的亮\/灭，很直观的判定到底是长金属片漏装错装还是短金属片错装漏装还是长金属片、断金属片装错装反，轻松达到“防呆”的效果，保障了产品百分之百的良率。

附图说明

图1是本实用新型的一种漏装错装防呆检测治具的主视图。

图2是本实用新型的一种漏装错装防呆检测治具的透视图。

图3是图2的俯视图。

图4是本实用新型的一种漏装错装防呆检测治具的正视图（倒置）。

图5是本实用新型的一种漏装错装防呆检测治具的正视图。

图6是本实用新型的一种漏装错装防呆检测治具的侧视图。

图7是本实用新型的一种漏装错装防呆检测治具的相关部件连接关系图。

图8是本实用新型的一种漏装错装防呆检测治具的电路图。

附图标记：100-漏装错装防呆检测治具，200-长金属片，300-第1个短金属片，400-第2个短金属片，1-治具底座，2-测试架，3-定位塞，4-支撑探针，5-电源，6-第一电阻，7-第二电阻，8-第一LED灯，9-第二LED灯，10-长金属片探针A，11-长金属片探针B，12-长金属片探针C，13-长金属片探针D，14-短金属片探针A，15-短金属片探针B，16-短金属片探针C，17-短金属片探针D，18-短金属片探针E，19-短金属片探针F，20-短金属片探针G，21-短金属片探针H，22-电源开关。

具体实施方式

为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面结合附图及具体实施例对本实用新型进一步说明。

实施例1

如图1-7所示的一种漏装错装防呆检测治具100，用于对产品内的1个长金属片200、第1个短金属片300、第2个短金属片400进行检测。

包括治具底座1、测试架2、定位塞3、支撑探针4、4个长金属片探针、8个短金属片探针、电源5、第一电阻6、第二电阻7、第一LED灯8、第二LED灯9和导线。其中，治具底座1固定在测试架2的底部，治具底座1为6个并且平均分布在测试架2底部的前后两侧。采用此技术方案，6个治具底座为整个治具提供了平稳的支撑。

定位塞3、支撑探针4、4个长金属片探针、8个短金属片探针、第一LED灯8、第二LED灯9固定在测试架2的顶部。电源5、第一电阻6、第二电阻7和导线安装在测试架2的内部。产品放置在测试架2顶部并通过定位塞3进行定位，通过支撑探针4进行支撑，两个LED灯用于显示测试结果，发亮即正确

优选的，定位塞3为4个并且为L型结构，各定位塞3通过 2个螺丝固定在测试架2的顶部，产品的4个边角分别通过定位塞2进行限位，通过L型定位塞形成了对产品的限位空间，方便快速、精准地放置产品；支撑探针4为6个并且处于4个定位塞3的包围圈内， 6个支撑探针在测试产品时6根探针起到平衡作用。

优选的，4个长金属片探针形成矩形方阵、8个短金属片探针探针形成矩形方阵，4个长金属片探针、8个短金属片探针均处于6个支撑探针4的包围圈内。该技术方案，是在为本实用新型实现产品的检测做好准备。

如图7所示，4个长金属片探针分别为长金属片探针A 10、长金属片探针B 11、长金属片探针C 12、长金属片探针D 13；4个短金属片探针分别为短金属片探针A 14、短金属片探针B 15、短金属片探针C 16、短金属片探针D 17、短金属片探针E 18、短金属片探针F 19、短金属片探针G 20、短金属片探针H 21。并且，要求当把长金属片错装在短金属片探针的上方时，短金属片探针C 16、短金属片探针D 17、短金属片探针E 18均落在长金属片的下方并且能接触通电。

产品的长金属片200分别与长金属片探针A 10、长金属片探针B 11、长金属片探针C 12、长金属片探针D 13接触，第1个短金属片300分别与短金属片探针A 14、短金属片探针B 15、短金属片探针C 16、短金属片探针D 17接触，第2个短金属片400分别与短金属片探针E 18、短金属片探针F 19、短金属片探针G 20、短金属片探针H 21接触。

电源5的正极、长金属片探针A 10、长金属片探针B 11、第二电阻7、短金属片探针A14、短金属片探针B 15通过导线依次连接，短金属片探针C 16、短金属片探针D 17、第二LED灯9、短金属片探针E 18、短金属片探针F 19通过导线依次连接，短金属片探针G 20、短金属片探针H 21、电源5的负极依次通过导线连接，长金属片探针C 12、长金属片探针D 13、第一电阻 6、第一LED灯8 、电源5的负极依次通过导线连接。

还包括控制电源5的电源开关22，电源开关22按键设在测试架2的侧面上。

本实用新型的工作原理是：

如果产品上的长金属片正确安装在长金属片位置（4个长金属片探针所组成的矩形方阵）上，2个短金属片正确安装在短金属片位置（8个短金属片探针所组成的矩形方阵）上，打开电源开关进行测试，则第一LED灯、第二LED灯均亮。原理如图8所示， DC-5V（电源）通电经过长金属片再经过3k限流电阻R1（第一电阻）到LED1（第一LED灯）到负极形成回路第一LED灯亮；DC-5V（电源）通电经过长金属片再经过3k限流电阻R2（第二电阻）到第1个短金属片、LED2（第二LED灯）、第2个短金属片再到负极形成回路第二LED灯亮。

如果产品的长金属片错装成短金属片，打开电源开关，进行测试，则第一LED灯不亮，第二LED灯亮。原理如图8所示，DC-5V（电源）通电经过长金属片位置时，因为错装的短金属片不够长，电就中断了，LED1（第一LED灯）不亮。

如果产品的短金属片错装成长金属片，打开电源开关，进行测试，则第一LED灯亮，第二LED灯不亮。原理如图8所示，DC-5V（电源）通电经过短金属片位置时，因为错装的长金属片太长，就会与负极形成短路，LED2（第二LED灯）不亮。

如果产品少装短了1个长金属片，打开电源开关，进行测试，则第一LED灯不亮。原理如图8所示，DC-5V（电源）通电经过长金属片位置时，少了长金属片，电中断了，LED1（第一LED灯）不亮。

如果产品少装短了1个短金属片，打开电源开关，进行测试，则第二LED灯不亮。原理如图8所示，DC-5V（电源）通电经过短金属片位置时，少了一块短金属片，电中断了，LED2（第二LED灯）不亮。

以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

设计图

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