表面热电离同位素稀释质谱法的计算及质量分馏效应校正

论文摘要

表面热电离同位素稀释质谱法（ID-TIMS）是国际公认的基准方法之一。本文以稀释分析锶同位素为例,详细介绍了其计算和推导过程,提出基于指数近似模式的稀释分析同位素分馏校正的方法。该方法适用于校正含有两对参考比值的元素静态多接收稀释分析同位素比值的质量分馏,与指数校正方法和对数校正方法相比,计算过程更简单。还讨论了稀释剂同位素比值准确度对稀释分析同位素比值的影响及其质量分馏的校正方法,通过数学迭代计算质量分馏系数,得到稀释剂测量的质量分馏系数和准确的同位素比值。采用建立的质量分馏校正方法稀释分析NBS987,结果表明,在误差范围内与其参考值(87Sr/86Sr=0.710 237±8（1σ）)一致。

论文目录

• 1 表面热电离同位素稀释质谱法的计算
•   1.1 样品中 87Sr/86Sr及Sr含量的计算
•   1.2 稀释分析同位素质量分馏校正
• 2 稀释剂校正
• 3 稀释剂质量分馏校正方法
• 4 结果验证
• 5 结语

文章来源

类型: 期刊论文

作者: 颜妍,崔建勇,张天睿,汤书婷,朱键铭

关键词: 质量分馏,校正

来源: 质谱学报 2019年05期

年度: 2019

分类: 工程科技Ⅰ辑

专业: 化学

单位: 核工业北京地质研究院

分类号: O657.63

页码: 492-498

总页数: 7

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