全文摘要
一种高压电阻老化筛选装置，包括直流高阻测试仪和高压电阻测试台，直流高阻测试仪的红、黑表笔接在高压电阻测试台的接入口，高压电阻测试台包括控制器和老化台，控制器包括行控制器和列控制器，老化台上设有多行和多列测试孔，行控制器通过导线分别于老化台上的行测试孔逐行连接，列控制器通过导线分别于老化台上的列测试孔逐列连接。本实用新型提供的一种高压电阻老化筛选装置，可以在单次试验中对多只高压电阻进行阻值测试，用户可根据实际需要选择高压电阻的试验数量。高压电阻测试台加工简单，成本低，使用灵活。该方案是一种操作简单、易于实现的高压电阻老化筛选方案,值得推广。
主设计要求
1.一种高压电阻老化筛选装置，其特征在于：包括直流高阻测试仪（1）和高压电阻测试台（5），直流高阻测试仪（1）的红、黑表笔接在高压电阻测试台（5）的接入口，高压电阻测试台（5）包括控制器（3）和老化台（6），控制器（3）包括行控制器（2）和列控制器（4），老化台（6）上设有多行和多列测试孔（7），行控制器（2）通过导线分别于老化台（6）上的行测试孔（7）逐行连接，列控制器（4）通过导线分别于老化台（6）上的列测试孔（7）逐列连接。
设计方案
1.一种高压电阻老化筛选装置，其特征在于：包括直流高阻测试仪（1）和高压电阻测试台（5），直流高阻测试仪（1）的红、黑表笔接在高压电阻测试台（5）的接入口，高压电阻测试台（5）包括控制器（3）和老化台（6），控制器（3）包括行控制器（2）和列控制器（4），老化台（6）上设有多行和多列测试孔（7），行控制器（2）通过导线分别于老化台（6）上的行测试孔（7）逐行连接，列控制器（4）通过导线分别于老化台（6）上的列测试孔（7）逐列连接。
2.根据权利要求1所述的一种高压电阻老化筛选装置，其特征在于：所述行控制器（2）和列控制器（4）均为波段开关。
3.根据权利要求2所述的一种高压电阻老化筛选装置，其特征在于：所述行控制器（2）的档位有10个。
4.根据权利要求1所述的一种高压电阻老化筛选装置，其特征在于：所述列控制器（4）的档位有6个。
5.根据权利要求1所述的一种高压电阻老化筛选装置，其特征在于：所述老化台（6）的测试孔（7）的行数与行控制器（2）的档位数相同。
6.根据权利要求1所述的一种高压电阻老化筛选装置，其特征在于：所述老化台（6）的测试孔（7）的列数与列控制器（4）的档位数相同。
设计说明书
技术领域：
本申请涉及电阻筛选领域，尤其涉及一种高压电阻老化筛选装置。
背景技术：
几乎在所有的高压应用中，高压电阻是必不可少的元器件。在这些应用中，高压电阻主要起到分压作用，电阻的精度和阻值的稳定性直接影响电压输出的精度和稳定性。尤其在高压电源研发和生产中，高压电阻的温度系数直接影响着高压电源在高低温工作时的性能。为确保每只用于电源产品中的高压电阻的精度及温度系数都是合格的，在高压电阻使用前，必须对高压电阻进行严格的高低温测试和老化筛选。
由于高压电阻进行高低温老化筛选时的器件个数多，通常为几十只甚至几百只，普通的单次试验只能测试单只高压电阻，这种方法不仅费时还费力。
发明内容：
为了克服上述的不足，本发明提供了一种高压电阻老化筛选装置。
本发明解决其技术问题所采用的技术方案：
一种高压电阻老化筛选装置，包括直流高阻测试仪和高压电阻测试台，直流高阻测试仪的红、黑表笔接在高压电阻测试台的接入口，高压电阻测试台包括控制器和老化台，控制器包括行控制器和列控制器，老化台上设有多行和多列测试孔，行控制器通过导线分别于老化台上的行测试孔逐行连接，列控制器通过导线分别于老化台上的列测试孔逐列连接。
所述行控制器和列控制器均为波段开关。
所述行控制器的档位有10个。
所述列控制器的档位有6个。
所述老化台的测试孔的行数与行控制器的档位数相同。
所述老化台的测试孔的列数与列控制器的档位数相同。
由于采用如上所述的技术方案，本发明具有如下优越性：
本实用新型提供的一种高压电阻老化筛选装置，可以在单次试验中对多只高压电阻进行阻值测试，用户可根据实际需要选择高压电阻的试验数量。高压电阻测试台加工简单，成本低，使用灵活。该方案是一种操作简单、易于实现的高压电阻老化筛选方案,值得推广。
附图说明：
图1是本实用新型的整体结构框架图；
图2是老化台的结构示意图；
图中：1、直流高阻测试仪；2、行控制器；3、控制器；4、列控制器；5、高压电阻测试台；6、老化台；7、测试孔。
具体实施方式：
通过下面实施例可以更详细的解释本发明，公开本发明的目的旨在保护本发明范围内的一切变化和改进，本发明并不局限于下面的实施例；
结合附图所述的一种高压电阻老化筛选装置，包括直流高阻测试仪1和高压电阻测试台5，直流高阻测试仪1的红、黑表笔接在高压电阻测试台5的接入口，高压电阻测试台5包括控制器3和老化台6，控制器3包括行控制器2和列控制器4，老化台6上设有多行和多列测试孔7，行控制器2通过导线分别于老化台6上的行测试孔7逐行连接，列控制器4通过导线分别于老化台6上的列测试孔7逐列连接。
所述行控制器2和列控制器4均为波段开关。
所述行控制器2的档位有10个。
所述列控制器4的档位有6个。
所述老化台6的测试孔7的行数与行控制器2的档位数相同。
所述老化台6的测试孔7的列数与列控制器4的档位数相同。
如图1中直流高阻测试仪1选用的是安捷伦的Agilent4339B高阻测试仪，该测试仪用来测试高压电阻的阻值。高压电阻测试台5的老化台6用来安装被测试的高压电阻，老化台6测试位号示意图如图2所示，测试位号主要由行号与列号组合而成，如：11、12、13......,21、22、23......,该老化台一次可安装60只高压电阻。高压电阻测试台5的控制器3主要由行控制器2和列控制器4两个控制器组成，两个控制器均选用了方便操作的波段开关，例如：当行控制器2的波段开关打到“1”时，表示测试位号选取的是第1行，当列控制器4的波段开关打到“1”时，表示测试位号选取的是第1列，由此可确定该测试位号为11，此时直流高阻测试仪测试出的电阻值为位号11上的高压电阻阻值。
以上内容中未细述部份为现有技术，故未做细述。
设计图
相关信息详情
申请码:申请号:CN201920023483.5
申请日:2019-01-08
公开号:公开日:国家:CN
国家/省市:41(河南)
授权编号:CN209656846U
授权时间:20191119
主分类号:G01R 31/26
专利分类号:G01R31/26
范畴分类:31F;
申请人:洛阳隆盛科技有限责任公司
第一申请人:洛阳隆盛科技有限责任公司
申请人地址:471000 河南省洛阳市西工区凯旋西路25号
发明人:蒋春艳;徐宏洲
第一发明人:蒋春艳
当前权利人:洛阳隆盛科技有限责任公司
代理人:林志坚
代理机构:41112
代理机构编号:洛阳市凯旋专利事务所 41112
优先权:关键词:当前状态:审核中
类型名称:外观设计