全文摘要
本实用新型提供一种检测设备及检测方法，其中，检测设备包括：移动装置，所述移动装置包括多个传送装置，多个传送装置用于使待测物沿相同的传送方向移动；相邻传送装置之间具有空隙，所述传送装置表面具有用于放置待测物的承载面，检测时待测物位于所述承载面且横跨所述空隙；发光装置，用于向所述空隙发射探测光，所述探测光经待测物形成第一信号光和第二信号光；第一探测装置，用于探测所述第一信号光获取第一探测信息；第二探测装置，用于探测穿过所述空隙的第二信号光获取第二探测信息，所述第一探测装置和第二探测装置分别位于所述承载面两侧。所述检测设备结构简单，成本较低，且能够减少误检。
主设计要求
1.一种检测设备，其特征在于，包括：移动装置，所述移动装置包括多个传送装置，多个传送装置用于使待测物沿相同的传送方向移动；相邻传送装置之间具有空隙，所述传送装置表面具有用于放置待测物的承载面，所述移动装置用于使待测物自一个传送装置横跨所述空隙传送至另一传送装置；发光装置，用于向所述空隙发射探测光，所述探测光经待测物形成第一信号光和第二信号光；第一探测装置，用于探测所述第一信号光获取第一探测信息；第二探测装置，用于探测穿过所述空隙的第二信号光获取第二探测信息，所述第一探测装置和第二探测装置分别位于所述承载面两侧。
设计方案
1.一种检测设备，其特征在于，包括：
移动装置，所述移动装置包括多个传送装置，多个传送装置用于使待测物沿相同的传送方向移动；相邻传送装置之间具有空隙，所述传送装置表面具有用于放置待测物的承载面，所述移动装置用于使待测物自一个传送装置横跨所述空隙传送至另一传送装置；
发光装置，用于向所述空隙发射探测光，所述探测光经待测物形成第一信号光和第二信号光；
第一探测装置，用于探测所述第一信号光获取第一探测信息；
第二探测装置，用于探测穿过所述空隙的第二信号光获取第二探测信息，所述第一探测装置和第二探测装置分别位于所述承载面两侧。
2.如权利要求1所述的检测设备，其特征在于，所述发光装置包括：第一光源，被配置为产生用于形成第一信号光的第一探测光；第二光源，被配置为产生用于形成第二信号光的第二探测光，所述第二探测光与第一探测光的传播方向不同。
3.如权利要求2所述的检测设备，其特征在于，所述第一探测光与第二探测光的波长不相同。
4.如权利要求2所述的检测设备，其特征在于，所述第一光源和第二光源位于所述承载面的同一侧；或者，所述第一光源和第二光源分别位于承载面两侧，且所述第一光源与第一探测装置位于所述承载面的同一侧。
5.如权利要求2所述的检测设备，其特征在于，所述第一探测装置包括第一滤光组件，用于滤除第一信号光；所述第二探测装置包括第二滤光组件，用于滤除第二信号光。
6.如权利要求2所述的检测设备，其特征在于，所述第一探测光的中心轴线垂直于所述承载面，所述第一探测装置镜头的光轴与承载面法线之间具有锐角夹角；所述第二探测光的中心轴线与承载面法线之间具有锐角夹角，所述第二探测装置镜头的光轴与承载面垂直。
7.如权利要求1所述的检测设备，其特征在于，所述第一信号光为探测光经待测物反射或散射形成的光束；所述第二信号光为探测光透过待测物形成的光束。
8.如权利要求1所述的检测设备，其特征在于，所述第一探测装置在承载面的探测区域与第二探测装置在承载面的探测区域至少部分重叠。
9.如权利要求1所述的检测设备，其特征在于，所述第一探测装置在承载面的探测区域沿垂直于所述传送方向贯穿待测物的待测区；所述第二探测装置在承载面的探测区域沿垂直于所述传送方向贯穿待测物的待测区。
10.如权利要求1所述的检测设备，其特征在于，所述传送装置包括：两个旋转轮；安装于旋转轮的传送带，所述旋转轮用于带动传送带旋转。
11.如权利要求1所述的检测设备，其特征在于，还包括第三光源，所述第三光源为弧形光源，所述弧形光源的发光面为弧面，所述弧形光源的弧面朝背离承载面的方向凹陷；
所述第三光源被配置为向待测物发射第三探测光，所述第三探测光经待测物反射形成第三信号光；第三探测装置，用于探测所述第三信号光获取第三探测信息。
12.如权利要求11所述的检测设备，其特征在于，所述检测设备包括多个空隙，所述多个空隙包括第一空隙和第二空隙；所述第二信号光用于穿过所述第一空隙被第二探测装置接收；
所述第三探测装置及至少部分第三光源位于承载面靠近第二空隙的一侧，所述第三信号光用于穿过所述第二空隙被第三探测装置接收。
设计说明书
技术领域
本实用新型涉及检测领域，特别涉及一种检测设备。
背景技术
玻璃材料在现代工业制造中被广泛使用，例如作为手机屏幕、光学透镜、电池片、曲面显示屏等。随着加工水平的进步，越来越多的玻璃产品被设计成曲面结构，以实现更好的功能或达到更好的外观。由于曲面部分加工难度较大，镜面曲面有较大的可能出现缺陷，从而影响其功能及外观，因此需要对这部分进行检测，以保证产品合格率。
对玻璃产品表面缺陷的检测主要采用光学检测的方法，为了增加检测精度，减少误检率，往往需要对产品进行多通道检测，包括明场检测、暗场检测和背光检测。明场检测是通过探测待测物表面反射的光束强度，来实现对待测物表面进行检测的方法。明场检测具有灵敏度高、程序设定简单等优点，在工业检测中具有重要应用。暗场检测是通过探测待测物表面的散射光强度，来实现对待测物表面进行检测的方法。暗场检测对凸起等缺陷的检测可实现更好的灵敏度。背光检测是通过使光束穿过玻璃产品，对透过玻璃产品的光束进行探测。背光探测对检测玻璃产品的崩边具有很高的精度。
然而，现有技术往往通过多通道对产品进行检测，且需要对产品正反双面检测，这就导致检测设备体积较大，结构复杂，成本较高。
发明内容
本实用新型解决的问题是提供一种检测设备，能够简化检测设备的结构，降低成本。
为解决上述问题，本实用新型提供一种检测设备，包括：移动装置，所述移动装置包括多个传送装置，多个传送装置用于使待测物沿相同的传送方向移动；相邻传送装置之间具有空隙，所述传送装置表面具有用于放置待测物的承载面，检测时待测物位于所述承载面且横跨所述空隙；发光装置，用于向所述空隙发射探测光，所述探测光经待测物形成第一信号光和第二信号光；第一探测装置，用于探测所述第一信号光获取第一探测信息；第二探测装置，用于探测穿过所述空隙的第二信号光获取第二探测信息，所述第一探测装置和第二探测装置分别位于所述承载面两侧。
可选的，所述发光装置包括：第一光源，被配置为产生用于形成第一信号光的第一探测光；第二光源，被配置为产生用于形成第二信号光的第二探测光，所述第二探测光与第一探测光的传播方向不同。
可选的，所述第一探测光与第二探测光的波长不相同。
可选的，所述第一光源和第二光源位于所述承载面的同一侧；或者，所述第一光源和第二光源分别位于承载面两侧，且所述第一光源与第一探测装置位于所述承载面的同一侧。
可选的，所述第一探测装置包括第一滤光组件，用于滤除第一信号光；所述第二探测装置包括第二滤光组件，用于滤除第二信号光。
可选的，所述第一探测光的中心轴线垂直于所述承载面，所述第一探测装置镜头的光轴与承载面法线之间具有锐角夹角；所述第二探测光的中心轴线与承载面法线之间具有锐角夹角，所述第二探测装置镜头的光轴与承载面垂直。
可选的，所述第一信号光为探测光经待测物反射或散射形成的光束；所述第二信号光为探测光透过待测物形成的光束。
可选的，所述第一探测装置在承载面的探测区域与第二探测装置在承载面的探测区域至少部分重叠。
可选的，所述第一探测装置在承载面的探测区域沿垂直于所述传送方向贯穿待测物的待测区；所述第二探测装置在承载面的探测区域沿垂直于所述传送方向贯穿待测物的待测区。
可选的，所述传送装置包括：两个旋转轮；安装于旋转轮的传送带，所述旋转轮用于带动传送带旋转。
可选的，还包括第三光源，所述第三光源为弧形光源，所述弧形光源的发光面为弧面，所述弧形光源的弧面朝背离承载面的方向凹陷；所述第三光源被配置为向待测物发射第三探测光，所述第三探测光经待测物反射形成第三信号光；第三探测装置，用于探测所述第三信号光获取第三探测信息。
可选的，所述检测设备包括多个空隙，所述多个空隙包括第一空隙和第二空隙；所述第二信号光用于穿过所述第一空隙被第二探测装置接收；所述第三探测装置及至少部分第三光源位于承载面靠近第二空隙的一侧，所述第三信号光用于穿过所述第二空隙被第三探测装置接收。
与现有技术相比，本实用新型的技术方案具有以下优点：
本实用新型技术方案提供的检测设备中，所述传送装置之间具有空隙，所述第二探测装置被配置为用于探测穿过所述空隙的第二信号光，且所述第二探测装置和第一探测装置分别位于承载面两侧，则所述检测设备能够通过探测待测物正反两面的光束对待测物进行多通道检测，从而能够避免待测物的翻转，进而能够简化检测设备的结构，且能够加快检测速度。同时，所述探测光向所述空隙发射，所述第一信号光和第二信号光均来自所述空隙处的待测物，因此所述检测设备能够在同一空隙处实现待测物的多通道检测，从而能够提高检测设备的集成度，缩小检测设备的体积。
进一步，所述第三光源为弧形光源，所述弧形光源的发光面为弧面，所述弧形光源的弧面朝向背离承载面的方向凹陷。通过所述弧形光源及第三探测装置能够对具有凸面的待测物进行明场检测。
进一步，所述第一探测光和第二探测光的波长不同，且所述第一探测装置包括第一滤光组件，则能够去除第二信号光对第一探测信息的影响；所述第二探测装置包括第二滤光组件，则能够去除第一信号光对第二探测信息的影响，从而能够提高检测精度。
附图说明
图1和图2是本实用新型的检测设备一实施例的结构示意图；
图3是本实用新型的检测设备另一实施例的结构示意图；
图4和图5是本实用新型的检测设备又一实施例的结构示意图。
具体实施方式
现有的检测设备存在诸多问题，例如：检测设备结构复杂，成本较高。
现结合一种检测设备分析其检测设备结构复杂，成本较高的原因。
为了提高检测的精度，减少误检，现有的检测设备设置往往设置多个通道对产品进行检测，由于检测通道较多，导致检测设备结构复杂，成本较高。另外，为了对产品实现双面检测，现有的设备具有翻转装置，用于对产品进行翻转，导致检测设备结构复杂，检测速度较慢。
为解决所述技术问题，本实用新型提供了一种检测设备，包括：移动装置，所述移动装置包括多个传送装置，多个传送装置用于使待测物沿相同的传送方向移动；相邻传送装置之间具有空隙，所述传送装置表面具有用于放置待测物的承载面，检测时待测物位于所述承载面且横跨所述空隙；发光装置，用于向所述空隙发射探测光，所述探测光经待测物形成第一信号光和第二信号光；第一探测装置，用于探测所述第一信号光获取第一探测信息；第二探测装置，用于探测穿过所述空隙的第二信号光获取第二探测信息，所述第一探测装置和第二探测装置分别位于所述承载面两侧。所述检测设备结构简单，成本较低，且能够减少误检。
为使本实用新型的上述目的、特征和优点能够更为明显易懂，下面结合附图对本实用新型的具体实施例做详细的说明。
图1和图2是本实用新型的检测设备一实施例的结构示意图。
请参考图1和图2，图2是图1的局部放大图，所述检测设备包括：移动装置，所述移动装置包括多个传送装置100，多个传送装置100用于使待测物110沿相同的传送方向移动；相邻传送装置100之间具有空隙，所述传送装置100表面具有用于放置待测物110的承载面，所述移动装置用于使待测物自一个传送装置横跨所述空隙传送至另一传送装置；
发光装置，用于向所述空隙发射探测光，所述探测光经待测物110形成第一信号光和第二信号光；
第一探测装置211，用于探测所述第一信号光获取第一探测信息；
第二探测装置212，用于探测穿过所述空隙的第二信号光获取第二探测信息，所述第二探测装置212和第一探测装置211分别位于所述承载面两侧。
所述传送装置100之间具有空隙，所述第二探测装置212被配置为用于探测穿过所述空隙的第二信号光，且所述第一探测装置211和第二探测装置212分别位于承载面两侧，则所述检测设备能够通过探测待测物110正反两面的光束对待测物110进行多通道检测，从而能够避免待测物110的翻转，进而能够简化检测设备的结构，且能够加快检测速度。同时，所述探测光向所述空隙发射，所述第一信号光和第二信号光均来自所述空隙处的待测物110，因此所述检测设备能够在同一空隙处实现待测物110的多通道检测，从而能够提高检测设备的集成度，缩小检测设备的体积。
本实施例中，所述发光装置包括：第一光源221，被配置为产生用于形成第一信号光的第一探测光；第二光源222，被配置为产生用于形成第二信号光的第二探测光，所述第二探测光与第一探测光的传播方向不同。
本实施例中，所述第一光源221和第二光源222分别位于承载面两侧，且所述第一光源221与第一探测装置211位于所述承载面的同一侧。
具体的，本实施例中，所述第一光源221为明场光源，即所述第一信号光为第一探测光经待测物110反射形成的反射光；所述第二光源222为明场光源，即所述第二信号光为第二探测光经待测物110反射形成的反射光。在其他实施例中，所述第一光源221和第二光源222中的一者或两者为暗场光源。
本实施例中，所述检测装置能够在同一空隙处实现对待测物110的双面明场检测，从而能够缩小检测设备的体积。
在其他实施中，所述第一光源221和第二光源222位于所述承载面的同一侧。具体的，当所述第一光源221、第二光源222与第一探测装置211位于承载面的同一侧时，所述第一信号光为第一探测光经待测物110反射或散射形成的光束，所述第二信号光为第二探测光透过待测物110形成的光束。当所述第一光源221、第二光源222与第二探测装置212位于承载面的同一侧时，所述第一信号光为第一探测光透过待测物110形成的光束，所述第二信号光为第二探测光经待测物110反射或散射形成的光束。
本实施例中，所述第一探测光中心线与垂直于所述传送方向的平面之间具有第一锐角夹角，所述第一探测装置211镜头光轴与垂直于所述传送方向的平面之间的夹角等于所述第一锐角夹角；所述第二探测光中心线与垂直于所述传送方向的平面之间具有第二锐角夹角，所述第二探测装置212镜头光轴与垂直于所述传送方向的平面之间的夹角等于所述第二锐角夹角。
本实施例中，所述传送装置100包括：至少两个旋转轮101及位于绕在两个旋转轮外侧的传送带102。
具体的，本实施例中，旋转轮101的个数为两个，所述传送带的条数为两条。两条传送带相互平行地绕在两个旋转轮外侧。
本实施例中，所述传送带的横截面为圆形。在其他实施例中，所述传送带的横截面还可以为矩形或椭圆形。所述传送带的条数可以为一条。
所述承载面为传送带用于与待测物接触的区域所在的平面。本实施例中，各传送带用于与待测物接触的区域为一条接触线，所述承载面为两条传送带的两条接触线所在的平面。
本实施例中，所述传送带的材料为皮。在其他实施例中，所述传送带的材料可以为金属。
如果相邻传送装置100之间空隙的深宽比过大，容易对第二探测光产生遮挡；如果相邻传送装置100之间的深宽比过小，相邻传送装置100之间间距过大待测物110容易从所述空隙中滑落，如果所述旋转率半径较小，曲率较大，容易导致传送带102与待测物110接触的表面不平。
如果所述第二锐角夹角过大，所述第二探测光和第二信号光容易被传送装置100遮挡；如果所述第二锐角夹角过小，不利于第二探测装置212和第二光源222的安装。
第二光束的宽度越大，越容易受到传送装置100的遮挡。因此，相邻传送装置之间的距离、旋转轮101直径、第二光束宽度及第二锐角夹角之间相互配合。
具体的，本实施例中，相邻传送装置100之间的最小间距d为40mm~55m，例如45mm；旋转轮101的直径为13mm~17mm，例如15mm；皮带的直径为1.5mm~2.5mm，例如2mm；所述第二锐角夹角为15°~45°，例如30°。
在其他实施例中，所述第一光源221和第二光源222中的一者或两者的个数为多个。相应的，所述第二探测装置212和第一探测装置211中的一者或两者的个数为多个。或者，多个第一光源221依次交替地发射第一探测光，所述第一探测装置211用于依次交替地探测不同第一探测光产生的第一信号光；多个第二光源222依次交替地发射第二探测光，所述第二探测装置212用于依次交替地探测不同第二探测光产生的第二信号光。
本实施例中，所述第一探测光与第二探测光的波长不相同。
本实施例中，所述第一探测装置211包括第一滤光组件，用于滤除第一信号光；所述第二探测装置212包括第二滤光组件，用于滤除第二信号光。
所述第一探测光和第二探测光的波长不同，且所述第一探测装置211包括第一滤光组件，则能够去除第二信号光对第一探测信息的影响；所述第二探测装置212包括第二滤光组件，则能够去除第一信号光对第二探测信息的影响，从而能够提高检测精度。
所述第一滤光组件包括滤光片或光栅中的一种或两种组合。所述述第二滤光组件包括滤光片或光栅中的一种或两种组合。
本实施例中，所述第一探测装置211在承载面的探测区域沿垂直于所述传送方向贯穿待测物110的待测区；所述第二探测装置212在承载面的探测区域沿垂直于所述传送方向贯穿待测物110的待测区。因此，当所述移动装置带动待测物110经过所述空隙后，所述检测设备能够对整个待测区进行检测。
本实施例中，所述第一探测装置211在承载面的探测区域与第二探测装置212在承载面的探测区域至少部分重叠。具体的，所述第与探测装置211在承载面的探测区域与第二探测装置212在承载面的探测区域完全重叠。
所述第一探测装置211在承载面的探测区域指的是第一探测装置211对待测物110拍摄一次图像，所拍摄的待测物110表面区域；所述第二探测装置212在承载面的探测区域指的是第二探测装置212对待测物110拍摄一次图像，所拍摄的待测物110表面区域。
本实施例中，所述第一探测装置211为线探测器，即所述第一探测装置的探测区域为线形，所述第一探测装置211探测区域的延伸方向垂直于所述传送方向。在其他实施例中，所述第一探测装置211为面探测器，即所述第一探测装置的探测区域为一个面。
本实施例中，所述第二探测装置212为线探测器，即所述第二探测装置212的探测区域为线形，所述第二探测装置212探测区域的延伸方向垂直于所述传送方向。在其他实施例中，所述第二探测装置212为面探测器，即所述第二探测装置的探测区域为一个面。
所述第一探测装置211在承载面的探测区域与第二探测装置212在承载面的探测区域至少部分重叠，能够缩小设备体积。
图3是本实用新型检测设备另一实施例的结构示意图。
请参考图3，本实施例与图1和图2所示实施例的相同之处在此不多做赘述，不同之处包括：所述第一信号光为探测光经待测物反射或散射形成的光束；所述第二信号光为探测光透过待测物形成的光束。
本实施例中，所述发光装置220仅包括一个光源，所述探测光到达待测物表面之后，部分被待测物反射或散射形成第一信号光，部分透过所述待测物形成第二信号光。
本实施例中所述检测设备能够在同一空隙处实现对待测物明场或暗场检测，并能够对待测物110进行背光检测。
图4和图5是本实用新型的检测设备又一实施例的结构示意图。
请参考图4 和图5，图5是图4区域1中部分沿x方向的侧视图。
本实施例与图1所示实施例的相同之处在此不做赘述，不同之处包括：
本实施例中，所述第一光源141为暗场光源，所述第一信号光为第一探测光经待测物110散射形成的散射光。
本实施例中，所述第一光源141和第二光源142的个数为一个。在其他实施例中，所述第一光源141为暗场光源时，所述第一光源141的个数可以为多个，多个第一光源141发射的第一探测光的传播方向不同。所述第二光源142为暗场光源时，所述第二光源142的个数可以为多个，多个第二光源142发射的第二探测光的传播方向不同。
本实施例中，所述第一探测光的传播方向垂直于所述承载面；所述第一探测装置113的镜头的光轴与第一探测光传播方向之间具有锐角夹角。所述第二探测光的传播方向与承载面法线之间具有锐角夹角，所述第二探测装置114的镜头光轴与承载面垂直。
本实施例中，所述检测设备包括多个空隙，所述多个空隙包括第一空隙、第二空隙和第三空隙。具体的，所述第二信号光穿过所述第一空隙被第二探测装置接收。
所述检测设备还包括：
第一频闪光源121，被配置为向待测物110的待测区发射第四探测光，所述第四探测光经待测区形成第四信号光；
第二频闪光源122，被配置为向待测物110发射第五探测光，所述第五探测光经待测物形成第五信号光，所述第一频闪光源121和第二频闪光源122被配置为多次交替地向所述待测物110发射第四探测光和第五探测光。
第四探测装置111，被配置为多次交替地探测所述第四信号光和第五信号光，获取第四探测信息。
所述检测设备包括第一频闪光源121和第二频闪光源122。由于所述第一频闪光源121和第二频闪光源122被配置为多次交替地向所述待测物110发射第四探测光和第五探测光，第四探测装置111被配置为多次交替地探测所述第四信号光和第五信号光，则能够根据探测时间将第四探测装置111根据第四信号光和第五信号光获取的第一探测信息分离，获取不同通道的第一探测信息。由于时间不会有重叠，从而能够提高检测精度。同时，所述检测设备能够通过一个第四探测装置111获取第四信号光和第五信号光的第一探测信息，从而能够简化检测设备的结构，提高集成度，并能够降低成本。
本实施例中，所述检测设备包括用于放置待测物110的承载面。
所述待测物110包括相对的第一面和第二面，所述第二面用于与所述移动装置接触。
本实施例中，所述第一频闪光源121为明场光源，所述第四探测光经待测物110反射后形成第四信号光；所述第二频闪光源122为背光源，即所述第五探测光穿过所述待测物110，形成第五信号光被第四探测装置111接收。所述第一频闪光源121与第四探测装置111位于所述承载面的同一侧。具体的，所述第一频闪光源121与第四探测装置111位于所述承载面远离移动装置的一侧；所述第二频闪光源122和第四探测装置111分别位于所述承载面两侧，即所述第二频闪光源122位于所述承载面靠近移动装置的一侧。
本实施例中，所述第一频闪光源121和第二频闪光源122交替发光，所述第四探测装置111仅交替探测所述第四信号光和第五信号光。
本实施例中，所述第四探测光和第五探测光的波长相同。所述第四探测光和第五探测光的波长相同，能够简化第四探测装置111的调节难度。在其他实施例中，所述第四探测光和第五探测光的波长可以不相同。
所述第四探测装置111为线探测器，即所述第四探测装置111在待测物110表面的探测区域为线形。具体的，本实施例中，所述探测区域为第四探测装置111拍摄一次图像所拍摄的待测物110表面区域。所述第四探测装置111的探测区沿垂直于所述传送方向贯穿所述待测物110的待测区。
所述第一频闪光源121和第二频闪光源122为线光源，所述第一频闪光源121和第二频闪光源122在待测物110表面形成光斑的延伸方向垂直于传送方向，且光斑沿传送方向贯穿所述待测物110的待测区。在其他实施例中，所述第一频闪光源和第二频闪光源可以为面光源，所述第四探测装置可以为面探测器。
所述第一频闪光源121和第二频闪光源122为线光源，即所述第一频闪光源121和第二频闪光源122的发光面的长度远大于宽度。
本实施例中，所述第一频闪光源121的发光面为平面。平面光源的加工成本低，能够降低检测设备的成本。在其他实施例中，所述第一频闪光源的发光面可以为曲面。
具体的，所述待测物110为手机壳。在其他实施例中，所述待测物可以为平面玻璃。
所述检测设备还包括：处理系统，用于根据第四探测装置111不同时刻的第四探测信息，分别提取第四信号光和第五信号光的第四探测，形成第一图像和第二图像；控制装置，用于向第一频闪光源121和第四探测装置111发送第一频闪触发信号，向第二频闪光源122和第四探测装置111发送第二频闪触发信号。
所述处理系统用于根据所述第一频闪触发信号的触发时间获取第四信号光的第四探测信息形成第一图像，并根据所述第五频闪触发信号的触发时间获取第五信号光的第四探测信息形成第二图像。
触发时间指的是使光源发射探测光或使探测装置获取第四探测信息的时间。
相邻传送装置100与待测物110的接触点之间的最小距离小于待测区沿传送方向尺寸的一半。
本实施例中，所述传送装置100具有一个或多个空隙，所述一个或多个空隙包括第三空隙，所述第二频闪光源122位于承载面靠近所述传送装置的一侧；所述第二探测光用于穿过所述第三空隙到达所述待测物110。
本实施例中，所述第二频闪光源122为背光源，且位于所述承载面靠近移动装置的一侧。所述第五探测光穿过所述第三空隙，照射至待测物110第二面，并透过所述待测物110形成第五信号光，被第四探测装置111接收。
本实施中，所述检测设备还包括：第三光源131，所述第三光源131为弧形光源，所述弧形光源的发光面为弧面，所述弧形光源的弧面朝背离承载面的方向凹陷。
所述第三光源131被配置为向待测物110发射第三探测光，所述第三探测光经待测物110反射形成第三信号光，所述第三光源131与第一频闪光源121分别用于照射待测物110相对的两个表面；第三探测装置112，用于探测所述第三信号光获取第二探测信息。
具体的，本实施例中，所述待测物110包括相对的第一面和第二面，所述第一面和第二面具为弧面；所述第一面为凹面，即所述第一面朝向第二面凹陷；所述第二面为凸面，即所述第二面朝背离第一面的方向凸出。
本实施例中，所述第一频闪光源121的发光面为平面，则所述第一频闪光源121用于照射所述第一面，从而对所述第一面进行检测。
所述第三光源131被配置为向具有至少一个弯曲检测表面的待检测物体提供探测光，所述弯曲检测表面在弯曲方向上至少有两个位置的法线不平行；
第三探测装置112用于采集所述探测光在所述待检测物体沿所述弯曲方向连续的表面的反射光。
本实施例中，所述第一频闪光源121和第三光源131能够实现对弯曲待测物110的双面检测。
所述第三光源131为弧形光源，用于照射凸面，从而对凸面进行检测。由于所述第三光源131为弧形光源，所述弧形光源向凸面发射的第三探测光的传播方向不同，容易保证第三探测光经过凸面反射后形成的第三信号光能够被第三探测装置112接收，从而能够对凸面进行检测。
所述第三探测装置112的镜头的光轴与垂直传送方向的平面之间具有第三锐角夹角。所述第三光源131发射的第四探测光具有对称面，所述对称面与垂直于所述传送方向的平面之间具有第四锐角夹角，所述第四锐角夹角等于第三锐角夹角。
本实施中，所述多个空隙还包括第二空隙。
本实施例中，至少部分第三光源131及所述第三探测装置112位于承载面靠近移动装置的一侧。所述第三探测光穿过所述第二空隙入射至所述待测物110表面。
如果所述第三锐角夹角过大，容易被移动装置遮挡；如果所述第三锐角夹角过小，不利于第三探测装置112和第三光源131的安装。具体的，所述第三锐角夹角为10°~20°。
本实施例中，所述第三光源131的发光面为连续的曲面。即所述第三光源131中间不具有开口，则所述第三光源131能够为待测物110提供强度较均匀的第四探测光，从而能够提高检测精度。
本实施例的检测设备能够实现对待测物110双面的明场和暗场检测，以及背光检测，从而能够对待测物110进行多通道检测，进而提高检测精度，减少缺陷的漏检。
虽然本实用新型披露如上，但本实用新型并非限定于此。任何本领域技术人员，在不脱离本实用新型的精神和范围内，均可作各种更动与修改，因此本实用新型的保护范围应当以权利要求所限定的范围为准。
设计图
相关信息详情
申请码:申请号:CN201920102247.2
申请日:2019-01-18
公开号:公开日:国家:CN
国家/省市:94(深圳)
授权编号:CN209513647U
授权时间:20191018
主分类号:G01N 21/896
专利分类号:G01N21/896
范畴分类:31E;
申请人:深圳中科飞测科技有限公司
第一申请人:深圳中科飞测科技有限公司
申请人地址:518110 广东省深圳市龙华区大浪街道同胜社区上横朗第四工业区2号101、201、301
发明人:李青格乐;陈晓静;方一;陈鲁
第一发明人:李青格乐
当前权利人:深圳中科飞测科技有限公司
代理人:代理机构:代理机构编号:优先权:关键词:当前状态:审核中
类型名称:外观设计
标签：检测设备论文;