论文摘要
采用发射光谱仪建立发射光谱法测定Ta-2.5W和Ta-10W中钨含量的方法。使用高纯氢氧化钽基体的纯钨标准溶液制作工作曲线,钨的分析线为209.475 nm,方法的线性范围为1.25%～15.00%,加标回收率在93.0%～99.0%之间,测定结果的RSD值（n=11）小于0.8%。
论文目录
文章来源
类型: 期刊论文
作者: 郝文婷
关键词: 发射光谱法,钽钨合金
来源: 材料开发与应用 2019年03期
年度: 2019
分类: 工程科技Ⅰ辑
专业: 化学,金属学及金属工艺
单位: 宁夏东方钽业股份有限公司,西北稀有金属材料研究院宁夏有限公司,国家钽铌特种材料工程技术研究中心
分类号: O657.3;TG115
DOI: 10.19515/j.cnki.1003-1545.2019.03.006
页码: 38-40
总页数: 3
文件大小: 93K
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