导读:本文包含了等离子体测量论文开题报告文献综述、选题提纲参考文献及外文文献翻译，主要关键词:等离子体,测量,杂质,天线,密度,双晶,激光。
等离子体测量论文文献综述
徐浩铭,胡光忠,曹修全,吴森尧[1]（2019）在《等离子体测量方法研究现状及其发展趋势》一文中研究指出等离子体是近年来发展的用于优化和强化燃烧的手段,在工程运用中拥有较好的发展前景。为更好的利用等离子体,需要对等离子体进行测量和分析。等离子体的测量手段目前主要有单片机光强测量、电容层析成像技术、激光测量以及常用的探针法、质谱法和光谱法。随着时代的发展和等离子体测量对工程的重要性,现阶段的等离子体测量方法略显不足。为实现对等离子体测量更高的要求,基于机器视觉系统的测量成为等离子体测量的发展趋势。(本文来源于《机械》期刊2019年10期）
高银香[2]（2019）在《电感耦合等离子体发射质谱法测定地球化学样品中钴的测量不确定度评定》一文中研究指出化学分析者就其所从事的分析工作,正受到越来越大的压力要求其证明其结果的质量,特别是通过度量结果的可信度来证明结果的适宜性。这一般包括期望某个结果与其他结果相吻合的程度,通常与所使用的分析方法无关。度量该项内容的一个有用的方法就是测量不确定度。(本文来源于《低碳世界》期刊2019年09期）
杨新帅[3]（2019）在《基于EAST双晶体弯晶谱仪等离子体温度测量的实验研究》一文中研究指出X射线弯晶谱仪是托卡马克装置等离子体的离子温度、电子温度和旋转速度等参数分布测量的重要手段之一,是国内外主要托卡马克上配备的常规手段之一,也是未来聚变堆规划建设的诊断装置。近年来,弯晶谱仪原先基于单光谱测量导致的参数测量范围较窄的问题日益显着。针对这一挑战,EAST装置在国内外较早的开始了双晶体弯晶谱仪的升级研究,分别测量低温段和高温度等离子体参数,从而满足对更高等离子体温度放电条件下的等离子体参数的测量。本论文首先总结了双晶体谱仪的升级情况。EAST装置切向弯晶谱仪诊断系统上安装了双晶体结构,诊断离子为Ar ⅩⅦ和Ar ⅩⅧ离子,选用晶体为Quartz 110和Quartz 102,获得了完整的高质量的Ar ⅩⅦ和Ar ⅩⅧ谱线;在极向弯晶谱仪诊断系统也安装了双晶体结构,诊断离子为Ar ⅩⅦ离子和Fe XXV离子,选用晶体为Quartz 110和Ge 422,获得了完整的高质量的Ar ⅩⅦ离子和Fe ⅩⅩⅤ谱线。根据获得的双晶体谱线测量的等离子体参数具有很好的一致性,可测量10 keV≥Te≥0.5keV范围内的等离子体温度。由于两块晶体组装的复杂性增加,诊断离子的波长范围增大,在高参数实验过程中可能会将金属杂质引入等离子体中,如Mo,Fe,W和Cu等,使得一些波长在Ar ⅩⅦ和Ar ⅩⅧ离子范围内的杂质离子的谱线也被探测器采集到,并与氩光谱重迭在一起,造成光谱的污染。利用双晶体谱线标定了每一条杂质峰的波长,识别出了位于Ar ⅩⅦ谱线Z线旁的高强度杂质峰,即钨离子及其波长,并根据NIST原子光谱数据库总结了在Ar ⅩⅦ和Ar ⅩⅧ离子波长范围内的所有杂质类型和波长,包括一级衍射的钼离子和二级衍射的铁离子。这些杂质峰的出现对用双晶体弯晶谱仪测量等离子体参数提出挑战,因为杂质谱线造成了光谱的污染,使得离子温度和电子温度的测量结果出现较大偏差且误差增大,本论文研究提供了运用双晶体弯晶谱仪测量等离子体参数新的研究思路。(本文来源于《中国科学技术大学》期刊2019-05-14）
张永轩,林剑,刘玲玲,王海凤,庄松林[4]（2019）在《基于局域表面等离子体共振的近场偏振测量》一文中研究指出在近场条件下金纳米粒子能引起光场矢量局部变化,针对金纳米粒子的这一特性,提出了一种检测近场光偏振态的新方法。将半径为50 nm的金纳米小球组成金纳米粒子阵列结构,利用该结构产生一定的光强分布图案,用于检测不同偏振态的光场矢量。利用数值模拟软件FDTD对金纳米粒子阵列结构进行模拟仿真,结果表明,从仿真图案上可以直观地分辨出5种不同偏振态的光场。(本文来源于《光学仪器》期刊2019年02期）
浮海娟,王林军,王宏伟,曹喜光,刘龙祥[5]（2019）在《4H-SiC探测器对强激光等离子体下反应产物的测量》一文中研究指出研制了一款采用PCB(Printed Circuit Board)板封装、直接信号波形采样引出、用于激光等离子体飞行时间测量的4H-SiC探测器,探测器灵敏面积5 mm×5 mm,灵敏层厚度80μm,全耗尽电压为350～600 V。利用标准α源和强激光反应产物对4H-SiC的性能进行了测试:标准α源(~(228)Th,~(226)Ra)的能量刻度表明,4H-SiC探测器具有良好的能量线性响应,能量分辨率达到1.19%@7 666.75 keV,具有2～3 ns的快时间响应和飞行时间离子甄别的功能,是用于强激光等离子体反应产物的离子诊断和能量测量的有力工具。(本文来源于《核技术》期刊2019年02期）
华豹[6]（2018）在《电感耦合等离子体原子发射光谱仪测量有机相中钼等杂质元素的研究》一文中研究指出铀纯化中采用叁相结晶生产工艺,使用磷酸叁丁酯(TBP)作为萃取剂直接结晶析出叁碳酸铀酰铵(俗称黄饼),为了使产品质量达到相关标准的要求,必须对使用磷酸叁丁酯作为萃取剂的试样进行分析,通过中控分析检定试样所含的Mo、Ti、V、W杂质元素的含量。文中使用联合反萃取法处理铀工艺中以磷酸叁丁酯为萃取剂的样品,并结合电感耦合等离子体原子发射光谱仪对铀工艺TBP萃取剂中的钼、钛、钒、钨微量无机元素的测定进行了研究,从而提出了可靠的测定方法。论文主要分为以下几部分:第一部分:对目前测量铀工艺TBP萃取剂中微量元素的方法进行了调研。介绍了电感耦合等离子体发射光谱法分析技术的发展、应用及工作原理。第二部分:文中使用联合反萃取法处理铀工艺中以磷酸叁丁酯为萃取剂的样品,并得出了最佳的反萃条件。第叁部分:利用电感耦合等离子体发射光谱仪测定试样中Mo、Ti、V、W杂质元素的含量,当试样平行测定数量为6个时,方法Mo、Ti、V、W测定结果相对标准偏差依次为1.19%、3.86%、5.19%、6.01%,加标回收率Mo为94%~106%,Ti为87%~96%,V为93%~102%,W为100%~108%。(本文来源于《南华大学》期刊2018-09-01）
刘复麟[7]（2018）在《空气中飞秒激光等离子体丝的激光干涉测量研究》一文中研究指出高峰值功率飞秒激光脉冲在空气中传输时,会形成一种长度远远超过其光学瑞利距离的结构—光丝,人们习惯上称之为飞秒激光成丝现象。飞秒激光成丝以及它所表现出的多种非线性效应无论是对基础物理研究,还是对激光成丝诱导闪电、空气中水的凝聚及雪的形成、大气污染物分析等众多领域都有着极其重要的价值。因此,对于研究飞秒激光成丝的特性,包括成丝电子密度、成丝大小及长度等对于光丝在上述各方面的应用极其重要。本论文基于马赫-曾德激光干涉原理,利用搭建的马赫-曾德激光干涉诊断系统对飞秒激光成丝等离子体的时空分布进行了测量研究,获得了高质量的阴影图及干涉图。通过调节探测光的延迟,获得了激光成丝的电离波前速度。利用二维快速傅利叶变换、相位解缠等方法对马赫-曾德干涉图进行了处理,获得了相移分布及电子密度分布,研究了电子密度随延迟时间的变化规律。首先,对叁种紧聚焦诱导的成丝等离子体进行了测量研究,获得了其在不同时间延迟的阴影图,分析了成丝等离子体内相互作用的机制,探讨了飞秒激光诱导成丝等离子体的传输过程。结果表明,成丝等离子体的长度随着聚焦焦距的增大呈指数增长,且可改变透镜焦距调控成丝的长度。对叁种紧聚焦诱导的成丝等离子体的长度进行了指数拟合并对其电离波前速度进行了测定。然后,通过搭建的马赫-曾德激光干涉诊断系统,首次利用飞秒激光作为干涉光源对飞秒激光成丝等离子体进行了诊断研究,获得了紧聚焦诱导的成丝等离子体在不同延迟时间的干涉图,观察到了干涉条纹有明显的弯曲。利用二维快速傅利叶变换及相位解缠等方法从干涉图中提取出相移分布图及电子密度图。结果表明,经f=75mm聚焦诱导的成丝等离子体的电子密度达到了7×10~(18)cm~(-3)量级,随着延迟时间的增加,相移及电子密度都将随之减小,并发现了等离子体中心位置的相移形成了凹槽状分布。与f=100mm聚焦的情况相比,f=75mm聚焦诱导成丝等离子体电子密度在成丝初期下降得更为迅速。以f=100mm聚焦诱导成丝时,电子密度整体较低,约为3.5×10~(18)cm~(-3)量级。经f=100mm聚焦诱导的成丝等离子体的相移及电子密度的变化趋势与f=75mm聚焦的情况基本一致。由于等离子体的高速膨胀,在等离子体周围都发现了相移的正向突变。通过电子密度的存在区域,估算出f=75mm与f=100mm两种聚焦诱导的成丝等离子体的直径分别约为110μm和90μm。(本文来源于《长春理工大学》期刊2018-06-01）
龚书航[8]（2018）在《复杂颗粒激光诱导等离子体光谱特性及测量参数的优化研究》一文中研究指出激光诱导击穿光谱(Laser induced breakdown spectroscopy,简称LIBS)作为一种新型的原子光谱分析技术,具有非接触、原位、快速、同时多元素检测等独特优势。然而,采用LIBS技术分析复杂颗粒物质时,目前仍缺乏实验工作针对谱线测量参数的优化和等离子产生与演化机理的认识进行系统探讨。本论文以具有复杂颗粒特征的商业食盐为模型样品,开展了纳秒激光诱导的复杂颗粒光谱特性及测量参数优化的研究。通过测量和分析食盐中Ca(800ppm)、Sr(34.1ppm)、Mg(6.4ppm)和Fe(1.7ppm)四种微量元素在250-465nm波段的发射谱线强度、相对标准偏差和信噪比随透镜到样品的距离、激光脉冲累加次数和光谱采集延迟时间的变化规律,建议了一套优化采集复杂颗粒中微量元素分析谱线的测量参数的方法。基于一组优化的测量参数,论证了LIBS技术分析食盐颗粒中以上四种微量元素的谱线稳定性分别好于10%、14%、13%和28%。选取Ca离子谱线(393.37nm)作为分析谱线,获得了一些可表征激光等离子体随光谱采集延迟时间和透镜到样品的距离这两个关键测量参数的变化规律。研究发现:等离子温度和电子密度随光谱采集延迟时间均呈单调下降趋势,且等离子密度相对于温度随时间变化更为迅速;激光焦点处于样品表面以下时,等离子体温度和电子密度随着透镜到样品的距离的增加具有先增加后降低的趋势,这一结果清晰的提供了激光诱导复杂颗粒产生的等离子演化中存在空间屏蔽效应的实验证据;激光焦点处于样品表面以上时,等离子体中的电子密度呈现出随着透镜到样品的距离的增加有回升的趋势,这一实验现象归因于了空气等离子体和颗粒等离子体之间产生了耦合增强效应。本论文获得的研究结果对提升LIBS技术分析复杂微颗粒物质中微量元素的性能提供了一些实验依据和理论探讨。(本文来源于《中国科学院大学(中国科学院近代物理研究所)》期刊2018-06-01）
王健华[9]（2018）在《EAST离子回旋天线测量及天线与边界等离子体相互作用的研究》一文中研究指出离子回旋(ICRF)波加热是目前磁约束核聚变装置中重要的辅助加热手段之一,其对等离子体加热的有效性已经在EAST和其它装置上得到了验证。ICRF天线作为离子回旋系统的重要部件,直接面向等离子体,天线的耦合性能与加热效果受边界等离子体参数的影响,同时,离子回旋天线也对边界等离子体参数分布产生重要的影响。本文旨在研究ICRF天线与边界耦合以及天线与等离子体的相互作用,课题研究工作分为两部分:离子回旋天线阻抗测量系统的搭建与耦合阻抗的测量,以及天线与边界等离子体相互作用的实验及模拟研究。首先,在EAST装置上搭建了一套基于电压探针和电流探针的天线阻抗测量系统,论文对该测量方法原理、测量系统组成部件进行论述。对该测量方法的可能的误差来源做了分析,并模拟了测量误差对测量结果的影响,结果表明:该测量方法对相位精确性要求较高,微小的相位误差(小于2°)导致的阻抗计算结果偏差较大;而对于输入阻抗虚部较小的负载,相位误差引起的阻抗计算偏差较小。在低功率条件下对阻抗测量系统进行了测试,结果表明:对于反射系数模值越大的负载,相对耦合阻抗测量误差越大,对于反射系数大于0.9的负载,相对耦合阻抗误差可能超过100%;相比幅值测量误差,相位测量误差是导致阻抗偏差大的原因,这与误差模拟结果是吻合的。其次,基于功率和传输线电压、电流与相位的固有关系,本文提出了一种利用功率和电压、电流计算相位值,并进一步计算天线阻抗的方法。模拟误差分析表明,改进后的阻抗计算方法对所需物理量的测量精度要求较低:10%的功率测量误差导致的阻抗计算结果偏差小于10%,改进后的阻抗计算算法能够给出较为可靠的阻抗结果。最后,论文以阻抗测量系统为诊断工具,在EAST上开展了 ICRF耦合研究,分析了不同物理参数(芯部电子密度、gap、充气、离子回旋功率等)对天线耦合阻抗的影响,所得到的分析结果与理论值相吻合。通过数值模拟研究了离子回旋功率对边界密度的影响,结果表明,电子在ICRF功率引入的射频鞘及磁场的共同作用下发生漂移,导致密度分布在天线前端呈现极向非对称性;而且当ICRF功率增加时,这种非对称性进一步加剧,使得天线前端平均电子密度降低,由此定性地解释了耦合阻抗与功率的关系。在ICRF功率注入期间天线限制器温度分布显示出在极向的非对称性,并且其随着磁场方向变化而改变,验证了 ICRF功率对边界密度影响的物理机制。(本文来源于《中国科学技术大学》期刊2018-05-08）
杨阳[10]（2018）在《聚变堆面向等离子体材料中氚滞留深度分布测量技术研究》一文中研究指出聚变堆面向等离子体材料中滞留氚的测量是聚变研究领域的重要内容。准确评估面向等离子体材料中氚的含量和深度分布对聚变堆的燃料衡算和安全运行有着重要意义。钨是重要的候选面向等离子体材料之一,因其良好的物理性能和极低的燃料滞留量,很有可能作为未来聚变反应堆的面向等离子体材料使用。但目前针对钨材料中氚测量的实验较少,缺乏成熟、可靠的分析方法,尤其是针对聚变堆真实环境下钨中氚的测量技术研究。在真实聚变堆环境下,面向等离子体材料中氚的测量问题与实验室仅用氚开展实验有很大区别,一方面壁材料在高通量、高能聚变中子的辐照下会产生大量中子活化产物,这些活化产物的β、β射线将会与氚β射线共存,这对当前仅针对氚环境下建立的材料中氚的测量方法提出了新的挑战;另一方面,真实环境下面向等离子体材料表面的氚分布往往是不均匀的,这样的平面非均匀分布也将会影响氚深度分布的测量结果。此外,虽然前期研究中已有使用轫致辐射谱重建氚深度分布的方法(即β射线诱发X射线谱分析法,BIXS),但重建算法中的病态矩阵问题使得反演所得的近似解具有不稳定性,重建结果尚需可靠的实验进行验证。因此,针对上述问题,本论文使用蒙卡模拟方法计算了真实ITER面向等离子体材料(钨)在聚变堆运行条件下的放射性活化情况,并从理论上定量评估了该辐射环境对当前多种氚测量方法的影响;其次,定量评估了氚的二维分布对多种材料中氚测量结果的影响;第叁,基于逐层金属化学蚀刻法建立了钨中氚深度分布测量方法,并获得了深度分布数据。在中子活化产物对氚测量影响研究方面,依据真实30° ITER模型建立蒙卡计算模型,包括包层、偏滤器、真空室及部分外层结构组件,用于计算在真实聚变环境下面向等离子体钨材料不同位置、不同深度处的中子通量谱;然后使用活化计算程序FISPACT计算偏滤器表面钨涂层中的中子活化产物;并使用蒙卡方法结合数值计算方法对存在上述活化核素的钨样品中氚测量方法进行定量评估,评估方法包括:逐层金属化学蚀刻方法(Chemical etching method,CE)、BIXS 方法、成像板测氚技术(Tritium imaging plate,TIP)和量热法(Tritium calorimetry,TC)。结果表明在聚变堆以聚变功率1 GW稳定运行一年的条件下,纯钨涂层中将产生118种活化产物,在偏滤器25 μm深度处,其平均比活度达到了 5.2E14Bq/kg。对测氚方法的影响评估结果表明,活化产物对氚测量的影响主要受停堆后的冷却时间、样品厚度和样品中氚深度分布叁个因素影响。定义影响因子η来表征活化产物对氚测量结果的影响,其数值等于测量结果中活化产物贡献的信号强度除以氚贡献的信号强度。在冷却时间为3～60月时,氚测量结果主要受W-181,W-185,Ta-179和Ta-182四种核素影响。在氚均匀分布的情况下,活化产物对金属化学蚀刻法的影响较小,在冷却时间为3个月时,ηCE=8.9%,在冷却时间为16个月时,ηCE<1%。对BIXS方法的分析表明,以样品厚度0.1 mm,深度分布取线性递减分布为例,停堆3个月后,中子活化产物的探测器测量能谱在ROI(Region of interest,1-16keV)内的计数达到了氚X射线能谱的240倍,该影响会在50个月后减小到10%以下,且当样品厚度增加或氚的分布改变时,该影响会进一步增大。在TIP方法的分析中,停堆3个月后,以线性递减分布为例,ηTIP分别为130,140,140与140,分别对应样品厚度0.1,1,3和5 mm。当样品厚度增加或氚的分布改变时,该影响也会进一步增大。量热法测量结果与氚分布无关,计算结果表明,在冷却时间为3个月,样品厚度分别为0.1,1,3和5 mm时,ηTC值分别为12,140,430和730,并分别在26,40,49与54个月后减小到10%以下。因此在实际测量面向等离子体材料中氚的含量和分布时,需要根据冷却时间和测量精度的要求选择合适的方法。在氚表面二维分布对氚测量影响研究方面,分别评估了二维分布对化学蚀刻法、TIP技术、BIXS方法的影响。结果表明:对于化学蚀刻法,单次蚀刻获取的是当前蚀刻层内氚的总量,二维分布对测量结果无影响。对于TIP技术,测氚成像板利用直接收集氚的β射线的能量来测量氚的含量及分布信息,由于氚的β射线在钨中的射程极短,该方法探测到的氚是分布在钨表面的氚。一般情况下,TIP板二维响应均匀,因此,使用TIP板测量氚表面分布及总量时,氚在材料表面的二维分布对测量结果无影响。在对BIXS方法的分析过程中,由于低能X射线探测器对X射线响应中心对称,因此不同角度的非均匀性不会对结果造成影响。根据真实氚平面分布情况,假设氚分布在距样品表面10μm的区域内,并分别假设沿半径均匀分布、高斯分布、线性分布(包括线性递增和线性递减)和指数分布(包括指数递增和指数递减)六种二维分布模型,使用蒙卡方法,根据真实测量环境建立BIXS模型,模拟计算了该效应对铍、碳、钨样品不同深度处响应谱型的影响。结果表明,在铍和碳中,不同二维分布对响应能谱的强度影响达到了-30～60%,即若不考虑氚二维分布的影响,氚含量重建结果将会出现-30～60%的偏差;而在钨中,该效应的影响达到了-40～100%。此外,在极端氚分布情况下(例如绝大部分氚都集中在样品边缘),该效应还会影响响应能谱谱型,从而进一步增大氚分布重建结果的偏差。此外,本文还针对逐层金属化学蚀刻方法具体的实验流程及实验参数确定进行了实验研究;使用蒙卡方法模拟分析了 BIXS方法的实验参数对测量结果的影响,同时评估了氚的内初致辐射X射线(Internal bremsstrahlung,IB)对BIXS测量结果的影响。首先,本文使用不同浓度的酸溶液对钨样品进行了蚀刻实验,选择了蚀刻速率合适的王水作为钨的侵蚀剂。基于侵蚀剂的选择,对蚀刻封装材料、蚀刻实验参数(包括蚀刻温度、蚀刻时长、侵蚀剂用量、侵蚀剂稀释倍数等)进行了详细的研究和讨论。实验结果表明,在30℃,侵蚀剂用量大于8 ml,蚀刻时长为4小时的条件下,样品蚀刻厚度约为1.2μm,并且当侵蚀剂稀释倍数达到50倍及以上时液闪谱仪可以给出稳定、可靠的测量结果;此外还可以通过调节上述参数满足不同的蚀刻厚度要求。在对BIXS方法的分析中,根据真实实验系统建立了蒙卡模型,通过模拟计算,选择了合适的实验参数。分析结果表明氩气是合适的工作气体,且当氩气压力为1 atm,样品表面距离探测器窗口 6 mm时,探测器能谱可以很好的满足实验需求。此外,评估了碳和钨材料中IB对BIXS测量结果的影响。计算结果表明在碳材料中,IB对氚β射线响应能谱强度的影响达到了 12.6%,即不考虑IB的情况下,氚含量将被高估11.2%,而在钨中,该数值仅为0.95%可以忽略;并且IB对响应能谱谱型的影响很小,可以忽略。最后,基于上述叁种方法,对含氚钨样品进行了亚微米级实验测量,给出了氚在样品中的深度分布及不同深度处的二维分布。实验结果表明,氚在样品中随深度增加近似呈指数衰减分布,且不同深度处氚的二维分布不同。此外,对上述方法给出的结果相互验证,发现其结果一致性较好。通过以上研究,详细评估了在真实聚变堆辐照条件下,中子活化产物和氚的二维分布对氚测量方法的影响,给出了面向等离子体材料中氚测量方法选择的相关建议,可为下一步我国聚变工程实验堆CFETR中氚滞留分析方法的选取提供参考。此外,首次使用逐层化学蚀刻方法对钨中氚的深度分布进行了测量,获得了静态吸附条件下氚在钨中的深度分布数据,该数据可用于验证钨中氚深度分布反演结果,对提高采用无损方法重建的氚深度分布数据的准确性有重要意义。(本文来源于《中国工程物理研究院》期刊2018-04-20）
等离子体测量论文开题报告
（1）论文研究背景及目的
此处内容要求：
首先简单简介论文所研究问题的基本概念和背景，再而简单明了地指出论文所要研究解决的具体问题，并提出你的论文准备的观点或解决方法。
写法范例：
化学分析者就其所从事的分析工作,正受到越来越大的压力要求其证明其结果的质量,特别是通过度量结果的可信度来证明结果的适宜性。这一般包括期望某个结果与其他结果相吻合的程度,通常与所使用的分析方法无关。度量该项内容的一个有用的方法就是测量不确定度。
（2）本文研究方法
调查法：该方法是有目的、有系统的搜集有关研究对象的具体信息。
观察法：用自己的感官和辅助工具直接观察研究对象从而得到有关信息。
实验法：通过主支变革、控制研究对象来发现与确认事物间的因果关系。
文献研究法：通过调查文献来获得资料，从而全面的、正确的了解掌握研究方法。
实证研究法：依据现有的科学理论和实践的需要提出设计。
定性分析法：对研究对象进行“质”的方面的研究，这个方法需要计算的数据较少。
定量分析法：通过具体的数字，使人们对研究对象的认识进一步精确化。
跨学科研究法：运用多学科的理论、方法和成果从整体上对某一课题进行研究。
功能分析法：这是社会科学用来分析社会现象的一种方法，从某一功能出发研究多个方面的影响。
模拟法：通过创设一个与原型相似的模型来间接研究原型某种特性的一种形容方法。
等离子体测量论文参考文献
[1].徐浩铭,胡光忠,曹修全,吴森尧.等离子体测量方法研究现状及其发展趋势[J].机械.2019
[2].高银香.电感耦合等离子体发射质谱法测定地球化学样品中钴的测量不确定度评定[J].低碳世界.2019
[3].杨新帅.基于EAST双晶体弯晶谱仪等离子体温度测量的实验研究[D].中国科学技术大学.2019
[4].张永轩,林剑,刘玲玲,王海凤,庄松林.基于局域表面等离子体共振的近场偏振测量[J].光学仪器.2019
[5].浮海娟,王林军,王宏伟,曹喜光,刘龙祥.4H-SiC探测器对强激光等离子体下反应产物的测量[J].核技术.2019
[6].华豹.电感耦合等离子体原子发射光谱仪测量有机相中钼等杂质元素的研究[D].南华大学.2018
[7].刘复麟.空气中飞秒激光等离子体丝的激光干涉测量研究[D].长春理工大学.2018
[8].龚书航.复杂颗粒激光诱导等离子体光谱特性及测量参数的优化研究[D].中国科学院大学(中国科学院近代物理研究所).2018
[9].王健华.EAST离子回旋天线测量及天线与边界等离子体相互作用的研究[D].中国科学技术大学.2018
[10].杨阳.聚变堆面向等离子体材料中氚滞留深度分布测量技术研究[D].中国工程物理研究院.2018
论文知识图
