相控阵双全法改善缺陷表征

相控阵双全法改善缺陷表征

论文摘要

与常规技术相比,相控阵超声检测(PAUT)优势凸现:速度快,可靠性好,灵敏度高,分辨力优。应对复杂检测,PAUT总是首选技术。随着计算功效强化,新一代超声设备管控大数据能力优化",双全"法-全矩阵捕获(FMC)和全聚焦法(TFM)等先进成像技术,应运而生。结合标准许可的方法使用,这些技术可使缺陷表征大为改善。本文即论证相控阵检测与先进成像法相结合,如何为UT日常应用,强化缺陷表征过程。

论文目录

  • 1 基本原理
  •   1.1 相控阵
  •   1.2"双全"法(FMC+TFM)
  • 2 相控阵线扫与"双全"法成像比照
  •   2.1 仪器灵敏度
  •   2.2 定量性能
  •   2.3 探头分辨率参数
  •   2.4 信号处理分辨率参数
  •   2.5 实际裂纹编码测评比较
  • 3 相控阵S扫与"双全"法成像比照
  • 4 结论
  • 文章来源

    类型: 期刊论文

    作者: 李衍

    关键词: 超声相控阵检测,全矩阵捕获,全聚焦法,缺陷表征,成像质量改善

    来源: 无损探伤 2019年04期

    年度: 2019

    分类: 工程科技Ⅱ辑,工程科技Ⅰ辑

    专业: 金属学及金属工艺

    单位: 无锡市承压设备学会NDT专委会

    分类号: TG115.285

    DOI: 10.13689/j.cnki.cn21-1230/th.2019.04.001

    页码: 1-5+48

    总页数: 6

    文件大小: 1354K

    下载量: 61

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