基于太赫兹时域光谱技术的面粉品质快速无损检测研究

论文摘要

太赫兹(THz)波能够穿透大多数干的介电材料(塑料、陶瓷、衣物等),可实现对带包装物品的质量检测。为了研究THz光谱技术对带包装面粉的无损检测,首先对不带包装面粉进行太赫兹时域谱可行性分析及建模研究。对101份不同种类的面粉样本,用Tera Pulse 4000的太赫兹脉冲光谱仪采集了其太赫兹时域谱,对光谱预处理后,用偏最小二乘法(PLS)算法建立了面粉中3个指标水分、灰分、面筋的定量分析模型。各模型的预测相关系数都在0.89以上,研究结果表明,通过太赫兹时域光谱技术对面粉品质进行无损、快速检测具有可行性,对下一步太赫兹光谱技术直接对带包装的面粉进行检测研究奠定了坚实的基础。

论文目录

• 1 实验部分
•   1.1 实验仪器与设备
•   1.2 样品与光谱采集
•     1.2.1 样本制备
•     1.2.2 光谱采集
• 2 建模分析
•   2.1 面粉水分PLS法定量模型的建立
•   2.2 面粉灰分的PLS法定量模型的建立
•   2.3 面粉面筋的PLS法定量模型的建立
•   2.4 水分、灰分、面筋3种模型的比较
• 3 结论

文章来源

类型: 期刊论文

作者: 刘翠玲,徐莹莹,孙晓荣,邢瑞芯

关键词: 太赫兹,太赫兹时域光谱,面粉,包装

来源: 食品科技 2019年01期

年度: 2019

分类: 工程科技Ⅰ辑

专业: 轻工业手工业

单位: 北京工商大学计算机与信息工程学院食品安全大数据技术北京市重点实验室

基金: 北京市自然科学基金项目(4142012),北京市教委科研计划重点项目(KZ201310011012),北京市教委科技创新平台项目(PXM_2012_014213_000023)

分类号: TS211.7

DOI: 10.13684/j.cnki.spkj.2019.01.055

页码: 321-325

总页数: 5

文件大小: 3929K

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