论文摘要
随着国内科技产业进步,在工业、科技考古及国防方面提出了越来越多的无损检测需求。这些需求不仅体现在对材料本身成分的识别,还体现在对这些组成成分在器件中分布的了解,这是以往检测手段难以做到的。国内唯一一条高亮度白光中子源Back-n的出现使满足这一需求成为现实。在Back-n白光中子源上可以采用CMOS相机、多阳极光电倍增管和气体探测器等系统,进行共振区中子照相。初步的结果显示,这几种方法可以有效识别元素种类和分布,从而做到对待测物品的无损元素检测及分布成像。
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文章来源
类型: 国内会议
作者: 樊瑞睿,李强,谭志新,易晗,高可庆,孙康,敬罕涛,蒋伟,陈永浩,宁常军,封常青,张志永,唐靖宇
关键词: 元素识别,中子照相,无损检测
来源: 中国核学会2019年学术年会 2019-08-20
年度: 2019
分类: 基础科学,工程科技Ⅱ辑
专业: 物理学,物理学,核科学技术
单位: 东莞中子科学中心,西安交通大学,中国科学院大学,中国科学技术大学
分类号: O571.53;O434.1
DOI: 10.26914/c.cnkihy.2019.071381
页码: 165-172
总页数: 8
文件大小: 1438k
下载量: 3
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