全文摘要
本实用新型涉及探测器技术领域，且公开了一种光探测器芯片性能高速测试平台。该光探测器芯片性能高速测试平台，包括底座、两个支撑架和支撑板，所述支撑板包括电动推杆、检测装置和固定装置，所述固定装置位于检测装置的左侧，所述底座包括滑槽、槽口、活动板和转动装置，所述底座的内部为中空结构，所述转动装置的底部与底座的内底部固定连接，所述活动板的外侧与滑槽的内侧活动连接，所述转动装置包括电机、转轮和两个转杆。该光探测器芯片性能高速测试平台，通过设置了电机、转轮、转杆、槽口、固定块、活动板和凹槽，该光探测器芯片性能高速测试平台解决了光电探测器在检测时效率低下的问题。
主设计要求
1.一种光探测器芯片性能高速测试平台，包括底座(1)、两个支撑架(2)和支撑板(3)，所述支撑板(3)包括电动推杆(31)、检测装置(4)和固定装置(5)，所述固定装置(5)位于检测装置(4)的左侧，所述底座(1)包括滑槽(11)、槽口(12)、活动板(6)和转动装置(7)，所述底座(1)的内部为中空结构，所述转动装置(7)的底部与底座(1)的内底部固定连接，所述活动板(6)的外侧与滑槽(11)的内侧活动连接，其特征在于：所述转动装置(7)包括电机(71)、转轮(72)和两个转杆(73)，所述电机(71)的底部与底座(1)的内底部固定连接，所述电机(71)的输出端与贯穿转轮(72)且与转轮(72)固定连接，两个所述转杆(73)的相对一侧分别与转轮(72)的左右两侧固定连接；所述活动板(6)包括七个凹槽(61)、七个插口(62)和七个固定块(63)，所述凹槽(61)开设于活动板(6)的顶部，所述插口(62)开设于活动板(6)的顶部，所述固定块(63)的顶部与活动板(6)的底部固定连接，所述固定块(63)位于凹槽(61)的正下方。
设计方案
1.一种光探测器芯片性能高速测试平台，包括底座(1)、两个支撑架(2)和支撑板(3)，所述支撑板(3)包括电动推杆(31)、检测装置(4)和固定装置(5)，所述固定装置(5)位于检测装置(4)的左侧，所述底座(1)包括滑槽(11)、槽口(12)、活动板(6)和转动装置(7)，所述底座(1)的内部为中空结构，所述转动装置(7)的底部与底座(1)的内底部固定连接，所述活动板(6)的外侧与滑槽(11)的内侧活动连接，其特征在于：所述转动装置(7)包括电机(71)、转轮(72)和两个转杆(73)，所述电机(71)的底部与底座(1)的内底部固定连接，所述电机(71)的输出端与贯穿转轮(72)且与转轮(72)固定连接，两个所述转杆(73)的相对一侧分别与转轮(72)的左右两侧固定连接；
所述活动板(6)包括七个凹槽(61)、七个插口(62)和七个固定块(63)，所述凹槽(61)开设于活动板(6)的顶部，所述插口(62)开设于活动板(6)的顶部，所述固定块(63)的顶部与活动板(6)的底部固定连接，所述固定块(63)位于凹槽(61)的正下方。
2.根据权利要求1所述的光探测器芯片性能高速测试平台，其特征在于：所述底座(1)的顶部与支撑架(2)的底部固定连接，所述支撑架(2)的顶部与支撑板(3)的底部固定连接。
3.根据权利要求1所述的光探测器芯片性能高速测试平台，其特征在于：所述电动推杆(31)的顶部与支撑板(3)的底部固定连接，所述电动推杆(31)位于两个支撑架(2)之间。
4.根据权利要求1所述的光探测器芯片性能高速测试平台，其特征在于：所述检测装置(4)检测探头(41)和两个灯(42)，所述检测探头(41)的顶部与检测装置(4)的底部固定连接，所述灯(42)的顶部与检测装置(4)的底部固定连接，所述检测探头(41)位于两个灯(42)之间。
5.根据权利要求1所述的光探测器芯片性能高速测试平台，其特征在于：所述固定装置(5)包括固定板(51)、固定柱(52)和固定杆(53)，所述固定板(51)的右侧与检测装置(4)的左侧固定连接，所述固定柱(52)的背侧与固定板(51)的正面固定连接，所述固定柱(52)的外侧贯穿固定杆(53)且与固定杆(53)固定连接。
6.根据权利要求1所述的光探测器芯片性能高速测试平台，其特征在于：所述滑槽(11)开设于底座(1)的顶部，所述活动板(6)的外侧与滑槽(11)的内侧活动连接。
7.根据权利要求1所述的光探测器芯片性能高速测试平台，其特征在于：所述槽口(12)开设于滑槽(11)的底部且与底座(1)相连通，所述固定块(63)的底端穿插过槽口(12)且延伸至底座(1)的内部，所述固定块(63)的外侧与槽口(12)的内侧活动连接。
设计说明书
技术领域
本实用新型涉及探测器技术领域，具体为一种光探测器芯片性能高速测试平台。
背景技术
光电探测器的原理是由辐射引起被照射材料电导率发生改变，光电探测器在军事和国民经济的各个领域有广泛用途，芯片作为光电探测器的重要构成部分，在其生产好后需要对其进行检测，而对其进行检测的时候，每次都需要人工取拿芯片进行检测，这样的方式连续性较差，检测效率慢。
实用新型内容
(一)解决的技术问题
针对现有技术的不足，本实用新型提供了一种光探测器芯片性能高速测试平台，具备连续性较好和检测效率快的优点，解决了光电探测器在检测时效率低下的问题。
(二)技术方案
为实现上述连续性较好和检测效率快目的，本实用新型提供如下技术方案：一种光探测器芯片性能高速测试平台，包括底座、两个支撑架和支撑板，所述支撑板包括电动推杆、检测装置和固定装置，所述固定装置位于检测装置的左侧，所述底座包括滑槽、槽口、活动板和转动装置，所述底座的内部为中空结构，所述转动装置的底部与底座的内底部固定连接，所述活动板的外侧与滑槽的内侧活动连接，所述转动装置包括电机、转轮和两个转杆，所述电机的底部与底座的内底部固定连接，所述电机的输出端与贯穿转轮且与转轮固定连接，两个所述转杆的相对一侧分别与转轮的左右两侧固定连接。
所述活动板包括七个凹槽、七个插口和七个固定块，所述凹槽开设于活动板的顶部，所述插口开设于活动板的顶部，所述固定块的顶部与活动板的底部固定连接，所述固定块位于凹槽的正下方。
优选的，所述底座的顶部与支撑架的底部固定连接，所述支撑架的顶部与支撑板的底部固定连接。
优选的，所述电动推杆的顶部与支撑板的底部固定连接，所述电动推杆位于两个支撑架之间。
优选的，所述检测装置检测探头和两个灯，所述检测探头的顶部与检测装置的底部固定连接，所述灯的顶部与检测装置的底部固定连接，所述检测探头位于两个灯之间。
优选的，所述固定装置包括固定板、固定柱和固定杆，所述固定板的右侧与检测装置的左侧固定连接，所述固定柱的背侧与固定板的正面固定连接，所述固定柱的外侧贯穿固定杆且与固定杆固定连接。
优选的，所述滑槽开设于底座的顶部，所述活动板的外侧与滑槽的内侧活动连接。
优选的，所述槽口开设于滑槽的底部且与底座相连通，所述固定块的底端穿插过槽口且延伸至底座的内部，所述固定块的外侧与槽口的内侧活动连接。
与现有技术相比，本实用新型提供了一种光探测器芯片性能高速测试平台，具备以下有益效果：
1、该光探测器芯片性能高速测试平台，通过设置了电机、转轮、转杆、槽口、固定块、活动板和凹槽，将待检测的芯片放置在凹槽的内部后，将活动板放置在滑槽的内部，使左侧的第一个待检测的芯片位于检测探头的正下方后，启动电动推杆使电动推杆向下运动，使检测探头与芯片接触后对芯片进行检测，检测好后，启动电机，使转杆带动检测好的芯片移动到左侧，下一个待检测的芯片移动到检测探头的正下方，通过该装置可以连续的对活动板上的芯片进行检测，大大提高了芯片的检测效率。
2、该光探测器芯片性能高速测试平台，通过设置了电动推杆、固定板、固定柱、固定杆和插口的设置，在对芯片进行检测的时候，电动推杆带动固定杆运动向下运动直至穿插过插口插入到底座的内部，使芯片在检测的时候活动板不能移动，稳定性更好，使检测的时候更加方便。
附图说明
图1为本实用新型结构示意图；
图2为本实用新型活动板的正视图；
图3为本实用新型底座的剖视图；
图4为本实用新型底座的俯视图。
其中：1底座、11滑槽、12槽口、2支撑架、3支撑板、31电动推杆、4检测装置、41检测探头、42灯、5固定装置、51固定板、52固定柱、53固定杆、6活动板、61凹槽、62插口、63固定块、7转动装置、71电机、72转轮、73转杆。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
请参阅图1-4，一种光探测器芯片性能高速测试平台，包括底座1、两个支撑架2和支撑板3，底座1的顶部与支撑架2的底部固定连接，支撑架2的顶部与支撑板3的底部固定连接，支撑板3包括电动推杆31、检测装置4和固定装置5，电动推杆31的顶部与支撑板3的底部固定连接，电动推杆31位于两个支撑架2之间，检测装置4检测探头41和两个灯42，检测探头41的顶部与检测装置4的底部固定连接，灯42的顶部与检测装置4的底部固定连接，检测探头41位于两个灯42之间，灯42为紫外线光源，检测装置4包括电源、电流测试模块和数据显示模块，电源通过导线与检测探针41和待测芯片连接构成回路，检测装置4的工作原理是将活动板6上待测芯片与检测探针41连接，检测探针上41加有电压，与待测芯片形成闭合回路，由于暗电流和光电流是探测器最重要的参数，通过灯42亮时照射芯片测得光电流和灯42不亮时的测的暗电流数据来判定探测器待测芯片本身优劣，固定装置5位于检测装置4的左侧，底座1包括滑槽11、槽口12、活动板6和转动装置7，滑槽11开设于底座1的顶部，活动板6的外侧与滑槽11的内侧活动连接，底座1的内部为中空结构，转动装置7的底部与底座1的内底部固定连接，活动板6的外侧与滑槽11的内侧活动连接，转动装置7包括电机71、转轮72和两个转杆73，电机71的底部与底座1的内底部固定连接，电机71的输出端与贯穿转轮72且与转轮72固定连接，两个转杆73的相对一侧分别与转轮72的左右两侧固定连接，转杆73位于槽口12的正下方，转杆73在转动的时候可与槽口12的内侧活动连接，转轮72每次带动转杆73逆时针转动半圈，使原先位于转轮72上方的固定块63向左移动到左侧，其后方的固定块63移动到转轮72的正上方，通过设置了电机71、转轮72、转杆73、槽口12、固定块63、活动板6和凹槽61，将待检测的芯片放置在凹槽61的内部后，将活动板6放置在滑槽11的内部，使左侧的第一个待检测的芯片位于检测探头41的正下方后，启动电动推杆31使电动推杆31向下运动，使检测探头41与芯片接触后对芯片进行检测，检测好后，启动电机71，使转杆73带动检测好的芯片移动到左侧，下一个待检测的芯片移动到检测探头41的正下方，通过该装置可以连续的对活动板6上的芯片进行检测，大大提高了芯片的检测效率，固定装置5包括固定板51、固定柱52和固定杆53，固定板51的右侧与检测装置4的左侧固定连接，固定柱52的背侧与固定板51的正面固定连接，固定柱52的外侧贯穿固定杆53且与固定杆53固定连接。
活动板6包括七个凹槽61、七个插口62和七个固定块63，凹槽61开设于活动板6的顶部，插口62开设于活动板6的顶部，固定块63的顶部与活动板6的底部固定连接，固定块63位于凹槽61的正下方，槽口12开设于滑槽11的底部且与底座1相连通，固定块63的底端穿插过槽口12且延伸至底座1的内部，固定块63的外侧与槽口12的内侧活动连接，插口62与底座1相连通，每两个凹槽61为等距离设置，每两个插口62之间为等距离设置，每两个固定块63之间为等距离设置，通过设置了电动推杆31、固定板51、固定柱52、固定杆53和插口62的设置，在对芯片进行检测的时候，电动推杆31带动固定杆53运动向下运动直至穿插过插口62插入到底座1的内部，使芯片在检测的时候活动板6不能移动，稳定性更好，使检测的时候更加方便。
在使用时，将待检测的芯片放置在凹槽61的内部后，将活动板6放置在滑槽11的内部，使左侧的第一个待检测的芯片位于检测探头41的正下方后，启动电动推杆31使电动推杆31向下运动，使检测探头41与芯片接触后对芯片进行检测，检测好后，启动电机71，使转杆73带动检测好的芯片移动到左侧，下一个待检测的芯片移动到检测探头41的正下方。
该光探测器芯片性能高速测试平台，通过设置了电机71、转轮72、转杆73、槽口12、固定块63、活动板6和凹槽61，将待检测的芯片放置在凹槽61的内部后，将活动板6放置在滑槽11的内部，使左侧的第一个待检测的芯片位于检测探头41的正下方后，启动电动推杆31使电动推杆31向下运动，使检测探头41与芯片接触后对芯片进行检测，检测好后，启动电机71，使转杆73带动检测好的芯片移动到左侧，下一个待检测的芯片移动到检测探头41的正下方，通过该装置可以连续的对活动板6上的芯片进行检测，大大提高了芯片的检测效率。
其次，该光探测器芯片性能高速测试平台，通过设置了电动推杆31、固定板51、固定柱52、固定杆53和插口62的设置，在对芯片进行检测的时候，电动推杆31带动固定杆53运动向下运动直至穿插过插口62插入到底座1的内部，使芯片在检测的时候活动板6不能移动，稳定性更好，使检测的时候更加方便。
尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。
设计图
相关信息详情
申请码:申请号:CN201920066195.8
申请日:2019-01-16
公开号:公开日:国家:CN
国家/省市:13(河北)
授权编号:CN209624728U
授权时间:20191112
主分类号:G01R 31/28
专利分类号:G01R31/28;G01R1/04
范畴分类:31F;
申请人:河北光森电子科技有限公司
第一申请人:河北光森电子科技有限公司
申请人地址:050000河北省石家庄市鹿泉区鹿岛V谷科技工业园11-12号厂房
发明人:李娜;李宏业
第一发明人:李娜
当前权利人:河北光森电子科技有限公司
代理人:任军培;李婷
代理机构:13130
代理机构编号:优先权:关键词:当前状态:审核中
类型名称:外观设计