模块产品的老化测试装置论文和设计-宋家林

全文摘要

本实用新型提供了一种模块产品的老化测试装置，包括有：核心板与主板；主板包括有待测组，每个待测组有待测模块，每个待测模块有电源接口及功能键；核心板包括单片机、通信串口及切换电路；通信串口与待测模块连接；单片机包括第一路串口、第二路串口及若干GPIO端口，第一路串口与计算机连接，第二路串口和通信串口分别连接至切换电路的两端。本实用新型通过添加单片机，切换电路，实现在不同通信模块之间进行切换，通过将待测模块分成多组而统一控制每组的电源接口、功能键，实现对大量模块的测试，通过连接第一串口与计算机，使一台计算机就可以控制多个模块，因而使得各个装置间的连接更为简单，节约了资源。

主设计要求

1.一种模块产品的老化测试装置，其特征在于，其包括有：核心板与主板，所述核心板设置在所述主板上；所述主板包括有至少一待测组，每个所述待测组都包含有至少一个待测模块，每个所述待测模块都包含有功能键；每一所述待测组中，每个所述待测模块之间的功能键相连接；所述核心板包括单片机、与所述待测模块相等数量的通信串口及切换电路；每个所述通信串口分别与每个所述待测模块相连接；所述单片机包括第一路串口和第二路串口，所述第一路串口与计算机连接，所述第一路串口用于接收所述计算机发送的测试信号；所述第二路串口和所述通信串口分别连接至所述切换电路的两端；所述单片机还包括第一GPIO端口和第二GPIO端口，所述第一GPIO端口用于给所述切换电路发送切换信号以使所述第二路串口切换连接至不同的所述通信串口；所述第二GPIO端口用于向所述功能键发送操作信号。

设计方案

1.一种模块产品的老化测试装置，其特征在于，其包括有：核心板与主板，所述核心板设置在所述主板上；

所述主板包括有至少一待测组，每个所述待测组都包含有至少一个待测模块，每个所述待测模块都包含有功能键；每一所述待测组中，每个所述待测模块之间的功能键相连接；

所述核心板包括单片机、与所述待测模块相等数量的通信串口及切换电路；每个所述通信串口分别与每个所述待测模块相连接；

所述单片机包括第一路串口和第二路串口，所述第一路串口与计算机连接，所述第一路串口用于接收所述计算机发送的测试信号；所述第二路串口和所述通信串口分别连接至所述切换电路的两端；

所述单片机还包括第一GPIO端口和第二GPIO端口，所述第一GPIO端口用于给所述切换电路发送切换信号以使所述第二路串口切换连接至不同的所述通信串口；所述第二GPIO端口用于向所述功能键发送操作信号。

2.如权利要求1所述的模块产品的老化测试装置，其特征在于，所述老化测试装置还包括有操作控制电路，所述操作控制电路设置在所述主板或核心板上，所述操作控制电路连接所述第二GPIO端口与所述功能键；所述操作信号包括电平信号，所述操作控制电路用于接收所述第二GPIO端口输出的电平信号，根据所述电平信号操作所述功能键。

3.如权利要求1所述的模块产品的老化测试装置，其特征在于，每个所述待测模块都包含有电源接口；每一所述待测组中，每个所述待测模块之间的电源接口相连接；

所述单片机还包括有第三GPIO端口，所述老化测试装置还包括若干电源控制电路，所述电源控制电路设置在所述主板或核心板上，所述电源控制电路连接所述第三GPIO端口与所述电源接口；所述电源控制电路用于接收所述第三GPIO端口输出的电平信号，根据所述电平信号将所述电源接口与供电电源导通或断开。

4.如权利要求1所述的模块产品的老化测试装置，其特征在于，所述主板还包括有第一指示灯；

所述第一指示灯与所述第一GPIO端口连接，所述第一指示灯用于在所述第一GPIO端口输出高电平时点亮，在所述第一GPIO端口输出低电平时熄灭。

5.如权利要求1所述的模块产品的老化测试装置，其特征在于，所述主板还包括有第二指示灯；

所述第二指示灯与所述第二GPIO端口连接，所述第二指示灯用于在所述第二GPIO端口输出高电平时点亮，在所述第二GPIO端口输出低电平时熄灭。

6.如权利要求3所述的模块产品的老化测试装置，其特征在于，所述主板还包括有第三指示灯；

所述第三指示灯与所述第三GPIO端口连接，所述第三指示灯用于在所述第三GPIO端口输出高电平时点亮，在所述第三GPIO端口输出低电平时熄灭。

7.如权利要求1所述的模块产品的老化测试装置，其特征在于，所述老化测试装置包括有若干所述核心板，所述单片机还包括有第三串口，所述核心板的单片机之间通过所述第三串口级联。

8.如权利要求1所述的模块产品的老化测试装置，其特征在于，所述功能键包括开机键，每一所述待测组中，每个所述待测模块之间的开机键相连接；所述第二GPIO端口用于向所述开机键发送用于控制所述开机键开关机的操作信号。

9.如权利要求1所述的模块产品的老化测试装置，其特征在于，所述功能键包括复位键，每个所述待测模块之间的复位键相连接；所述第二GPIO端口用于向所述复位键发送用于控制复位键是否复位的操作信号。

设计说明书

技术领域

本实用新型涉及电子工程领域，特别涉及一种模块产品的老化测试装置。

背景技术

在模块产品的研发阶段，在模块产品的出厂之前，需要反复做一些同样的测试来测试所述模块产品的可靠性以及一致性，这种测试称之为老化测试。

目前的测试方法需要一个模块加一块开发板、一台程控电源、一台PC机。测试时先将模块贴片在一块转接板上，然后与开发板连接，由程控电源提供所需电压，计算机主机连接程控电源，控制电压，并连接开发板串口，通过串口测试模块状态。

将每个开发板的电源与程控电源第一路输出连接，开机键与程控电源第二路输出连接，由上位机软件控制电源两路输出的电压值，第一路用于模块供电，第二路用于拉低开机键，在测试正常开、关机试验时需要拉低开机键来完成测试。将开发板的串口与计算机主机的串口连接，如果有异常则记录下来。

目前程控电源的限流一般为4A，对于2G模块来说，峰值电流接近2A，4G模块的峰值也接近1A，所以为了不超过程控电源的电流驱动能力(4A),一般情况下一台程控电源可以测试4个模块，对于老化试验来说，通常情况可能需要几十片甚至上百片，这时就需要大量的程控电源、另外一台计算机只有有限的接口，在产品老化测试中，同样也需要大量的主机来配套测试，占地面积大，连接复杂，并且不方便高低温情况下的老化测试。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题是为了克服现有技术在产品老化测试中，需要大量的配套测试装置，使得占地面积大，各装置间连接复杂，并且测试应用场景有限制的缺陷，提供一种模块产品的老化测试装置。

本实用新型是通过下述技术方案来解决上述技术问题：

本实用新型提供了一种模块产品的老化测试装置，包括有：核心板与主板，所述核心板设置在所述主板上；

所述核心板包括单片机、与所述待测模块相等数量的通信串口及切换电路；每个所述通信串口分别与每个所述待测模块相连接；

较佳地，所述老化测试装置还包括有操作控制电路，所述操作控制电路设置在所述主板或核心板上，所述操作控制电路连接所述第二GPIO端口与所述功能键；所述操作信号包括电平信号，所述操作控制电路用于接收所述第二GPIO端口输出的电平信号，根据所述电平信号操作所述功能键。

较佳地，每个所述待测模块都包含有电源接口；每一所述待测组中，每个所述待测模块之间的电源接口相连接；

较佳地，所述主板还包括有第一指示灯；

所述第一指示灯与所述第一GPIO端口连接，所述第一指示灯用于在所述第一GPIO端口输出高电平时点亮，在所述第一GPIO端口输出低电平时熄灭。

较佳地，所述主板还包括有第二指示灯；

所述第二指示灯与所述第二GPIO端口连接，所述第二指示灯用于在所述第二GPIO端口输出高电平时点亮，在所述第二GPIO端口输出低电平时熄灭。

较佳地，所述主板还包括有第三指示灯；

所述第三指示灯与所述第三GPIO端口连接，所述第三指示灯用于在所述第三GPIO端口输出高电平时点亮，在所述第三GPIO端口输出低电平时熄灭。

较佳地，所述老化测试装置包括有若干所述核心板，所述单片机还包括有第三串口，所述核心板的单片机之间通过所述第三串口级联。

较佳地，所述功能键包括开机键，每一所述待测组中，每个所述待测模块之间的开机键相连接；所述第二GPIO端口用于向所述开机键发送用于控制所述开机键开关机的操作信号。

较佳地，所述功能键包括复位键，每个所述待测模块之间的复位键相连接；所述第二GPIO端口用于向所述复位键发送用于控制复位键是否复位的操作信号。

本实用新型的积极进步效果在于：

本实用新型通过在核心板上添加单片机向待测模块传输信号，通过切换电路将第二路串口切换连接至不同的通信串口，从而克服了现有测试中不能同时测多种模块功能的缺陷，通过将待测模块分成多组，统一控制同一待测组之间的功能键，从而在简化连接的同时起了到高效利用资源的作用，通过第一路串口与计算机连接，达到只需要一台计算机就可以控制多个模块的作用，因而使得整个装置间的连接更为简单，也节约了资源，大大方便了研发人员对模块产品的老化测试。

附图说明

图1为本实用新型实施例1的模块产品老化测试装置的模块示意图。

图2为本实用新型实施例1的模块产品老化测试装置中的核心板的模块示意图。

图3为本实用新型实施例1的模块产品老化测试装置中的部分模块连接示意图。

具体实施方式

下面举个较佳实施例，并结合附图来更清楚完整地说明本实用新型。

实施例1

图1为本实施例的一种模块产品的老化测试装置的模块示意图。所述模块产品老化测试装置包括有：主板1与核心板15，核心板15设置在主板1上。主板1包括有若干待测组，每个所述待测组都包含有若干个待测模块。每个所述待测模块都包含有电源接口及功能键。每一所述待测组中，每个所述待测模块之间的电源接口相连接，每个所述待测模块之间的功能键相连接。

本实施例中，主板1包括有4个待测组，分别为待测组11、待测组12、待测组13及待测组14，每个所述待测组都包含有4个待测模块，总共包含有16个待测模块；实际中，所述待测组的数量及每个所述待测组所包含的待测模块的数量可以根据实际情况自行选择。

本实施例中所述功能键包括有开机键及复位键，如图1所示，待测模块101包含有电源接口a11、开机键b11及复位键c11；待测模块102包含有电源接口a12、开机键b12及复位键c12；待测模块103包含有电源接口a13、开机键b13及复位键c13；待测模块104包含有电源接口a14、开机键b14及复位键c14。

如图1所示，待测组11中的电源接口a11、电源接口a12、电源接口a13、电源接口a14通过控制线a1相连以进行统一控制，待测组11中的开机键b11、开机键b12、开机键b13、开机键b14通过控制线b1相连以进行统一控制，待测组11中的复位键c11、复位键c12、复位键c13、复位键c14通过控制线c1相连以进行统一控制。

本实施例中，通过将同组测试模块间的电源接口、开机键、复位键统一控制，从而实现简化操作、节约检测仪器装置的目的，从而使老化测试装置中不同构件之间的连接更为简单，更方便测试人员使用。

图2为所述模块产品的老化测试装置中的核心板15的模块示意图。如图2所示，核心板15中包括有单片机153、与所述待测模块相等数量的通信串口151及切换电路152；本实施例中一共包括有16个通信串口151；实际中通信串口的数量需要根据实际中的待测模块的数量去设置。

其中，单片机153包括有第一路串口1531和第二路串口1532；第一路串口1531与计算机16连接，第一路串口1531用于接收计算机16发送的测试信号；第二路串口1532和通信串口151分别连接至切换电路152的两端。所述单片机可以根据所述测试信号生成相应的切换信号和操作信号。

单片机153还包括若干第一GPIO端口1534和若干第二GPIO端口1536及若干第三GPIO端口1535。第一GPIO端口1534用于给切换电路152发送切换信号以使第二路串口1532切换连接至不同的通信串口151；本实施例中，包括有5路第一GPIO端口，其中4路用于在不同的通信串口151之间切换，一路用于置于悬空状态，不与通信串口151连接。

其中，该老化测试装置还包括有操作控制电路(图中未示出)，所述操作控制电路既可以设置在主板1上，也可以设置在核心板15上，实践中为了PCB的走线方便，优选设置于主板1上。

所述操作控制电路连接第二GPIO端口1536与所述待测组的功能键；所述操作信号包括电平信号，所述操作控制电路用于接收第二GPIO端口1536输出的电平信号，根据所述电平信号操作所述功能键。本实施例中，包括有8路所述第二GPIO端口，其中，4路第二GPIO端口用于向所述开机键发送用于控制所述开机键开关机的操作信号，另外4路第二GPIO端口用于向所述复位键发送用于控制复位键是否复位的操作信号。

所述操作控制电路的具体结构根据功能键执行各种操作的触发条件进行设计，通常可包含将所述电平信号转换为相应触发条件的具体转换电路。

所述若干GPIO端口还包括有若干第三GPIO端口1535及若干电源控制电路(图中未示出)，所述电源控制电路既可以设置在主板1上，也可以设置在核心板15上，实践中为了PCB的走线方便，优选设置于主板1上。

所述电源控制电路连接第三GPIO端口1535与所述电源接口；所述电源控制电路用于接收第三GPIO端口1535输出的电平信号，根据所述电平信号将所述电源接口与供电电源导通或断开。其中，所述供电电源可以为大功率的电源。本实施例中，包括有4路所述第三GPIO端口。所述电源控制电路可以为P-MOS管、三极管、开关等，具体第三路控制电路的具体实现方式需要根据实际情况进行选择。

为了同时测试更多的模块，所述老化测试装置包括有若干所述核心板，每个所述核心板分别对应连接若干个待测模块。为此，本实施例中单片机153还包括有第三路串口1533，若干所述核心板的单片机之间通过所述第三串口1533级联。实际中，核心板的数量可以根据测试需求添加或者减少。

为了便于监控电路的状态，主板1还可以包括有第一指示灯、第二指示灯和第三指示灯；所述第一指示灯与第一GPIO端口1534连接，所述第一指示灯用于在所述第一GPIO端口1534输出高电平时点亮，在第一GPIO端口1534输出低电平时熄灭；所述第二指示灯与第二GPIO端口1536连接，所述第二指示灯用于在第二GPIO端口1536输出高电平时点亮，在第二GPIO端口1536输出低电平时熄灭；所述第三指示灯与第三GPIO端口1535连接，所述第三指示灯用于在第三GPIO端口1535输出高电平时点亮，在第三GPIO端口1535输出低电平时熄灭。

图3为实施例某摸块产品的老化测试装置的部分模块连接图，如图3所示，a1为统一控制待测组11的电源接口的控制线、b1统一控制待测组11的开机键的控制线、c1为统一控制待测组11的复位键的控制线，相应的，a2、a3、a4分别为统一控制待测组12、待测组13、待测组14的电源接口的控制线，b2、b3、b4分别为统一控制待测组12、待测组13、待测组14的开机键的控制线，c2、c3、c4分别为统一控制待测组12、待测组13、待测组14的复位键的控制线。所述电源接口与第三GPIO端口1535相连，所述功能键与第二GPIO端口1536相连。

本实施例中，通过切换电路，控制第一GPIO端口与不同的通信串口连接，通过对电源接口及功能键的统一控制，通过第二GPIO端口对功能键的控制，通过第三GPIO端口对电源接口的控制，从而实现在不同的待测模块，不同的待测模块上的不同的电源接口、不同的功能键之间的切换，从而实现在连接相对简单的情况下，对大量待测模块老化进行测试，从而使得只需要1个计算机就可以控制大量的模块，使得整体测试装置占地面积小、连接简单、并且能够满足不同场合下测试的需求。

虽然以上描述了本实用新型的具体实施方式，但是本领域的技术人员应当理解，这仅是举例说明，本实用新型的保护范围是由所附权利要求书限定的。本领域的技术人员在不背离本实用新型的原理和实质的前提下，可以对这些实施方式做出多种变更或修改，但这些变更和修改均落入本实用新型的保护范围。

设计图

模块产品的老化测试装置论文和设计

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