磁力显微镜图像量化分析方法的研究

磁力显微镜图像量化分析方法的研究

论文摘要

磁力显微镜(magnetic force microscope,MFM)因测量不破坏样品、样品无需特别制备、以及纳米尺度的分辨率(10~50 nm)等优势,而广泛应用于各种磁性材料中磁畴结构的研究,尤其成为磁记录工业中研究磁介质和磁头的磁畴结构或磁场分布的有力工具。但是,标准MFM图像实际上是磁场力的二阶梯度图,而如何定量分析MFM图像、得到样品内部的磁矩分布信息,是近年来MFM研究领域迫切需要解决的问题,也是当前研究的热点。本文通过构筑精确的MFM成像理论发展一种磁力显微镜量化分析方法,为磁信息存储工业等重要领域关键技术的发展提供新型有力的工具。本文的关键在于构建MFM针尖的三维格林函数,通过格林函数方法解卷积MFM图像,获取样品中的有效磁荷结构。其次,建立和实际样品相符的微磁学模型,以有效磁荷驱动磁畴、畴壁的运动,构筑样品内部真实的磁畴结构,由此完成对MFM图像的量化解释。

论文目录

  • 1 MFM图像量化分析理论的研究
  •   1.1 MFM探针的格林函数
  •   1.2 MFM图像的量化分析
  • 2 样品的磁力显微镜测试
  • 3 实验结果和讨论
  • 4 结论
  • 文章来源

    类型: 期刊论文

    作者: 陈嘉树,海广田,范宏裕,杨思浩,李正华

    关键词: 磁畴结构,去卷积,磁力显微镜,微磁学

    来源: 电子显微学报 2019年04期

    年度: 2019

    分类: 信息科技,工程科技Ⅱ辑

    专业: 仪器仪表工业,计算机软件及计算机应用

    单位: 大连民族大学物理与材料工程学院

    基金: 国家自然科学基金资助项目(No.61771092),辽宁省自然科学基金(2015020072),大连民族大学自主科研基金(wd01153),大连民族大学2018年度大学生创新创业训练计划(201812026354)

    分类号: TP391.41;TH742

    页码: 376-383

    总页数: 8

    文件大小: 1230K

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