一种高温测试分选机论文和设计-王体

全文摘要

本实用新型公开了一种高温测试分选机，包括转塔取放模组、中转冷却模组、高温取放模组、移动平台模组、器件送料模组、纠正及测试工位、成品输出模组和设备电器柜，将机器分为器件投放区域、常温测试区域、中转冷却区域、平台移动区域、高温测试区域、冷却测试区域、打标副盘区域、外观检测区域、编带输出区域等，使半导体电子元器件在同一台设备上，通过机械的取放机构，实现了常温电性测试、高温电性测试、冷却电性测试、激光打标、外观检测、分选分类、编带封装等工序。通过实施本实用新型，将原本需要多种测试设备完成功能集成在一台设备上完成，提高了生产效率，节约了成本。

主设计要求

1.一种高温测试分选机，包括转塔取放模组、中转冷却模组、高温取放模组、移动平台模组、器件送料模组、纠正及测试工位、成品输出模组和设备电器柜，其特征在于，所述转塔取放模组设置在设备电器柜的设备工作台面的中心处，由真空吸嘴机构与独立伺服下压机构组合而成，真空吸嘴机构通过固定连接在设备工作台面上的取放DDR电机系统和取放DDR电机系统输出轴上固定的真空分配机构和取料吸嘴机构组成，所述独立伺服下压机构通过固定在设备工作台面上的主转塔支撑组固定在取料吸嘴机构的正上方；所述中转冷却模组位于转塔取放模组和高温取放模组之间设置，中转冷却模组由中转DDR电机系统、中转载盘机构、风冷机构组成，所述中转DDR电机系统固定在设备工作台面上，输出轴竖直朝上，输出轴上固定有中转载盘机构和风冷机构，中转载盘机构为圆盘结构，顶部边缘均匀设有八个工位，每个工位设计有带料的定位导模，中转载盘机构上对称位置设有两个取放工位，分别对应于转塔取放模组和高温取放模组，取放工位外侧设有取放检查装置，中转载盘机构从高温取放模组转向转塔取放模组的一侧三个工位正上方通过支架固定连接有三个冷却风嘴，冷却风嘴通过分配机构连接有气源构成了风冷却装置；所述高温取放模组通过副塔支撑组的立柱和横梁将高温独立下压机构和高温DDR电机系统固定连接在设备工作台面并且悬空，高温DDR电机系统的输出轴朝下，输出轴上固定连接有高温取料吸嘴机构，高温独立下压机构压杆位于高温取料吸嘴机构的吸嘴正上方；所述移动平台模组由XY两套伺服直线运动机构、支撑载台装置、加热控制装置和高温储存装置组成，支撑载台装置固定在XY两套伺服直线运动机构上，XY两套伺服直线运动机构的伺服电机控制支撑载台装置移动，支撑载台装置的顶面固定连接有加热控制装置和高温储存装置；所述纠正及测试工位由定位修正装置、转向纠正装置、电性测试装置、高温定位装置、高温测试装置、视像检测装置和极性测试装置组成，所述定位修正装置、转向纠正装置、电性测试装置、高温定位装置、高温测试装置、视像检测装置和极性测试装置有固定在三维位置调整底座上的工作部位组成。

设计方案

所述中转冷却模组位于转塔取放模组和高温取放模组之间设置，中转冷却模组由中转DDR电机系统、中转载盘机构、风冷机构组成，所述中转DDR电机系统固定在设备工作台面上，输出轴竖直朝上，输出轴上固定有中转载盘机构和风冷机构，中转载盘机构为圆盘结构，顶部边缘均匀设有八个工位，每个工位设计有带料的定位导模，中转载盘机构上对称位置设有两个取放工位，分别对应于转塔取放模组和高温取放模组，取放工位外侧设有取放检查装置，中转载盘机构从高温取放模组转向转塔取放模组的一侧三个工位正上方通过支架固定连接有三个冷却风嘴，冷却风嘴通过分配机构连接有气源构成了风冷却装置；

所述高温取放模组通过副塔支撑组的立柱和横梁将高温独立下压机构和高温DDR电机系统固定连接在设备工作台面并且悬空，高温DDR电机系统的输出轴朝下，输出轴上固定连接有高温取料吸嘴机构，高温独立下压机构压杆位于高温取料吸嘴机构的吸嘴正上方；

所述移动平台模组由XY两套伺服直线运动机构、支撑载台装置、加热控制装置和高温储存装置组成，支撑载台装置固定在XY两套伺服直线运动机构上，XY两套伺服直线运动机构的伺服电机控制支撑载台装置移动，支撑载台装置的顶面固定连接有加热控制装置和高温储存装置；

所述纠正及测试工位由定位修正装置、转向纠正装置、电性测试装置、高温定位装置、高温测试装置、视像检测装置和极性测试装置组成，所述定位修正装置、转向纠正装置、电性测试装置、高温定位装置、高温测试装置、视像检测装置和极性测试装置有固定在三维位置调整底座上的工作部位组成。

2.根据权利要求1所述的高温测试分选机，其特征在于，所述器件送料模组由振动送料器、器件储放碗、气动送料轨道和高速分离机构组成。

3.根据权利要求1所述的高温测试分选机，其特征在于，所述成品输出模组由打标副盘模组、定位修正装置、3D5S检测装置、集中分料装置和编带封装模组组成，所述打标副盘模组转盘分为四工位，每工位设计有带料的定位导模，在副盘的工位上布置有激光打标机，以及打标印字视觉检测装置，所述3D5S检测装置由CCD高速工业和调整机构组成，所述编带封装模组通过热压封装将器件封装在载带和盖带之间。

4.根据权利要求1所述的高温测试分选机，其特征在于，所述器件送料模组的器件储放碗顶部安装有静电消除风扇。

5.根据权利要求1所述的高温测试分选机，其特征在于，所述设备电器柜内安装有设备控制模块和设备的驱动电源及气源。

设计说明书

技术领域

本实用新型涉及一种半导体领域，具体是一种高温测试分选机。

背景技术

由于现代社会发展的需要，电子装置变的越来越复杂，能够适应多种环境，这就要求了电子元器件不仅具有良好性能与可靠性，而且要求能够适用各种温度环境状态下正常使用。然而，常规的各类半导体分立器件测试打标分选的加工方法，只能处在常温状态下进行各类性能检测，通常只能在室内常温环境内进行半导体电子元器件性能测试，因机械设计、材料结构、工艺技术等限制，无法将半导体电子元器件进行高温状态测试。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种高温测试分选机，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：

一种高温测试分选机，公开了一种采用采用了多套先进的DDR电机与实时控制组成器件传送和测试系统，包括转塔取放模组、中转冷却模组、高温取放模组、移动平台模组、器件送料模组、纠正及测试工位、成品输出模组和设备电器柜，所述转塔取放模组设置在设备电器柜的设备工作台面的中心处，由真空吸嘴机构与独立伺服下压机构组合而成，真空吸嘴机构通过固定连接在设备工作台面上的取放DDR电机系统和取放DDR电机系统输出轴上固定的真空分配机构和取料吸嘴机构组成，通过取放DDR电机系统带动真空分配机构和取料吸嘴机构转动吸取器件，并带动器件转动，依次经过圆型卫星状分布在转塔取放模组周围的各个工位，进行测试分选，所述独立伺服下压机构通过固定在设备工作台面上的主转塔支撑组固定在取料吸嘴机构的正上方，通过电气转换系统驱动独立伺服下压机构将对应工位上的取料吸嘴下压，用于取放器件，转塔取放模组从器件送料模组提取器件后传送至常温测试工位，进行常温测试后通过中转冷却模组转运至高温取放模组进行高温测试；

所述中转冷却模组位于转塔取放模组和高温取放模组之间设置，中转冷却模组由中转DDR电机系统、中转载盘机构、风冷机构组成，所述中转DDR电机系统固定在设备工作台面上，输出轴竖直朝上，输出轴上固定有中转载盘机构和风冷机构，中转载盘机构为圆盘结构，顶部边缘均匀设有八个工位，每个工位设计有带料的定位导模，中转载盘机构上对称位置设有两个取放工位，分别对应于转塔取放模组和高温取放模组，取放工位外侧设有取放检查装置，用于定位器件位置，中转载盘机构从高温取放模组转向转塔取放模组的一侧三个工位正上方通过支架固定连接有三个冷却风嘴，冷却风嘴通过分配机构连接有气源构成了风冷却装置，通过冷却风嘴对器件进行吹风冷却，用于将经过常温测试的器件转运到高温取放模组上，并且将高温测试后的器件冷却并转运回转塔取放模组上，并通过转塔取放模组转运至冷却后测试工位进行高温测试，进行冷却后测试；

所述高温取放模组通过副塔支撑组的立柱和横梁将高温独立下压机构和高温DDR电机系统固定连接在设备工作台面并且悬空，高温DDR电机系统的输出轴朝下，输出轴上固定连接有高温取料吸嘴机构，高温独立下压机构压杆位于高温取料吸嘴机构的吸嘴正上方，通过控制高温独立下压机构和高温取料吸嘴机构的下压和取放，将原件从中转冷却模组的中转载盘机构上取出，并放入移动平台模组的高温储存装置中，进行器件加热煲温，同时将会取出加热煲温时间最久的那颗器件，将其送入高温测试工位中，进行电性测试，系统根据前工序收集到的高温电性参数信息，将测试参数不良品器件进行抛弃回收处理，将合格器件送入成品输出模组进行打标封装；

所述移动平台模组由XY两套伺服直线运动机构、支撑载台装置、加热控制装置和高温储存装置组成，支撑载台装置固定在XY两套伺服直线运动机构上，XY两套伺服直线运动机构的伺服电机控制支撑载台装置移动，支撑载台装置的顶面固定连接有加热控制装置和高温储存装置，高温储存装置通过加热控制装置控制加热温度，对高温存储装置内的器件加热；

所述纠正及测试工位由定位修正装置、转向纠正装置、电性测试装置、高温定位装置、高温测试装置、视像检测装置和极性测试装置组成，所述定位修正装置、转向纠正装置、电性测试装置、高温定位装置、高温测试装置、视像检测装置和极性测试装置有固定在三维位置调整底座上的工作部位组成，通过设置在各个工位的工作部位检测和调整器件位置，对器件进行测试并记录数据。

作为本实用新型进一步的方案：所述成品输出模组由打标副盘模组、定位修正装置、DS检测装置、集中分料装置和编带封装模组组成，所述打标副盘模组转盘分为四工位，每工位设计有带料的定位导模，在副盘的工位上布置有激光打标机，以及打标印字视觉检测装置。当吸嘴将器件放入打标副盘定位导模中，再从下一定位导模中，提取经打标副盘激光打标和打标视觉检测的器件，所述DS检测装置由CCD高速工业和调整机构组成，通过调整机构调节镜头位置和辅助光源，使CCD高速工业相机对吸嘴上带的器件进行五面的外观检测，记录信息数据，所述集中分料装置通过前工序收集到的电性参数与视觉外观检测信息，将吸嘴上的器件进行集中分档分类处理，所述编带封装模组通过热压封装将器件封装在载带和盖带之间，并收卷，完成成品包装。

作为本实用新型进一步的方案：所述器件送料模组由振动送料器、器件储放碗、气动送料轨道和高速分离机构组成，通过振动送料器将器件储放碗中的器件送到气动送料轨道，并通过气动送料轨道将器件送至高速分离机构分离，通过转塔取放模组从高速分离机构的输出端取件。

作为本实用新型进一步的方案：所述器件送料模组的器件储放碗顶部安装有静电消除风扇，减少静电对半导体器件检测的影响。

作为本实用新型再进一步的方案：所述设备电器柜内安装有设备控制模块和设备的驱动电源及气源，通过控制电源及气源的输出，使得各个模组协同运作，完成工序。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：将机器分为器件投放区域、常温测试区域、中转冷却区域、平台移动区域、高温测试区域、冷却测试区域、打标副盘区域、外观检测区域、编带输出区域等，使半导体电子元器件在同一台设备上，通过机械的取放机构，实现了常温电性测试、高温电性测试、冷却电性测试、激光打标、外观检测、分选分类、编带封装等工序。通过实施本发明，将原本需要多种测试设备完成功能集成在一台设备上完成，提高了生产效率，节约了成本。

附图说明

图1为高温测试分选机的结构示意图。

图2为高温测试分选机中工位分布的结构示意图。

图3为高温测试分选机中转塔取放模组的结构示意图。

图4为高温测试分选机中中转冷却模组的结构示意图。

图5为高温测试分选机中高温取放模组的结构示意图。

图6为高温测试分选机中移动平台模组的结构示意图。

图7为高温测试分选机中器件送料模组的结构示意图。

图8为高温测试分选机中视像检测装置的结构示意图。

图9为高温测试分选机中转向纠正装置的结构示意图。

图10为高温测试分选机中电性测试装置的结构示意图。

图11为高温测试分选机中定位修正装置的结构示意图。

图12为高温测试分选机中高温定位装置的结构示意图。

图13为高温测试分选机中高温测试装置的结构示意图。

图14为高温测试分选机中电路连接示意图。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

请参阅图1～14，本实用新型实施例中，一种高温测试分选机，公开了一种采用采用了多套先进的DDR电机与实时控制组成器件传送和测试系统，包括转塔取放模组1、中转冷却模组2、高温取放模组3、移动平台模组4、器件送料模组5、纠正及测试工位6、成品输出模组7和设备电器柜8，所述转塔取放模组1设置在设备电器柜8的设备工作台面81的中心处，由真空吸嘴机构11与独立伺服下压机构12组合而成，真空吸嘴机构11通过固定连接在设备工作台面81上的取放DDR电机系统111和取放DDR电机系统111输出轴上固定的真空分配机构112和取料吸嘴机构113组成，通过取放DDR电机系统111带动真空分配机构112和取料吸嘴机构113转动吸取器件，并带动器件转动，依次经过圆型卫星状分布在转塔取放模组1周围的各个工位，进行测试分选，所述独立伺服下压机构12通过固定在设备工作台面81上的主转塔支撑组121固定在取料吸嘴机构113的正上方，通过电气转换系统122驱动独立伺服下压机构12将对应工位上的取料吸嘴下压，用于取放器件，转塔取放模组1从器件送料模组5提取器件后传送至常温测试工位61，进行常温测试后通过中转冷却模组2转运至高温取放模组3进行高温测试；

所述中转冷却模组2位于转塔取放模组1和高温取放模组3之间设置，中转冷却模组2由中转DDR电机系统21、中转载盘机构22、风冷机构23组成，所述中转DDR电机系统21固定在设备工作台面81上，输出轴竖直朝上，输出轴上固定有中转载盘机构22和风冷机构23，中转载盘机构22为圆盘结构，顶部边缘均匀设有八个工位，每个工位设计有带料的定位导模，中转载盘机构22上对称位置设有两个取放工位，分别对应于转塔取放模组1和高温取放模组3，取放工位外侧设有取放检查装置24，用于定位器件位置，中转载盘机构22从高温取放模组3转向转塔取放模组1的一侧三个工位正上方通过支架固定连接有三个冷却风嘴，冷却风嘴通过分配机构连接有气源构成了风冷却装置23，通过冷却风嘴对器件进行吹风冷却，用于将经过常温测试的器件转运到高温取放模组3上，并且将高温测试后的器件冷却并转运回转塔取放模组1上，并通过转塔取放模组1转运至冷却后测试工位63进行高温测试，进行冷却后测试；

所述高温取放模组3通过副塔支撑组31的立柱和横梁将高温独立下压机构32和高温DDR电机系统33固定连接在设备工作台面81并且悬空，高温DDR电机系统33的输出轴朝下，输出轴上固定连接有高温取料吸嘴机构34，高温独立下压机构32压杆位于高温取料吸嘴机构34的吸嘴正上方，通过控制高温独立下压机构32和高温取料吸嘴机构34的下压和取放，将原件从中转冷却模组2的中转载盘机构22上取出，并放入移动平台模组4的高温储存装置44中，进行器件加热煲温，同时将会取出加热煲温时间最久的那颗器件，将其送入高温测试工位62中，进行电性测试，系统根据前工序收集到的高温电性参数信息，将测试参数不良品器件进行抛弃回收处理，将合格器件送入成品输出模组7进行打标封装；

所述移动平台模组4由XY两套伺服直线运动机构42、支撑载台装置42、加热控制装置43和高温储存装置44组成，支撑载台装置42固定在XY两套伺服直线运动机构42上，XY两套伺服直线运动机构42的伺服电机控制支撑载台装置42移动，支撑载台装置42的顶面固定连接有加热控制装置43和高温储存装置44，高温储存装置44通过加热控制装置43控制加热温度，对高温存储装置44内的器件加热；

所述成品输出模组7由打标副盘模组71、定位修正装置61、3D5S检测装置72、集中分料装置73和编带封装模组74组成，所述打标副盘模组71转盘分为四工位，每工位设计有带料的定位导模，在副盘的工位上布置有激光打标机，以及打标印字视觉检测装置。当吸嘴将器件放入打标副盘定位导模中，再从下一定位导模中，提取经打标副盘激光打标和打标视觉检测的器件，所述3D5S检测装置72由CCD高速工业和调整机构组成，通过调整机构调节镜头位置和辅助光源，使CCD高速工业相机对吸嘴上带的器件进行五面的外观检测，记录信息数据，所述集中分料装置73通过前工序收集到的电性参数与视觉外观检测信息，将吸嘴上的器件进行集中分档分类处理，所述编带封装模组74通过热压封装将器件封装在载带和盖带之间，并收卷，完成成品包装；

所述纠正及测试工位6由定位修正装置61、转向纠正装置62、电性测试装置63、高温定位装置64、高温测试装置65、视像检测装置66和极性测试装置67组成，所述定位修正装置61、转向纠正装置62、电性测试装置63、高温定位装置64、高温测试装置65、视像检测装置66和极性测试装置67有固定在三维位置调整底座上的工作部位组成，通过设置在各个工位的工作部位检测和调整器件位置，对器件进行测试并记录数据；

所述器件送料模组5由振动送料器51、器件储放碗52、气动送料轨道53和高速分离机构54组成，通过振动送料器51将器件储放碗52中的器件送到气动送料轨道53，并通过气动送料轨道53将器件送至高速分离机构54分离，通过转塔取放模组1从高速分离机构54的输出端取件；

所述器件送料模组5的器件储放碗52顶部安装有静电消除风扇，减少静电对半导体器件检测的影响；

所述设备电器柜8内安装有设备控制模块和设备的驱动电源及气源，通过控制电源及气源的输出，使得各个模组协同运作，完成工序。

本实用新型的工作原理是：转塔取放模组1、中转冷却模组2和高温取放模组3将器件从器件送料模组5、数据收集区域、常温测试区域、中转冷却模组2、移动平台模组4、高温测试区域、中转冷却模组2、冷却后测试区域、打标包装区域，依次运转测试分选，数据收集区域共有三个工位，三个工位依次对应视像检测装置66、极性测试装置67和转向纠正装置62，通过视像检查装置66进行视像检查，判断器件在吸嘴上的方向及位置，为后工序处理收集数据，然后通过转塔吸嘴带器件传送至极性测试装置67，极性测试装置对吸嘴上的料件进行极性测试判断，确定其在吸嘴上的方向，记录信息数据，最后通过转塔吸嘴带器件传送至转向纠正装置62，转向纠正装置62根据前工序收集到的信息数据，对器件的方向位置纠正处理，使吸嘴上每一个器件方向位置一致，常温测试区域有四个工位，分别对应三个电性测试装置63和一个定位修正装置61，电性测试装置63根据器件产品的测试要求，测试电性参数并收集记录信息数据，根据器件产品的性能与产能要求，能够进行单工位测试和多工位测试，方便客户测试配置拓展，测试完成后通过定位修正装置61进行定位修正，避免转塔吸嘴带的器件在传送过程中的位置偏离，确保位置的唯一性，方便中转冷却模组2转运，高温测试区域由三个工位组成，依次为一个高温定位装置64和两个高温测试装置65组成，纠正转运后的器件位置偏移，并测试热煲后得器件产品的电性参数，并收集记录信息数据，冷却后测试区域依次有一个定位修正装置61和两个电性测试装置63装置组成，用于纠正转运后的器件位置偏移后测试器件加热冷却后的电性参数，并收集记录信息数据，打标包装区域依次由打标副盘模组71、定位修正装置61、3D5S检测装置72、集中分料装置73和编带封装模组74六个工位组成。

尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换，凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

设计图

一种高温测试分选机论文和设计

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